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CSD17581Q3A 30V、N 通道 NexFET™ 功率 MOSFET技术手册

科技绿洲 2025-04-16 11:25 次阅读
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这款 30V、3.2mΩ、SON 3.3mm × 3.3mm NexFET™ 功率 MOSFET 旨在最大限度地降低功率转换损耗 应用。
*附件:CSD17581Q3A 30V N 沟道 NexFET™ 功率 MOSFET 数据表.pdf

特性

  • 低 Qg和 QGD
  • 低 RDS(开)
  • 低热阻
  • 雪崩评级
  • 无铅
  • 符合 RoHS 标准
  • 无卤素
  • SON 3.3mm × 3.3mm 塑料封装

参数
image.png

方框图

image.png

1. 产品概述

  • 型号‌:CSD17581Q3A
  • 类型‌:30V N沟道 NexFET™ 功率MOSFET
  • 封装‌:SON 3.3mm × 3.3mm 塑料封装
  • 特点‌:低栅极电荷(Q_g)、低导通电阻(R_DS(on))、低热阻、雪崩额定、无铅、RoHS合规、无卤素

2. 应用领域

3. 电气特性

image.png

3.1 静态特性

  • 漏源电压(V_DS) ‌:30V
  • 栅源阈值电压(V_GS(th)) ‌:1.0V 至 1.7V
  • 导通电阻(R_DS(on)) ‌:
    • V_GS = 4.5V时:3.9mΩ 至 4.7mΩ
    • V_GS = 10V时:3.2mΩ 至 3.8mΩ
  • 漏源泄漏电流(I_DSS) ‌:1μA(V_GS = 0V, V_DS = 24V)
  • 栅源泄漏电流(I_GSS) ‌:100nA(V_DS = 0V, V_GS = 20V)

3.2 动态特性

  • 输入电容(C_iss) ‌:2800pF 至 3640pF(V_GS = 0V, V_DS = 15V, f = 1MHz)
  • 输出电容(C_oss) ‌:342pF 至 445pF
  • 反向传输电容(C_rss) ‌:150pF 至 195pF
  • 栅极总电荷(Q_g) ‌:
    • V_DS = 15V, I_D = 16A时:
      • V_GS = 4.5V:20nC 至 25nC
      • V_GS = 10V:41nC 至 54nC
  • 栅极到漏极电荷(Q_gd) ‌:4nC
  • 开启延迟时间(t_d(on)) ‌:12ns
  • 上升时间(t_r) ‌:23ns
  • 关断延迟时间(t_d(off)) ‌:23ns
  • 下降时间(t_f) ‌:10ns

3.3 二极管特性

  • 二极管正向电压(V_SD ‌:0.8V 至 1.0V(I_SD = 16A, V_GS = 0V)
  • 反向恢复电荷(Q_rr) ‌:10.2nC(V_DS = 15V, I_F = 16A, di/dt = 300A/μs)
  • 反向恢复时间(t_rr) ‌:9.8ns

4. 热信息

  • 结到壳热阻(R_θJC) ‌:2°C/W
  • 结到环境热阻(R_θJA) ‌:
    • 典型值:45°C/W(安装在1in² 2oz Cu板上)
    • 最大值:160°C/W(安装在最小Cu板上)

5. 绝对最大额定值

  • 漏源电压(V_DS) ‌:30V
  • 栅源电压(V_GS) ‌:±20V
  • 连续漏电流(I_D) ‌:
    • 封装限制:60A
    • 硅限制(T_C = 25°C):101A
  • 脉冲漏电流(I_DM) ‌:154A
  • 功率耗散(P_D) ‌:
    • 封装限制:2.8W
    • T_C = 25°C时:63W
  • 工作结温(T_J)、存储温度(T_stg) ‌:-55°C 至 150°C
  • 雪崩能量(E_AS) ‌:76mJ(单脉冲,I_D = 39A,L = 0.1mH,R_G = 25Ω)

6. 封装与订购信息

  • 封装尺寸‌:详细尺寸图见数据表第8页
  • 推荐PCB布局‌:见数据表第9页
  • 推荐钢网图案‌:见数据表第9页
  • 卷带和卷轴信息‌:见数据表第10页
  • 订购信息‌:
    • CSD17581Q3A:2500片/13英寸卷带
    • CSD17581Q3AT:250片/7英寸卷带

7. 支持与文档

  • 提供文档更新通知、社区资源、商标信息、静电放电注意事项等。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
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