这款 30V、3.2mΩ、SON 3.3mm × 3.3mm NexFET™ 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率转换损耗 应用。
*附件:CSD17581Q3A 30V N 沟道 NexFET™ 功率 MOSFET 数据表.pdf
特性
- 低 Q
g和 QGD - 低 R
DS(开) - 低热阻
- 雪崩评级
- 无铅
- 符合 RoHS 标准
- 无卤素
- SON 3.3mm × 3.3mm 塑料封装
参数
方框图

1. 产品概述
- 型号:CSD17581Q3A
- 类型:30V N沟道 NexFET™ 功率MOSFET
- 封装:SON 3.3mm × 3.3mm 塑料封装
- 特点:低栅极电荷(Q_g)、低导通电阻(R_DS(on))、低热阻、雪崩额定、无铅、RoHS合规、无卤素
2. 应用领域
3. 电气特性

3.1 静态特性
- 漏源电压(V_DS) :30V
- 栅源阈值电压(V_GS(th)) :1.0V 至 1.7V
- 导通电阻(R_DS(on)) :
- V_GS = 4.5V时:3.9mΩ 至 4.7mΩ
- V_GS = 10V时:3.2mΩ 至 3.8mΩ
- 漏源泄漏电流(I_DSS) :1μA(V_GS = 0V, V_DS = 24V)
- 栅源泄漏电流(I_GSS) :100nA(V_DS = 0V, V_GS = 20V)
3.2 动态特性
- 输入电容(C_iss) :2800pF 至 3640pF(V_GS = 0V, V_DS = 15V, f = 1MHz)
- 输出电容(C_oss) :342pF 至 445pF
- 反向传输电容(C_rss) :150pF 至 195pF
- 栅极总电荷(Q_g) :
- V_DS = 15V, I_D = 16A时:
- V_GS = 4.5V:20nC 至 25nC
- V_GS = 10V:41nC 至 54nC
- V_DS = 15V, I_D = 16A时:
- 栅极到漏极电荷(Q_gd) :4nC
- 开启延迟时间(t_d(on)) :12ns
- 上升时间(t_r) :23ns
- 关断延迟时间(t_d(off)) :23ns
- 下降时间(t_f) :10ns
3.3 二极管特性
- 二极管正向电压(V_SD) :0.8V 至 1.0V(I_SD = 16A, V_GS = 0V)
- 反向恢复电荷(Q_rr) :10.2nC(V_DS = 15V, I_F = 16A, di/dt = 300A/μs)
- 反向恢复时间(t_rr) :9.8ns
4. 热信息
- 结到壳热阻(R_θJC) :2°C/W
- 结到环境热阻(R_θJA) :
- 典型值:45°C/W(安装在1in² 2oz Cu板上)
- 最大值:160°C/W(安装在最小Cu板上)
5. 绝对最大额定值
- 漏源电压(V_DS) :30V
- 栅源电压(V_GS) :±20V
- 连续漏电流(I_D) :
- 封装限制:60A
- 硅限制(T_C = 25°C):101A
- 脉冲漏电流(I_DM) :154A
- 功率耗散(P_D) :
- 封装限制:2.8W
- T_C = 25°C时:63W
- 工作结温(T_J)、存储温度(T_stg) :-55°C 至 150°C
- 雪崩能量(E_AS) :76mJ(单脉冲,I_D = 39A,L = 0.1mH,R_G = 25Ω)
6. 封装与订购信息
- 封装尺寸:详细尺寸图见数据表第8页
- 推荐PCB布局:见数据表第9页
- 推荐钢网图案:见数据表第9页
- 卷带和卷轴信息:见数据表第10页
- 订购信息:
- CSD17581Q3A:2500片/13英寸卷带
- CSD17581Q3AT:250片/7英寸卷带
7. 支持与文档
- 提供文档更新通知、社区资源、商标信息、静电放电注意事项等。
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