闪德半导体推出SSD高温BIT老化测试设备PCT300

在SSD生产与质量控制过程中，高温老化测试是保障产品长期可靠性的关键环节。许多固态产品企业面临着测试周期长、流程复杂、却必须确保结果准确稳定的双重压力。测试环节不仅直接关系到产品出厂良率，更是影响客户返修率与品牌信誉的核心防线。

为此，闪德半导体推出一款面向严苛工业级标准的SSD高温BIT老化测试设备——PCT 300。

该设备集高温加速老化、恒温稳态测试及高低温交变试验于一体，可在-60℃至150℃的宽温域内实现自动化精准温控，通过模拟极限环境应力，快速暴露产品潜在缺陷，有效验证元器件封装完整性、环境适应性与工作耐压能力。

其定制化内箱结构确保温场均匀稳定，整机电路高度集成，兼顾测试效率与运维简便性，为SSD企业提供高可靠、高效率的测试解决方案。

SSD高温BIT老化测试设备——PCT 300

设备定位：该设备是一款面向工业级可靠性验证的严苛环境模拟与加速老化测试系统，定位为SSD生产与研发环节中高端质量检测与可靠性筛选的核心设备。

设备特点

此设备用于模拟产品在气候环境温湿组合条件下（高低温储存，高低温交变，高温高湿，低温低湿，温度循环）检测材料在各种环境下的适应能力与特性是否改变，适合各类科研单位，检测机构，电子、电器、通讯、汽车配件、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用可制造苛刻的环境使用条件。

技术规格

温度控制精度高，可制造【-60-150℃】的工业级别产品使用环境；冷媒伺服阀流量演算控制，省电30%，低温工作1000小时不结霜；PWM技术控制调节实现对工作室温度的自动恒定，可实现降低40%的能耗 ；耐高温耐低温线材，寿命更长；产品可根据要求设置上电测试温度；正常产品测试传输速度，保证测试结果的准确性。

应用场景

该设备主要用于SSD产品的可靠性极限测试，可用于企业级SSD/工业级SSD在研发验证、量产筛选，故障分析和品质改进等场景。

设备详细参数