微波测量探针
DC~110GHz
36102系列
触点防堆金处理
微波测量探针产品36102系列,无缝隙覆盖DC~110GHz,触点防堆金处理,压痕轻,性能可靠,产品统一采用标准同轴安装接口,触点类型、触点尺寸可选,可通用适配多种探针台、探针臂,适用于微波集成电路在片测试、管结参数提取、MEMS产品测试及片上天线测试等领域。

编辑
技术指标
微波测量探针

编辑

编辑
审核编辑 黄宇
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
探针
+关注
关注
4文章
225浏览量
21445 -
微波测量
+关注
关注
0文章
11浏览量
7862
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
基于四探针测量的 BiFeO₃畴壁欧姆响应研究
导电畴壁(DWs)是新型电子器件的关键候选结构,但其纳米尺度与宿主材料高电阻特性导致电学表征困难。Xfilm埃利四探针方阻仪可助力其电阻精确测量,本文以四探针测量技术为核心,采用亚微米
基于四端自然粘附接触(NAC)的有机单晶四探针电学测量
在有机单晶电学性能表征领域,四探针测量技术因能有效规避接触电阻干扰、精准捕捉材料本征电学特性而成为关键方法,Xfilm埃利四探针方阻仪作为该领域常用的专业测量设备,可为相关研究提供可靠
四探针法校正因子的全面综述:基于实验与数值模拟的电阻率测量误差修正
四探针法(4PP)作为一种非破坏性评估技术,广泛应用于半导体和导电材料的电阻率和电导率测量。其非破坏性特点使其适用于从宏观到纳米尺度的多种材料。然而,传统解析模型在校正因子的计算中存在近似误差
四探针法 | 测量射频(RF)技术制备的SnO2:F薄膜的表面电阻
法开展表面电阻测量研究。Xfilm埃利四探针方阻仪凭借高精度检测能力,可为此类薄膜电学性能测量提供可靠技术保障。下文将重点分析四探针法的测量
面向5G通信应用:高阻硅晶圆电阻率热处理稳定化与四探针技术精准测量
随着5G通信技术的快速发展,高阻绝缘体上硅在微波与毫米波器件、探测器等领域的应用需求激增。然而,高阻硅片电阻率的快速准确测量仍面临技术挑战。四点探针法(4PP)因其高精度、宽量程等特点被视为优选方法
探针式与非接触式碳化硅 TTV 厚度测量方法对比评测
一、引言
碳化硅(SiC)作为宽禁带半导体材料,在功率器件、射频器件等领域应用广泛。总厚度偏差(TTV)是衡量碳化硅衬底质量的关键指标,准确测量 TTV 对保障器件性能至关重要。目前,探针式和非接触
四探针电极在多功能压力测量系统中的原理与应用
一、引言 在多功能压力测量系统里,四探针电极以其独特测量原理,助力获取材料电学性能与压力的关联数据。它在材料科学、电子工程等领域应用广泛,有力推动了对材料在压力下电学行为的研究,成为现代材料性能研究
告别手动时代:揭秘蔡司探针清洁的智能革命
您是否正面临以下测量挑战? 手动清洁三坐标探针耗时耗力,影响生产进度? 微小探针清洁困难,容易造成损坏,损失惨重? 探针因积尘或静电干扰测量
发表于 03-05 14:59
•398次阅读
微波电容怎么测量好坏
。本文将深入探讨微波电容的基本概念、结构特点、工作原理、性能指标、测量方法以及实际应用,为工程师在设计和测试微波电路时提供全面而详细的指导。
高温电阻测试仪的四探针法中,探针的间距对测量结果是否有影响
在高温电阻测试仪的四探针法中,探针的间距对测量结果确实存在影响,但这一影响可以通过特定的测试方法和仪器设计来最小化或消除。 探针间距对测量结

微波测量探针
评论