0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

射频器件S参数测试系统高效测试,API快速对接ERP系统

纳米软件(系统集成) 来源:纳米软件(系统集成) 作者:纳米软件(系统集 2024-07-09 14:49 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

射频测试系统是一款检测射频器件、天线等产品性能的测试软件。在现代无线通信和电子技术领域,射频器件的性能对于整体系统的可靠性至关重要。因此,为了帮助用户全面监测产品性能、分析产品指标,纳米软件开发了NSAT-1000射频器件S参数测试系统。

射频器件测试系统

NSAT-1000射频自动化测试系统方案是专门针对射频元器件、天线、射频模块S参数测试的自动化测试软件,通过网络分析仪完成增益、隔离度、回波损耗、插入损耗等参数的自动化测试,并从多维度、多指标来分析数据,评估产品性能。该系统可以测试的S参数主要有:

增益

隔离度

回波损耗

插入损耗

耦合

驻波比

衰减度

wKgaomaM26qATa_1AADbrq2doW0716.pngS参数测试项目编辑

射频自动化测试设备优势

1. 实现网分自动化,灵活选型

NSAT-1000会对网络分析仪做二次兼容,封装仪器指令,通过纳米软件ATEBOX实现仪器调动,完成自动化测试,节省人工成本。目前,系统已兼容多种网分型号,并且会持续兼容,可以灵活选择。同时,仪器替换功能支持用户可以替换仪器,实现仪器复用。

wKgaomZdiaKATAt_AACYsO_Lvpk072.png系统结构图 wKgaomaM3A6AO55UAAC1OarkAyI932.png兼容网分仪器

2. API标准接口快速稳定对接

为了方便用户管理测试数据,纳米团队开发出了API接口来对接用户的MES、ERP等系统,可以快速、安全、稳定地传输数据。系统本身也具备数据洞察功能,用户可以选择多种图表来展示数据,分析各项指标情况,节省分析成本。

3. 测试报告导出

系统会自动采集测试数据,用户可以在系统中直接查看测试记录,包括测试结果、测试时间、测试人员、测试数据等。也可以选择导出数据,数据报告模板支持定制,满足了不同用户对报告模板的不同需求。

wKgZomaM3D-ABhG0AAG_HzJRsJ0749.pngS参数报告模板

总之,NSAT-1000射频S参数自动化测试系统在考虑到用户关注点的基础上进行优化升级,为射频测试提供软硬件一体化测试方案。当然,系统后续也会持续完善,致力于为用户带来完美的自动化测试体验。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • API
    API
    +关注

    关注

    2

    文章

    2147

    浏览量

    66207
  • ERP
    ERP
    +关注

    关注

    0

    文章

    595

    浏览量

    35813
  • 射频测试
    +关注

    关注

    5

    文章

    75

    浏览量

    19497
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    新品首发·东方中科智能座舱测试系统

    域协同测试的全流程闭环自动化测试。该系统搭载自研的HMI自动化测试软件,提供图形化编辑界面,用户无需编程即可快速构建
    的头像 发表于 11-28 10:33 221次阅读
    新品首发·东方中科智能座舱<b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>系统</b>

    半导体器件的通用测试项目都有哪些?

    随着新能源汽车、光伏储能以及工业电源的迅速发展,半导体器件在这些领域中的应用也愈发广泛,为了提升系统的性能,半导体器件系统正朝着更高效率、更
    的头像 发表于 11-17 18:18 2142次阅读
    半导体<b class='flag-5'>器件</b>的通用<b class='flag-5'>测试</b>项目都有哪些?

    基于Moku的功率器件动态参数测试系统:精准、高效、经济的一体化测试方案

    摘要随着SiC、GaN等新型功率器件的广泛应用,功率器件动态参数测试系统响应速度、同步精度和灵活性提出了更高要求。本文基于LiquidIn
    的头像 发表于 10-31 14:09 204次阅读
    基于Moku的功率<b class='flag-5'>器件</b>动态<b class='flag-5'>参数</b><b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>系统</b>:精准、<b class='flag-5'>高效</b>、经济的一体化<b class='flag-5'>测试</b>方案

    半导体分立器件测试系统的用途及如何选择合适的半导体分立器件测试系统

    ​ 半导体分立器件测试系统是用于评估二极管、晶体管、晶闸管等独立功能器件性能的专业设备。 一、核心功能 ‌ 参数
    的头像 发表于 10-16 10:59 254次阅读
    半导体分立<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>系统</b>的用途及如何选择合适的半导体分立<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>系统</b>

    射频测试系统ATECLOUD-RF中都包含哪些设备?

    纳米软件射频测试系统ATECLOUD-RF是基于ATECLOUD平台搭建的自动化测试解决方案,主要针对天线、线缆、传感器、射频芯片等
    的头像 发表于 09-26 16:39 757次阅读
    <b class='flag-5'>射频</b><b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>系统</b>ATECLOUD-RF中都包含哪些设备?

    射频天线的电气性能该如何测试

    射频天线作为射频系统中发射和接收电磁波的关键部件,其性能直接决定了通信、雷达、导航等系统的效率和可靠性,电气性能是天线最根本的特性,反映其电信号与电磁波的转换效率。  
    的头像 发表于 09-04 18:07 750次阅读
    <b class='flag-5'>射频</b>天线的电气性能该如何<b class='flag-5'>测试</b>?

    射频微波测试系统:核心优势全景剖析

    射频微波测试系统全方面解析
    的头像 发表于 08-04 15:13 761次阅读
    <b class='flag-5'>射频</b>微波<b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>系统</b>:核心优势全景剖析

    功率器件测量系统参数明细

    输出与测量能力,满足最苛刻的功率器件静态、动态参数测试需求 选型指南: 应用领域 晶圆级测试(Chip Probing):在研发阶段快速筛选
    发表于 07-29 16:21

    半导体分立器件测试的对象与分类、测试参数测试设备的分类与测试能力

    半导体分立器件测试是对二极管、晶体管、晶闸管等独立功能半导体器件的性能参数进行系统性检测的过程,旨在评估其电气特性、可靠性和适用性。以下是主
    的头像 发表于 07-22 17:46 716次阅读
    半导体分立<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>测试</b>的对象与分类、<b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>参数</b>,<b class='flag-5'>测试</b>设备的分类与<b class='flag-5'>测试</b>能力

    一起来了解半导体分立器件测试系统

    测试法(脉宽300μs-5ms)抑制温升,结合Kelvin四线消除接触电阻误差,确保大功率器件极限参数准确性 ‌ 高效智能化操作 ‌ 单
    的头像 发表于 07-04 11:39 536次阅读
    一起来了解半导体分立<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>系统</b>

    高频交直流传感技术在射频器件与微系统测试中的创新实践

    在5G通信与智能传感技术蓬勃发展的背景下,先进电流检测方案正在重新定义电子测试的精度边界。本文探讨新一代交直流复合传感技术如何突破传统测试瓶颈,为射频功放系统与MEMS
    的头像 发表于 05-08 18:02 482次阅读
    高频交直流传感技术在<b class='flag-5'>射频</b><b class='flag-5'>器件</b>与微<b class='flag-5'>系统</b><b class='flag-5'>测试</b>中的创新实践

    SC2020晶体管参数测试仪/‌半导体分立器件测试系统介绍

    SC2020晶体管参数测试仪/‌半导体分立器件测试系统-日本JUNO测试仪DTS-1000国产平
    发表于 04-16 17:27 0次下载

    射频产品测试基础

    产线测试则是在射频芯片的生产过程中进行的,主要用于保证芯片的质量和一致性。(鸿怡电子射频芯片测试座工程师提供参数指标)二、
    的头像 发表于 02-28 10:03 1138次阅读
    <b class='flag-5'>射频</b>产品<b class='flag-5'>测试</b>基础

    探秘ERP与MES系统对接:解锁企业高效运营密码

    ERP与MES系统如同企业的左右脑,共同推动企业的稳健发展。ERP系统负责宏观的资源规划与管理,MES系统专注于生产现场的精细化管理与实时控
    的头像 发表于 01-14 11:02 789次阅读
    探秘<b class='flag-5'>ERP</b>与MES<b class='flag-5'>系统</b><b class='flag-5'>对接</b>:解锁企业<b class='flag-5'>高效</b>运营密码

    电力驱动测试系统的技术原理和应用

    参数、启动测试等。 数据处理与信息传输设备:对测试数据进行采集、处理和分析,并将结果传输给操作人员或相关系统。 现场总线控制装置:实现测试
    发表于 12-19 14:54