该ADC31JB68是一款低功耗、宽带宽、16位、500MSPS模数转换器(ADC)。缓冲模拟输入在很宽的频率范围内提供均匀的输入阻抗,同时最大限度地减少采样保持毛刺能量。该器件设计用于采样高达1.3 GHz的输入信号。
该ADC31JB68在较大的输入频率范围内以极低的功耗提供出色的无杂散动态范围 (SFDR)。片内抖动提供非常干净的本底噪声。嵌入式前景和背景校准可在温度范围内提供一致的性能,并最大限度地减少零件之间的差异。
*附件:adc31jb68.pdf
该器件支持JESD204B串行接口,在两个通道中每个通道上的数据速率高达 5 Gbps,从而实现高系统集成密度。
该ADC31JB68采用6mm×6mm、40引脚QFN封装。
特性
- 单通道
- 16 位分辨率
- 最大时钟速率:500 Msps
- 小型 40 引脚 QFN 封装 (6 x 6 mm)
- 输入缓冲器输入带宽 (3 dB):1300 MHz
- 光圈抖动:80 fs
- 片上时钟分频器:/1、/2、/4
- 片上抖动
- 使用前景和后台校准实现一致的动态性能
- 输入幅度和相位调整
- 输入满量程:1.7 Vpp
- 电源:1.2/1.8/3 V
- JESD204B界面
- 符合 1 类标准
- 2 个 5 Gbps 的通道
- 支持多芯片同步
- 主要技术参数
- 功耗:915 mW(500 Msps时)
- f 时的性能
在= 210 MHz,–1 dBFS 时- 信噪比:69.3 dBFS
- NSD:–153.3 dBFS/Hz
- SFDR:80 dBc
- 非 HD2、HD3:–91 dBFS
- 鳍片 = 450 MHz (–1 dBFS) 时的性能
- 信噪比:67 dBFS
- NSD:–151 dBFS/Hz
- SFDR:77 dBc 高清2,3
- 非 HD2、HD3:–89 dBFS
参数
方框图

ADC31JB68 是德州仪器推出的单通道高速高精度 ADC,最高采样率达 500 MSPS,核心优势是 1300 MHz 宽输入带宽、低孔径抖动(80 fs)、JESD204B 串行接口及内置校准功能,适用于高频接收器、软件无线电(SDR)、雷达等对高速、高动态范围要求严苛的场景。
一、核心性能与定位
- 精度与频谱性能 :16 位分辨率,210 MHz 输入时 SNR 达 69.3 dBFS、SFDR 达 80 dBc;噪声谱密度(NSD)低至 -153.3 dBFS/Hz,内置抖动(Dither)功能优化噪声地板;积分非线性(INL)、微分非线性(DNL)性能优异,无失码输出。
- 输入与带宽 :差分输入满量程 1.7 VPP,3 dB 输入带宽达 1300 MHz,支持高频信号直接采样;输入共模电压固定为 1.6 V,输入阻抗 190 Ω(差分)、输入电容 4.6 pF,适配多种信号源驱动。
- 速率与功耗 :最高 500 MSPS 采样率,典型功耗 915 mW;支持 1 倍 / 2 倍 / 4 倍输入时钟分频,灵活适配系统时钟架构;掉电模式功耗仅 17 mW,平衡性能与节能需求。
- 环境适应性 :工作温度 -40°C
85°C,供电电压涵盖 1.2 V、1.8 V、3.0 V 多档位;抗静电性能达 HBM ±1000 V、CDM ±250 V,兼容 1.2 V3.0 V CMOS 数字输入。
二、关键功能与硬件特性
1. 集成功能模块
- 内置前台 / 后台校准功能,确保全温度范围性能一致性,减少器件间差异;支持输入幅度与相位不平衡校正,优化二次谐波失真(HD2)性能。
- 采用 JESD204B 串行接口(Subclass 1 兼容),2 条 lanes 传输,单 lane 速率达 5 Gbps,大幅减少接口线数,提升系统集成度。
- 具备过范围(Over-Range)检测功能,可通过 SDO/OVR 引脚快速输出过范围信号,阈值与保持时间可编程;支持多种测试图案(PRBS、斜坡等),便于系统自检。
2. 工作模式
- 高速采样模式:最高 500 MSPS 连续采样,适用于实时高频信号采集场景。
- 低功耗模式:支持掉电模式(17 mW)和睡眠模式(17 mW),掉电模式唤醒需重新校准,睡眠模式快速唤醒无需校准。
- 校准模式:上电自动执行前台校准,后台校准实时补偿温度、供电变化带来的性能漂移,确保长期稳定性。
3. 封装与引脚
- 采用 40 引脚 6mm×6mm WQFN 封装,含独立模拟电源(VA1.2/VA1.8/VA3.0)、时钟电源(VACLK1.2)及模拟地(AGND)引脚,底部热焊盘需接地优化散热。
- 引脚包括差分模拟输入(VIN+/VIN-)、JESD204B 输出 lanes(SO0±/SO1±)、时钟输入(CLKIN±)、同步信号(SYSREF±/SYNCb±)及 SPI 控制引脚。
二、编程与配置
- 寄存器控制 :通过 SPI 接口访问内部寄存器,支持时钟分频、JESD204B 接口配置、过范围检测参数、输入不平衡校正等功能;寄存器支持读写校验,确保配置可靠性。
- 数据格式与接口 :输出支持二进制补码(默认)或偏移二进制格式,JESD204B 接口支持 8b/10b 编码、数据加扰,可配置输出差分电压(VOD)和去加重(DEM),适配不同传输链路损耗。
- 同步与校准 :支持 SYSREF 信号同步,实现多芯片确定性延迟;上电自动校准,时钟分频变更后需手动触发校准,确保性能一致性。
三、典型应用场景
四、设计关键要点
- 电源与去耦 :多电源轨需按 “VA3.0 → VA1.8/VA1.2/VACLK1.2” 顺序上电,每个电源引脚就近配置 0.1 μF 陶瓷电容 + 10 μF 电解电容去耦;时钟电源(VACLK1.2)需单独隔离,减少噪声耦合。
- 信号接口:模拟输入建议差分驱动,AC/DC 耦合均可,需匹配 1.6 V 共模电压;时钟输入支持 AC/DC 耦合,推荐差分驱动以降低抖动,确保孔径抖动性能。
- 布局规范:采用至少 6 层 PCB 设计,模拟与数字信号分区域布线,差分信号走线长度匹配;热焊盘可靠接地提升散热;JESD204B 传输线需控制 100 Ω 差分阻抗,减少信号损耗。
- 校准与同步:上电后需等待自动校准完成(约 1.0×10⁶ 采样时钟周期);多芯片同步时需确保 SYSREF 信号与 CLKIN 满足时序要求,实现确定性延迟。
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