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基于SiC-CNT复合材料的电容式MEMS加速度计制造

MEMS 来源:MEMS 2024-04-07 10:10 次阅读
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碳化硅(SiC)被认为是微机电系统(MEMS)的优秀材料,尤其是那些在高温、高辐射和腐蚀性等具有挑战性环境中工作的微机电系统。然而,SiC的大批量微机械加工仍然存在挑战,这阻碍了复杂SiC MEMS的发展。

据麦姆斯咨询报道,为了解决上述问题,荷兰代尔夫特理工大学(TU Delft)的Sten Vollebregt副教授团队提出使用涂覆有非晶SiC(a-SiC)的碳纳米管(CNT)阵列作为替代复合材料,以实现高纵横比(HAR)表面微加工。通过使用预图案化的催化剂层,HAR CNT阵列可以作为结构模板生长,然后通过在CNT束中均匀填充低压化学气相沉积(LPCVD)a-SiC来进行致密化。

为了展示SiC-CNT复合材料在MEMS中的应用,研究团队设计、制造和测试了一款应用该材料的电容式MEMS加速度计。制备结果表明,该复合材料与表面微加工器件的制备工艺完全兼容。复合材料的杨氏模量由测得的弹簧常数中提取,结果表明,涂覆a-SiC后,CNT的机械性能有了很大改善。最后,该团队对所制造的SiC-CNT电容式MEMS加速度计进行了电学表征,并使用机械振动器确认了其功能。相关研究成果以“A high aspect ratio surface micromachined accelerometer based on a SiC-CNT composite material”为题发表在Microsystems & Nanoengineering期刊上。

本研究提出的SiC-CNT复合材料的概念如图1所示。首先,将SiO₂层沉积在硅衬底上,作为催化剂堆栈的扩散阻挡层。该氧化层也被用作表面微机械加工器件的牺牲层。然后,通过电子束蒸发生长用于CNT生长的催化剂堆叠。蒸发后,使用Aixtron Blackmagic通过化学气相沉积(CVD)生长CNT阵列。沉积速率为每分钟数十微米;然而,随着时间的推移,这一速率会逐渐降低。这种降低源于催化剂层(即本例中为Fe)的耗尽,最终导致CNT的生长终止。

CNT生长后的横截面如图1a所示,图1c显示了生长后的垂直排列的碳纳米管(VACNT)阵列的表面,其中CNT纤维通过范德华力微弱地交织在一起。最高的CNT阵列通过5分钟沉积获得,其高度为96.3 μm,如图2所示。插图中所示的测试结构的纵横比在0.96到96.3之间。CNT阵列生长后,VACNT阵列被a-SiC的LPCVD填充,如图1b所示。沉积后的结果如图1d所示。比较图1c和1d,可以看出沉积后的单个CNT纤维变得更厚。

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图1 制备SiC-CNT复合材料的基本概念示意图

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图2 生长后的VACNT阵列的SEM图像(倾斜视图)

为了展示将SiC-CNT复合材料用于HAR器件的潜力,研究人员设计、制造并表征了一种使用SiC-CNT复合材料制造的经典梳状电容式MEMS加速度计。HAR结构对于电容式MEMS传感器特别有用,因为它能有效地增加用于电容检测的表面积。

梳状结构电容式MEMS加速度计的示意图如图3a所示。该器件包括一个基准质量块、叉指状物(固定指状物锚定到衬底,可移动指状物附接到基准质量块)、固定锚和作为连接基准质量块和锚点的弹簧的折叠梁。除固定锚之外,所有结构均采用表面微机械加工工艺悬浮。

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图3 SiC-CNT电容式MEMS加速度计示意图

SiC-CNT电容式MEMS加速度计的制造工艺步骤如图4所示。

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图4 SiC-CNT电容式MEMS加速度计的制备工艺

使用SEM检测制造完成的SiC-CNT加速度计,器件的全视图如图5a所示。图5b显示了叉指状阵列。图5c显示了叉指状阵列的特写视图,其中可移动电容器板和静态电容器板之间没有发现物理接触。图5f显示了器件悬浮部分的90°倾斜视图,其中没有观察到下垂现象。

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图5 使用SEM检测制造的SiC-CNT电容式MEMS加速度计

器件制造完成后,研究人员对晶圆进行切割并在芯片级对其进行表征。他们使用Agilent 4294 精密阻抗分析仪测量MEMS加速度计的电容,结果如图6所示。

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图6 SiC-CNT电容式MEMS加速度计的电容测量

研究人员还在振动器上对SiC-CNT电容式MEMS加速度计进行了测试,以验证其对振动环境的响应。实验设置的示意图如图7a所示。器件采用双列直插式封装,并安装在振动器上(图7b)。计算结果绘制在图7d中。线性拟合的确定系数(R²)为97.38%,线性拟合曲线的斜率表明加速度计的灵敏度约为0.14 fF/g。

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图7 振动测量实验设置及结果

综上所述,这项研究工作利用涂覆有LPCVD a-SiC的VACNT阵列来制备SiC-CNT复合材料,旨在克服制造HAR-SiC结构的瓶颈。由于CNT的快速生长速率和垂直生长特性,预图案化的CNT阵列为制造HAR微结构提供了极佳的模板。通过利用CNT束的多孔性,a-SiC填料可以容易地渗入CNT模板并均匀地涂覆在每根纤维上,从而使结构致密化。SiC-CNT复合材料的电导率是a-SiC填充材料的10⁷倍。SiC-CNT复合材料的电阻率温度系数(TCR)约为−315 ppm/K,这与纯CNT的类似。SiC-CNT/TiN界面的接触电阻率为4.63 × 10⁻⁴ Ω cm²。

研究人员设计并制造了一种电容式MEMS加速度计,以演示SiC-CNT复合材料在MEMS中的应用。标称电容与设计值一致,C-V曲线表明器件已成功悬浮。SiC-CNT复合材料的杨氏模量是从测得的弹簧常数中提取的,其值为169.61 GPa。高温试验表明,该复合材料具有在恶劣环境中应用的潜力。测得的加速度计的灵敏度为0.14 fF/g(基于间接测量)。研究人员计划继续开展复合材料的机械特性测试、电容输出的实时测量以及与ASIC的集成等方面的研究工作。

论文链接:
https://doi.org/10.1038/s41378-024-00672-x



审核编辑:刘清

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原文标题:基于SiC-CNT复合材料的电容式MEMS加速度计

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