【展会回顾】NEPCON CHINA 2025 圆满落幕

近日，NEPCON China 2025在上海世博展览馆圆满收官。SPEA聚焦电子制造、LED测试、功率半导体测试等关键领域的热门测试需求，以顶尖测试产品和解决方案为支点，为展会增添了浓墨重彩的一笔。

我司的展位前人头攒动、热闹非凡，新老客户、圈层同仁及海外观众纷至沓来。SPEA团队精神饱满、热情洋溢，与观众深度互动，尽显公司在电性能测试、半导体测试领域的强大品牌影响力和卓越技术底蕴。在ICPF半导体封测示范区，DOT800T功率半导体测试仪成为全场焦点。它是功率半导体测试“全能多面手”，契合晶圆、KGD、分立器件、IPM、DBC、IGBT模块等主流功率半导体产品广泛的测试要求。不仅赢得行业头部企业的广泛青睐与大规模应用，更助力众多独角兽企业打破测试效率桎梏，实现跨越式提升。

在LED测试技术革新浪潮中，SPEA的T100L测试设备无疑是耀眼新星，多项原创技术引发行业震动，其独特的无光纤测试夹具为LED产品测试带来更高灵活性；飞行扫描测试技术堪称“质效加速器”，全面覆盖灯光强度、颜色特性、光谱等核心测试项目,有望树立LED产品批量生产测试新典范。

4080飞针测试仪、3030Rack等经典机型同样备受瞩目,这些早已历经市场验证的标杆产品，凭借其卓越的稳定性和广泛的适用性，持续赋能电子制造领域多样化的测试场景，吸引了众多新老客户驻足交流，进一步夯实了SPEA在业界的领先地位。

功率半导体技术及应用大会上，SPEA苏州总经理孙媛丽女士以产业需求为导向，分享《SPEA KGD Testing Turnkey solution》，详细阐述了我司在KGD测试领域的创新成果与技术优势，为功率半导体良率提升提供了可复制路径。

转眼间，三天的盛会已经落幕。SPEA与全球数百家优秀企业共同见证了智慧碰撞激发的创新活力，深切感受到产业协同释放的强劲动能。感谢每一位到访观众的关注，期待与更多伙伴携手同行、共拓新机遇！