Texas Instruments UCC21756-Q1隔离式单通道栅极驱动器设计用于工作电压高达2121 V DC的SiC MOSFET和IGBT,具有先进的保护特性、同类最佳的动态性能和稳健性。UCC21756-Q1具有高达±10A的峰值拉电流和灌电流。通过SiO2~~ 电容隔离技术将输入侧与输出侧相隔离,从而支持高达1.5kVRMS 的工作电压、12.8kVPK 浪涌抗扰度,隔离栅寿命超过40年,并提供较低的零件间偏移,以及> 150V/ns的共模抗噪度(CMTI)。
数据手册:*附件:Texas Instruments UCC21756-Q1隔离式单通道栅极驱动器数据手册.pdf
Texas Instruments UCC21756-Q1具有先进的保护特性,例如快速过流和短路检测、故障报告以及有源米勒钳位。它还提供输入和输出侧电源UVLO,以优化SiC和IGBT的开关特性和稳健性。可以利用隔离式模拟PWM传感器更轻松地进行温度或电压检测,从而提高驱动器的多功能性,并简化系统设计工作,降低尺寸和成本。
特性
- 5.7kV
RMS单通道隔离式栅极驱动器 - 下列性能符合AEC-Q100标准
- 环境工作温度范围:-40°C至+150°C(器件温度0级)
- 器件人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 分类等级3A
- 器件充电器件模型 (CDM) ESD分类等级C6
- 功能安全质量管理型
- 可提供帮助进行功能安全系统设计的文档
- 高达
2121Vpk的SiC MOSFET和IGBT - 33V最大输出驱动电压(VDD-VEE)
- ±10A驱动强度和分离输出
- 最低CMTI:150V/ns
- 200ns响应时间快速DESAT保护,5V阈值
- 4A内部有源米勒钳位
- 发生故障时软关断:900mA
- 具有PWM输出的隔离式模拟传感器,用于:
- 过流报警FLT和RST/EN复位
- RST/EN上的快速启用/禁用响应
- 抑制输入引脚上的<40ns噪声瞬态和脉冲
- 12V
VDD UVLO,RDY上电源正常 - 具有高达5V过冲/欠冲瞬态电压抗扰度的输入/输出
- 130ns(最大值)传播延迟和30ns(最大值)脉冲/零件偏移
- SOIC-16 DW封装,爬电距离和间隙>8mm
- 工作结温范围:–40°C至150 °C
功能框图

UCC21756-Q1汽车级隔离式栅极驱动器技术解析与应用指南
一、产品概述与核心特性
UCC21756-Q1是德州仪器(TI)推出的汽车级单通道隔离栅极驱动器,专为SiC MOSFET和IGBT设计,具有以下突出特性:
关键参数:
- 隔离性能:5.7kVRMS增强型隔离,工作电压1500VRMS,符合AEC-Q100 Grade 1标准(-40°C至+125°C)
- 驱动能力:±10A峰值驱动电流,支持33V最大输出电压(VDD-VEE)
- 保护特性:200ns快速DESAT保护(5V阈值),集成4A主动米勒钳位,900mA软关断功能
- 传感功能:隔离式模拟-PWM传感器,支持温度/电压监测
- 动态性能:150V/ns CMTI,130ns最大传播延迟,30ns器件间偏差
封装形式:SOIC-16 DW封装,爬电距离>8mm,满足高压隔离要求
二、电气特性深度分析
2.1 隔离参数
- 增强型隔离:VIORM=2121Vpk,VIOTM=8000Vpk,VISO=5700VRMS
- 隔离寿命:基于SiO2电容隔离技术,预计寿命>40年
- 安全认证:符合DIN EN IEC 60747-17(VDE 0884-17)标准
2.2 驱动性能
- 输出阻抗:上拉2.5Ω(典型),下拉0.3Ω(典型)
- 开关特性:
- 上升时间33ns(CL=10nF)
- 下降时间27ns(CL=10nF)
- 最大开关频率1MHz
2.3 保护机制
- DESAT保护:
- 充电电流500μA(典型)
- 放电电流15mA(典型)
- 前沿消隐时间200ns
- UVLO阈值:
- VCC:2.7V(开启)/2.5V(关闭)
- VDD:12V(开启)/10.7V(关闭)
三、典型应用设计
3.1 电动汽车牵引逆变器方案
设计要点:
- 栅极电阻选择:
- 计算公式:Rg = (VDD-VEE)/Ipeak - Rint
- 示例:VDD=15V,VEE=-5V时,1Ω电阻可获得约6A峰值电流
- DESAT电路配置:
- 采用快恢复二极管串联限流电阻
- 推荐添加COM至DESAT的肖特基二极管防负压
- 热管理:
- θJA=68.3°C/W(SOIC-16)
- 最大功耗计算:PD = (VIN-VOUT)×ILOAD + IVDD×VDD
3.2 多PMIC系统配置
通过FLT/RDY引脚并联实现:
- 主驱动器控制功率开关
- 从驱动器状态监控
- 故障信号通过逻辑电路合并
四、布局与热设计指南
- PCB布局建议:
- 采用开尔文连接COM引脚
- VDD/VEE去耦电容(<10mm)采用低ESR陶瓷电容
- 输入输出侧地平面分离
- 热设计考量:
- 高功耗应用建议增加铜箔散热
- 计算示例:1.5A负载@20V差分,50kHz时结温约150°C
- EMC设计:
- 输入走线长度≤10mm
- 避免平行布置高dv/dt信号线
五、行业应用案例
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