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倾佳电子1400V 碳化硅 (SiC) MOSFET 产品竞争力深度分析报告

杨茜 来源:jf_33411244 作者:jf_33411244 2025-09-28 09:32 次阅读
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倾佳电子1400V 碳化硅 (SiC) MOSFET 产品竞争力深度分析报告

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倾佳电子(Changer Tech)是一家专注于功率半导体和新能源汽车连接器的分销商。主要服务于中国工业电源电力电子设备和新能源汽车产业链。倾佳电子聚焦于新能源、交通电动化和数字化转型三大方向,并提供包括IGBT、SiC MOSFET、GaN等功率半导体器件以及新能源汽车连接器。

倾佳电子杨茜致力于推动国产SiC碳化硅模块在电力电子应用中全面取代进口IGBT模块,助力电力电子行业自主可控和产业升级!

倾佳电子杨茜咬住SiC碳化硅MOSFET功率器件三个必然,勇立功率半导体器件变革潮头:

倾佳电子杨茜咬住SiC碳化硅MOSFET模块全面取代IGBT模块和IPM模块的必然趋势!

倾佳电子杨茜咬住SiC碳化硅MOSFET单管全面取代IGBT单管和大于650V的高压硅MOSFET的必然趋势!

倾佳电子杨茜咬住650V SiC碳化硅MOSFET单管全面取代SJ超结MOSFET和高压GaN 器件的必然趋势!

I. 执行摘要:1400V 碳化硅 MOSFET 产品能力概览

1.1 战略要务:1400V 碳化硅平台的产品定位

1400V 碳化硅 (SiC) 平台具有重要的战略价值,它被精准定位以服务于快速扩张的 1000-1100V 直流母线系统市场,包括电动汽车(EV)快速充电站和大规模储能系统 。与传统的 1200V 器件相比,1400V 器件在系统设计中提供了卓越的电压安全裕度。这种裕度对于在高 di/dt 快速开关瞬变过程中确保系统可靠性至关重要,因为实际操作中的电压尖峰很容易超过 1200V 的额定值 。

1.2 核心差异化:封装与动态控制

该产品组合的核心竞争力之一在于其封装策略。其主力产品 20mΩ 器件(B3M020140ZL)采用了开尔文源极(Kelvin Source)技术,封装为 TO-247-4L 。这种四引脚封装实现了对开关过程的精确控制,并能在使用较高的外部栅极电阻 ( RG(ext)) 来抑制电压过冲时,依然保持较低的开通能量 (Eon),从而在性能和电磁兼容性(EMI)之间取得了优异的平衡。

1.3 系统赋能:生态系统支持

为充分发挥碳化硅器件的高频潜力,产品生态系统提供了专用的栅极驱动器解决方案,例如 BTD5452R。这款驱动器具有极高的共模瞬态抑制(CMTI)能力(典型值 250V/ns)和有源米勒钳位(Active Miller Clamp, AMC)技术 。这些特性确保了系统级运行的可靠性,同时最大限度地提高了碳化硅技术在高频运行下的性能。

1.4 关键性能指标概览

在 127A/20mΩ 这一电流电阻等级上,该系列器件展现了出色的静态和动态性能。结到壳的热阻 (Rth(j−c)) 典型值为 0.25K/W ,确保了高效的散热能力。这些关键指标共同提供了一个高功率密度、小体积的解决方案,适用于高功率转换级应用。

II. 绪论:1400V SiC 技术的战略定位

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2.1 1400V 平台的价值定位剖析

全球范围内,电动汽车和大型工业电源系统正加速向 1000-1100V 直流母线架构迁移 。在实际高频、高电流的开关操作中,电路中的寄生电感会导致漏源电压在关断瞬间产生显著的电压尖峰( ΔVDS)。对于额定电压为 1200V 的器件而言,这些电压过冲往往使其运行在接近或超出其最大额定耐压 (VDSS) 的危险区域。

1400V 额定值器件的出现正是为了应对这一挑战。该等级器件相对于 1200V 器件在 1000V-1100V 母线上提供了大约 200V 的额外运行缓冲 。这种更高的安全余量对于增强系统对瞬态事件和感应尖峰的鲁棒性至关重要。在高功率转换器(例如 EV 充电器)中,由于需要在纳秒级内开关数百安培电流,任何不可控的寄生电感都可能使峰值漏源电压 ( VDS_peak) 轻松超过 1200V。因此,1400V 器件提供了必要的运行保障,其带来的系统安全性和操作稳定性远远超过了相较于 1200V 器件增加的边际成本,这在高可靠性关键基础设施中尤为重要。

2.2 主要应用和市场契合度

1400V 碳化硅器件主要针对以下核心应用领域:开关模式电源(SMPS)、电力逆变器与光伏逆变器、电机驱动器与电动汽车充电站、以及直流-直流转换器 。 这些应用与全球碳化硅 MOSFET 市场的高速增长趋势高度吻合,后者主要由电动汽车和可再生能源基础设施的快速发展推动 。碳化硅技术的核心优势在于:它能实现更低的损耗、更高的开关频率,从而提升功率密度并减少对散热器的需求,这些都是其在上述应用中不可替代的价值体现 。

III. 1400V 分立器件的静态与热性能分析

3.1 核心器件产品组合概览

1400V 碳化硅 MOSFET 产品线主要包含两大系列:高电流 20mΩ 系列(包括 B3M020140H 和 B3M020140ZL)以及中电流 42mΩ 器件(B3M042140Z)。其中,B3M020140H (TO-247-3) 和 B3M020140ZL (TO-247-4L) 均在 TC=25∘C 时具有 127A 的连续电流额定值,典型导通电阻 (RDS(on)) 为 20mΩ 。

3.2 导通电阻 (RDS(on)) 指标和温度依赖性

分析导通电阻随温度的变化是评估器件传导损耗 (Pcond=ID2⋅RDS(on)) 的关键。

对于 20mΩ 的器件,其 RDS(on) 从 25∘C 的 20mΩ(典型值)增加到 175∘C 的 37mΩ(典型值),增幅约为 1.85 倍 。对于

42mΩ 的器件,其 RDS(on) 从 25∘C 的 42mΩ(典型值)增加到 175∘C 的 77mΩ(典型值),增幅约为 1.83 倍 。碳化硅的 RDS(on) 温度依赖性系数大约为 1.85 倍,这在碳化硅器件中属于较低的范围,表明其在整个最高 175∘C 的工作温度范围内,沟道特性保持稳定,从而确保了传导损耗的可预测性。这种可预测性极大地简化了系统设计中对最坏情况热分析的难度。

推荐栅极驱动电压方面,20mΩ 器件的推荐操作电压 (VGSop) 为 −5V/18V,而 42mΩ 器件为 −4V/18V 。这些电压范围与行业标准兼容,确保了实现最佳导通性能所需的驱动电平。

3.3 热耗散能力比较 (Rth(j−c))

结到壳的热阻 (Rth(j−c)) 是衡量器件热效率的关键参数。对于 20mΩ 系列器件,其 Rth(j−c) 典型值为 0.25K/W 。相比之下, 42mΩ 器件的热阻典型值较高,为 0.48K/W 。 热阻直接决定了器件在最大结温限制 (TJ,max=175∘C) 下的功耗能力 (Ptot) 。由于其极低的热阻,

20mΩ 器件在 TC=25∘C 时能够支持高达 600W 的高额定功耗 。这种低热阻特性是实现高功率密度的基础。

3.4 栅极阈值电压 (VGS(th)) 和运行考虑

器件在 25∘C 下的典型栅极阈值电压 (VGS(th)) 为 2.7V,但在高温下(175∘C)会降至 1.9V 。这种在高温下相对较低的阈值电压,凸显了在设计中采用负偏置关断电压(如 −5V 或 −4V)和有源米勒钳位功能的重要性。这些措施是防止在高 dv/dt 瞬变过程中发生寄生导通(即误开通)的关键保障。

Table 1: 1400V BASiC SiC MOSFET 系列技术规格摘要

型号 封装 VDS (V) ID @ 25∘C (A) RDS(on),typ @ 25∘C (m$Omega$) RDS(on),typ @ 175∘C (m$Omega$) Rth(j−c) (K/W) QG (nC)
B3M020140H TO-247-3 1400 127 20 37 0.25 183
B3M020140ZL TO-247-4L 1400 127 20 37 0.25 183
B3M042140Z TO-247-4 1400 63 42 77 0.48 85

IV. 动态性能和封装优化

4.1 开尔文源极的优势:减轻换流电感的影响

标准三引脚封装(如 B3M020140H)存在一个固有的设计局限:栅极驱动回路与高电流换流路径共享寄生源极电感 (LS)。在开通瞬时,高 di/dt 会在 LS 上产生电压降,该电压降与栅源电压 (VGS) 信号极性相反,从而减缓开关速度;而在关断瞬时,其极性相同,反而加速关断并可能引发过冲或振荡 。

四引脚封装(如 B3M020140ZL)提供的开尔文源极解决了这一技术难题 。它将控制回路(栅极到开尔文源极)与功率回路(漏极到功率源极)隔离开来 。这一隔离消除了 LS 上产生的压降对关键 VGS 信号的干扰,从而允许设计人员通过外部电阻 (RG) 实现对开关过程的精确控制 。

4.2 开关损耗 (Eon,Eoff) 和封装对比

对 20mΩ 的两款旗舰器件(B3M020140H 和 B3M020140ZL)在相似的高压大电流测试条件下(VDC≈1000V,ID=55A)进行了性能对比。值得注意的是,这两款器件采用了刻意不同的外部栅极电阻进行测试(3-pin 为 2.2Ω,4-pin 为 10Ω),以展示其控制潜力。

在开通能量 (Eon) 方面(续流二极管为体二极管, TJ=25∘C):

B3M020140H(RG=2.2Ω)的 Eon 为 1960μJ 。 B3M020140ZL(RG=10Ω)的 Eon 显著降低至 1745μJ 。

在关断能量 (Eoff) 方面(续流二极管为体二极管, TJ=25∘C):

B3M020140H(RG=2.2Ω)的 Eoff 为 400μJ 。 B3M020140ZL(RG=10Ω)的 Eoff 增加到 635μJ 。

这种对比揭示了开尔文源极技术的巨大价值。尽管四引脚器件采用了高出 5 倍的外部栅极电阻 (RG=10Ω),但其开通能量 (Eon) 仍更低(1745μJ)。这表明开尔文源极在开通过程中有效隔离了栅极驱动回路,避免了寄生电感造成的损耗增加 。设计人员可以利用这一优势,使用更高的外部电阻来控制 dv/dt 和电压尖峰,而无需牺牲核心的开通效率。同时,四引脚器件较高的关断能量(635μJ)相较于三引脚器件(400μJ)也证实了 RG=10Ω 这一高电阻值在关断时明显限制了关断速度,以实现热管理和电磁干扰(EMI)的优化,这正是开尔文封装提供更高动态控制能力的体现。

4.3 电容特性分析

两款 20mΩ 器件的总栅极电荷 (QG) 保持一致,均为 183nC ,这表明它们采用了匹配的芯片设计。高输入电容 ( Ciss) 达到 3850pF,这决定了栅极驱动功率需求和开关时间常数 。然而,碳化硅器件的核心优势在于其极低的米勒电容(反向传输电容 Crss≈11pF) ,这最大限度地减小了开关过程中关键的电压平台区域,从而实现了更快的开关速度。

Table 2: 动态性能对比:20mΩ 1400V MOSFET(TJ=25∘C)

参数 B3M020140H (TO-247-3) B3M020140ZL (TO-247-4L) 单位 测试条件
RG(ext) 2.2 10 Ω VDC=1000V,ID=55A
QG (总栅极电荷) 183 183 nC VDS=1000V,VGS=−5/+18V
Eon (FWD=Body Diode) 1960 1745 μJ RG(ext) as listed
Eoff (FWD=Body Diode) 400 635 μJ RG(ext) as listed
Qrr (体二极管) 410 (at 1900A/μs) 300 (at 2900A/μs) nC VDC=1000V,ISD=55A,TJ=25∘C

V. 系统级集成和配套生态系统

5.1 SiC MOSFET 先进栅极驱动的必要性

碳化硅器件极快的开关速度(超高 dv/dt)是其高性能的来源,但也带来了系统级挑战。快速开关产生的 dv/dt 水平往往高于 20kV/μs,这可能导致共模噪声和通过米勒电容 (CGD) 产生的寄生导通。

因此,栅极驱动器必须具备高共模瞬态抑制(CMTI)能力和高瞬时峰值拉/灌电流能力,以快速充放电器件庞大的栅极电容 (QG)。

5.2 BTD5452R 栅极驱动器解决方案评估

BTD5452R 隔离驱动器是专为碳化硅应用设计的高性能解决方案 。其关键性能指标与 1400V 碳化硅器件的需求完美匹配:

隔离与速度:隔离耐压高达 VISO=5700VRMS,同时具备高共模瞬态抑制(典型值 250V/ns),确保在嘈杂的高压环境中信号的可靠性 。

电流能力:具有强大的峰值拉/灌电流能力(源极 5A,灌极 9A),能够快速驱动像 B3M020140ZL 这样具有 183nC 总栅极电荷的器件,从而最大限度地降低开关损耗 。

有源米勒钳位(AMC):BTD5452R 集成了 Active Miller Clamp 功能,钳位电流能力为 1A(在 VCLAMP=1V 时) 。鉴于碳化硅器件的低阈值电压 ( VGS(th) 典型值为 2.7V),AMC 是防止寄生误开通的必备安全功能 。

5.3 有源米勒钳位功能原理

有源米勒钳位的工作机制如下:当 SiC MOSFET 关断时,其栅极电压下降,一旦低于设定的阈值电压(例如 BTD5452R 的 VCLPH=1.8V) ,AMC 功能就会启动。它通过一个内部低阻抗路径将栅极与负电源轨 ( VEE) 连接起来,有效地分流来自高 dv/dt 的米勒电流 (IGD=CGD⋅dv/dt),从而防止低侧开关在桥式拓扑中误导通 。

5.4 短路保护(DESAT)和软关断

该驱动器还集成了 DESAT(退饱和)故障检测功能,可在漏极-源极电压高于 9.0V(相对于 VSS)时触发过流/短路保护 。一旦检测到 DESAT 故障,驱动器会启动软关断程序,通过限制峰值灌电流至 150mA (IOLF) 来控制关断速度 。这种软关断模式限制了故障发生时的

di/dt,从而有效抑制电压过冲,防止器件发生灾难性损坏。提供具备高 CMTI、AMC 和软关断等关键特性的专用驱动器,确保了 1400V 碳化硅 MOSFET 的高性能得以安全且可靠地在系统层面实现。这种集成化的生态系统方法,能够极大地降低功率电子工程师在设计实现过程中的风险。

Table 3: BTD5452R 栅极驱动器关键特性与 SiC 优化

特性 数值/指标 对 1400V SiC 应用的益处
隔离电压 (VISO) 5700 VRMS 满足工业/电动汽车严格的高压隔离安全标准
峰值灌电流 (IOUTL) 9 A (典型值) 关断时快速泄放 QG≈183nC,实现最低 Eoff
CMTI 典型值 250V/ns 确保高 dv/dt 环境下的信号完整性和可靠运行
有源米勒钳位电流 (ICLP) 1 A @ VCLAMP=1V 钳位米勒电流,防止寄生误开通
DESAT 阈值 (VDSTH) 9.0 V (典型值) 提供可靠的过流/短路检测
软关断电流 (IOLF) 150 mA (典型值) 故障条件下限制 di/dt,防止破坏性电压过冲

VI. 市场定位比较与性能验证

6.1 内部对比:1400V 分立器件与 1200V 模块

将 1400V 分立器件产品线与更高功率的 1200V 模块(例如 BMF360R12KA3 或 BMF540R12KA3)进行比较,可以看到在高功率模块中,通过多芯片并联和先进的热管理技术(如铜基板和 Si3N4 AMB 陶瓷衬底),可以实现更低的 RDS(on)(如 BMF540R12KA3 的 2.5mΩ) 。

值得强调的是,在模块中采用 Si3N4 AMB 衬底,是因为其在抗弯强度和热循环能力方面远优于传统的 Al2O3 或 AlN 陶瓷,这为工业应用提供了更高的可靠性和更长的使用寿命 。

6.2 系统性能基准:电机驱动应用中的 SiC 与 IGBT 对比

通过仿真数据,可以将 SiC 模块(BMF540R12KA3,1200V)与同尺寸的高功率 IGBT 模块(FF800R12KE7,1200V)在 800V 母线电机驱动应用中的性能进行对比 。尽管此处对比的是 1200V 模块,但其结论反映了碳化硅技术平台整体的卓越性能。

在 VDC=800V、相电流 300ARMS 的工况下,SiC 模块可以工作在 12kHz,系统效率高达 99.39%;而 IGBT 模块在其极限开关频率 6kHz 下,系统效率为 97.25% 。这种效率的巨大提升主要归因于 SiC 器件出色的开关性能:SiC 单开关总损耗在 12kHz 下为 242.66W,远低于 IGBT 在 6kHz 下的 1119.22W,损耗降低了 4.6 倍 。

6.3 热约束下的功率吞吐能力

在热约束条件下(散热器温度 TC=80∘C,结温 TJ≤175∘C),SiC 模块在 12kHz 下允许的最大输出相电流达到 520.5ARMS,显著高于 IGBT 模块在 6kHz 下的 446ARMS 。这表明碳化硅器件能够更好地利用其热容量,从而实现更高的功率吞吐密度。

仿真结果有力地证明了碳化硅 MOSFET 的核心产品能力,它带来的不仅仅是效率的边际改善,更在于开辟了一个全新的工作包络:能够同时实现高功率、高频率和高效率,这是传统硅基 IGBT 无法企及的。而 1400V 分立器件则将这种卓越的性能延伸到了高可靠性的分立式封装领域。

Table 4: SiC (BMF540R12KA3) 与 IGBT (FF800R12KE7) 系统性能对比(电机驱动, VDC=800V,TC=80∘C)

参数 IGBT (FF800R12KE7) SiC MOSFET (BMF540R12KA3) 单位 性能优势
开关频率 (fsw) 6 12 kHz SiC 的频率密度提高 2×
单开关总损耗 (Ptot) 1119.22 242.66 W SiC 损耗降低 4.6×
系统效率 (η) 97.25 99.39 % 显著的损耗减少
最大电流 @ TJ≤175∘C 446 520.5 ARMS 更高的热利用率/功率容量

实现高达 99.39% 的系统效率,意味着对散热系统需求的急剧降低,从而显著减小了转换器的整体体积和重量,完美地契合了碳化硅产品追求高功率密度的核心目标 。

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VII. 结论和战略建议

深圳市倾佳电子有限公司(简称“倾佳电子”)是聚焦新能源与电力电子变革的核心推动者:
倾佳电子成立于2018年,总部位于深圳福田区,定位于功率半导体与新能源汽车连接器的专业分销商,业务聚焦三大方向:
新能源:覆盖光伏、储能、充电基础设施;
交通电动化:服务新能源汽车三电系统(电控、电池、电机)及高压平台升级;
数字化转型:支持AI算力电源、数据中心等新型电力电子应用。
公司以“推动国产SiC替代进口、加速能源低碳转型”为使命,响应国家“双碳”政策(碳达峰、碳中和),致力于降低电力电子系统能耗。
需求SiC碳化硅MOSFET单管及功率模块,配套驱动板及驱动IC,请搜索倾佳电子杨茜

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7.1 产品能力总结

1400V 碳化硅 MOSFET 产品系列的关键优势在于:为1000-1100V 直流母线系统提供必需的电压安全裕度,确保了高可靠性运行。通过 TO-247-4L 封装引入开尔文源极,极大地增强了器件的动态性能控制,使其在保持低开关损耗的同时,能够有效管理电压尖峰。此外,其优异的热性能(Rth(j−c)=0.25K/W)保障了高功率密度下的可靠散热。

7.2 选型指导

在选择封装时,设计人员应根据应用需求进行权衡:

TO-247-3 (B3M020140H):适用于追求简化集成和成本效益的应用。

TO-247-4L (B3M020140ZL):强烈推荐用于对动态性能控制要求最高、电磁干扰敏感度高,或需要采用高 RG 来控制 dv/dt 的应用,例如电动汽车充电、高频 UPS 和精密电机驱动。四引脚结构在复杂的高速开关环境中提供了无与伦比的性能确定性。

7.3 技术发展方向

1400V 碳化硅平台及其配套的高性能栅极驱动解决方案(如 BTD5452R,具备 AMC 和高 CMTI)是未来高可靠性、下一代 800V 直流电源电子设计的必然技术选择。通过提供完整的、经过验证的生态系统,制造商最大限度地减少了系统集成风险,确保了碳化硅器件内在的高性能能够安全、有效地转化为最终产品的市场竞争力。

审核编辑 黄宇

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    电子杨茜咬住SiC碳化硅MOSFET功率器件三个必然,勇立功率半导体器件变革潮头:
    的头像 发表于 10-18 21:22 251次阅读
    <b class='flag-5'>倾</b><b class='flag-5'>佳</b><b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>高级栅极驱动设计:核心原理与未来趋势综合技术评述

    电子1400V碳化硅(SiC)MOSFET赋能新一代电力电子系统

    1000V乃至更高1100V电压的平台。这一转变对功率器件提出了前所未有的要求:不仅需要更高的阻断电压,还必须具备极致的开关速度和效率,以实现更高的功率密度和系统可靠性。在此背景下,
    的头像 发表于 10-11 18:28 644次阅读
    <b class='flag-5'>倾</b><b class='flag-5'>佳</b><b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>1400V</b><b class='flag-5'>碳化硅</b>(<b class='flag-5'>SiC</b>)<b class='flag-5'>MOSFET</b>赋能新一代电力<b class='flag-5'>电子</b>系统

    电子SiC碳化硅MOSFET串扰抑制技术:机理深度解析与基本半导体系级解决方案

    电子SiC碳化硅MOSFET串扰抑制技术:机理深度
    的头像 发表于 10-02 09:29 477次阅读
    <b class='flag-5'>倾</b><b class='flag-5'>佳</b><b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>串扰抑制技术:机理<b class='flag-5'>深度</b>解析与基本半导体系级解决方案

    电子新能源汽车主驱技术演进与SiC碳化硅功率模块的深度价值分析报告

    电子新能源汽车主驱技术演进与SiC碳化硅功率模块的深度价值
    的头像 发表于 09-16 13:55 834次阅读
    <b class='flag-5'>倾</b><b class='flag-5'>佳</b><b class='flag-5'>电子</b>新能源汽车主驱技术演进与<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b>功率模块的<b class='flag-5'>深度</b>价值<b class='flag-5'>分析</b><b class='flag-5'>报告</b>

    电子SiC碳化硅MOSFET开关行为深度研究与波形解析

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    的头像 发表于 09-01 11:32 2511次阅读
    <b class='flag-5'>倾</b><b class='flag-5'>佳</b><b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>开关行为<b class='flag-5'>深度</b>研究与波形解析

    电子碳化硅MOSFET短路特性与退饱和保护(DESAT)深度研究报告

    电子碳化硅MOSFET短路特性与退饱和保护(DESAT)深度研究
    的头像 发表于 09-01 09:28 641次阅读
    <b class='flag-5'>倾</b><b class='flag-5'>佳</b><b class='flag-5'>电子</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>短路特性与退饱和保护(DESAT)<b class='flag-5'>深度</b>研究<b class='flag-5'>报告</b>

    电子提供SiC碳化硅MOSFET正负压驱动供电与米勒钳位解决方案

    SiC碳化硅MOSFET正负压驱动供电与米勒钳位解决方案 电子(Changer Tech)-
    的头像 发表于 04-21 09:21 757次阅读
    <b class='flag-5'>倾</b><b class='flag-5'>佳</b><b class='flag-5'>电子</b>提供<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>正负压驱动供电与米勒钳位解决方案

    BASiC基本股份国产SiC碳化硅MOSFET产品线概述

    变革潮头: 电子杨茜咬住SiC碳化硅MOSFET模块全面取代IGBT模块的必然趋势!
    的头像 发表于 02-12 06:41 838次阅读
    BASiC基本股份国产<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b><b class='flag-5'>产品</b>线概述