0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

浅谈芯片技术的可靠性风险

要长高 来源:epsnews 作者:Pablo Valerio 2023-11-23 14:46 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

电子供应链中的所有利益相关者都依赖于他们买卖的复杂组件的可靠性。但随着芯片技术的进步,测试所有可能的质量问题变得更具挑战性。例如,苹果的A17 Pro SoC拥有190亿个晶体管和一个6核CPU,其中两个高性能内核采用了新的台积电3纳米技术。当组件直接销售或通过授权渠道销售时,半导体制造商保证其芯片的性能。

10纳米以下晶圆厂生产的新处理器出现了更多的质量问题——有些在常规测试中很难检测出来。制造商和原始设备制造商在最终用户投诉后才发现,不得不更换整个设备并推迟生产。

一些小故障仍然是个谜。2015年,一群来自多伦多大学的计算机科学家IEEE频谱报告超过4%的谷歌云计算服务器被之前任何测试都没有检测到的错误击中,导致服务器意外停止。

然后,在2020年,AMD发表了一份报告有证据表明,当时最先进的芯片比上一代同类产品的可靠性低5.5倍。越来越多的人一致认为,随着每一代半导体的出现,这个问题正在成倍增长,尤其是在最先进的芯片中。

2021年,脸书和谷歌的研究人员发表了描述计算机硬件故障的研究,这些故障的原因不容易确定。他们认为,问题不在于软件,而在于不同公司生产的计算机硬件的某个地方。

“我们的冒险始于警惕的制作团队越来越多地抱怨累犯机器破坏数据,”谷歌工程师彼得·霍奇斯尔德在一次视频已呈现在操作系统热点话题(Hot Topics in Operating Systems)2021大会上。

Hochschild和他的团队推测,“性能和密度正在超过硅的可靠性,复杂性正在超过测试方法。”

摩尔定律与功耗

1974年,美国工程师和发明家罗伯特·h·丹纳德与人合著了一部纸认为随着晶体管变得越来越小,它们的功率密度保持不变,因此功耗与面积成比例。

根据摩尔定律,晶体管数量每两年翻一番,芯片尺寸保持不变,而Dennard scaling则表示,给定面积的总芯片功率在不同代的工艺中保持不变。

英特尔、AMD、台积电和其他公司一直在利用这两条定律制造更快、更小的处理器,从而实现了当前的移动计算生态系统。当前的笔记本电脑、平板电脑,尤其是智能手机,之所以成为可能,是因为它们在相同的面积上封装了更多的晶体管,而同样的性能需要更少的功率。

不幸的是,对于半导体行业和原始设备制造商来说,Dennard scaling不再有效。“1974年,丹纳德的标度法则被发现,并一直保持了30多年,直到2005年左右,”克里斯蒂安·马丁教授说奥格斯堡应用科学大学的教授说:“在2005年之前,器件结构大于65纳米时,漏电流可以忽略不计。”

根据内存制造商Rambus的说法,“业界普遍认为,Dennard缩放定律在2005-2007年间的某个时候失效了。正如马丁所证实的那样,由于阈值和工作电压无法再调整,因此不可能在保持各代产品功率包络不变的同时实现潜在的性能提升。”

事实上,正如马丁所展示的那样,在相同的芯片面积下,后Dennard缩放导致每代功耗增加2倍,芯片计算资源的使用减少。对于给定的芯片面积,每一代的能效只能提高40%。

收益率下降;耗电量增加了

摩尔第二定律,也叫洛克定律(以亚瑟·洛克命名)指出半导体制造厂也会随着时间呈指数增长。

随着密度和复杂性的增加,生产可用芯片的成本增加。一些半导体制造商正花费数十亿美元购买新工具,尤其是阿斯麦***。

此外,由于Dennard扩展已经死亡,芯片设计人员必须创建更多的专用内核来补偿更高的功耗。这对于云计算和人工智能应用尤其重要,在这些应用中,电源使用效率(PUE)是效率和可持续性的最终衡量标准。

最近,华为推出了新的旗舰智能手机Mate 60 Pro,据报道,它包括由中国半导体制造国际公司(SMIC)明确开发的新5G麒麟9000s处理器。最初,华为没有发布这款设备的全部规格,但是拆卸显示其采用7纳米技术。直到最近,人们还认为没有一家中国制造商拥有制造如此大规模芯片的工具。

“一些研究公司预测SMIC的7纳米工艺成品率低于50 %,与90%或更高的行业标准相比,低产量将限制出货量在200-400万片左右,不足以让华为恢复其以前在智能手机市场的主导地位,”路透社报道。

测试复杂的芯片需要新的工具

在对创新的不懈追求中,半导体行业已经达到了前所未有的里程碑,芯片使用5纳米和3纳米内核。然而,这种显著的进步也带来了令人担忧的副作用:芯片故障率不断上升。

在这种情况下,对前沿半导体进行全面、持续的可靠性测试的需求从未像现在这样明显。从过去的失败中吸取的教训,如谷歌、AMD、脸书和其他公司所强调的,强调了应对这些挑战的紧迫性。

审核编辑:黄飞

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 芯片
    +关注

    关注

    463

    文章

    54704

    浏览量

    471356
  • 摩尔定律
    +关注

    关注

    4

    文章

    641

    浏览量

    81205
  • 芯片设计
    +关注

    关注

    15

    文章

    1187

    浏览量

    56835
  • 晶体管
    +关注

    关注

    78

    文章

    10482

    浏览量

    148998
  • 半导体制造
    +关注

    关注

    8

    文章

    529

    浏览量

    26342
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    无线通信技术核心定位从 “速度竞赛” 转向超高可靠性

    “可用”升级为“可信”。 二、核心技术:筑牢超高可靠底层支撑 Wi-Fi 8的超高可靠性,依托物理层与MAC层的关键创新,从四大维度实现升级: 增强型LDPC编码 :编码块长度翻倍,大幅提升纠错能力,减少
    发表于 04-23 17:31

    浅谈车规多芯片模块可靠性验证新要求

    AEC-Q104是汽车电子协会针对 “多芯片模块(MCM)”制定的车规级可靠性验证规范,是车载高密度集成器件进入供应链的重要准入依据。
    的头像 发表于 04-22 09:50 621次阅读
    <b class='flag-5'>浅谈</b>车规多<b class='flag-5'>芯片</b>模块<b class='flag-5'>可靠性</b>验证新要求

    知识分享-嵌入式系统可靠性模型

    嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析1.3嵌入式系统可靠性模型嵌入式系统可靠性模型分为两种:串联结构模型和并联结构模型。在进行嵌入式系统设计时,为了保证部分关键环节的
    的头像 发表于 03-11 16:43 503次阅读
    知识分享-嵌入式系统<b class='flag-5'>可靠性</b>模型

    什么是高可靠性

    、如何评估PCB是否具备高可靠性? 高可靠性是结合“工程技术”与“管理艺术”的一种实践科学,稳健地产出高可靠PCB须建立一整套“规范、高效、协同、可控”的管理程序,要求工厂必须全方位管
    发表于 01-29 14:49

    灌封技术提高PCB可靠性并延长使用寿命

    灌封技术作为电子产品防护的手段之一,对电子产品起到了防潮、防霉、防盐雾的作用,增加了电子产品在恶劣环境下的可靠性,是其他防护工艺不可代替的。随着科学技术的发展,灌封材料也在不断地改进、更新,具有更高综合性能的灌封材料不断被研
    发表于 01-26 11:26

    芯片可靠性面临哪些挑战

    芯片可靠性是一门研究芯片如何在规定的时间和环境条件下保持正常功能的科学。它关注的核心不是芯片能否工作,而是能在高温、高电压、持续运行等压力下稳定工作多久。随着晶体管尺寸进入纳米级别,
    的头像 发表于 01-20 15:32 696次阅读
    <b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>可靠性</b>面临哪些挑战

    芯片可靠性(RE)性能测试与失效机理分析

    2025年9月,国家市场监督管理总局发布了六项半导体可靠性测试国家标准,为中国芯片产业的质量基石奠定了技术规范。在全球芯片竞争进入白热化的今天,可靠
    的头像 发表于 01-09 10:02 1672次阅读
    <b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>可靠性</b>(RE)性能测试与失效机理分析

    技术拆解:沃虎防水连接器如何实现IP68级可靠性

    “较真” 的测试标准,让产品可靠性从 “口头承诺” 变成 “数据支撑”,也成为工业客户选择的核心理由。 四、技术落地:从实验室数据到场景价值 某泳池设备厂商曾因普通连接器进水短路,每月故障 3 次
    发表于 12-11 09:35

    SLM2004SCA-13GTR 200V高压半桥驱动芯片可靠性与时序优化设计

    。二、核心特性:高压运行与可靠性设计 完整的200V工作电压范围,满足严苛的工业环境需求 出色的瞬态负压耐受能力,有效抑制dV/dt效应带来的误触发风险 10V至20V宽范围驱动电源电压,为系统设计提
    发表于 11-27 08:23

    车规级与消费级芯片可靠性、安全与成本差异

    引言在汽车电子和消费电子领域,"车规级"与"消费级"芯片代表了两种截然不同的设计理念和技术标准。车规级芯片专为汽车应用设计,强调在极端环境下的可靠性和安全
    的头像 发表于 11-18 17:27 1820次阅读
    车规级与消费级<b class='flag-5'>芯片</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>、安全<b class='flag-5'>性</b>与成本差异

    深入解析与使用感受:Isograph、Medini与REANA可靠性分析软件对比

    大量时间和精力进行手动分析。这不仅增加了人为错误的风险,还可能导致数据不一致,进而影响整体车辆的安全可靠性。现在市面上这类分析软件很多,本文从以下三个方面浅谈
    的头像 发表于 09-05 16:20 10次阅读
    深入解析与使用感受:Isograph、Medini与REANA<b class='flag-5'>可靠性</b>分析软件对比

    CDM试验对电子器件可靠性的影响

    和使用过程中可能面临的静电放电风险,从而优化产品设计,提高其在实际应用中的稳定性和可靠性。检测服务涵盖静电放电(ESD)测试、可靠性测试、失效分析以及AEC-Q系列认
    的头像 发表于 08-27 14:59 1309次阅读
    CDM试验对电子器件<b class='flag-5'>可靠性</b>的影响

    可靠性设计的十个重点

    专注于光电半导体芯片与器件可靠性领域的科研检测机构,能够对LED、激光器、功率器件等关键部件进行严格的检测,致力于为客户提供高质量的测试服务,为光电产品在各种高可靠性场景中的稳定应用提供坚实的质量
    的头像 发表于 08-01 22:55 1332次阅读
    <b class='flag-5'>可靠性</b>设计的十个重点

    请问49通道的触摸芯片CMS32F759/737可靠性怎么检测的?

    请问49通道的触摸芯片CMS32F759/737可靠性怎么检测的?
    发表于 07-30 16:33

    元器件可靠性领域中的 FIB 技术

    元器件可靠性领域中的FIB技术在当今的科技时代,元器件的可靠性至关重要。当前,国内外元器件级可靠性质量保证技术涵盖了众多方面,包括元器件补充
    的头像 发表于 06-30 14:51 1032次阅读
    元器件<b class='flag-5'>可靠性</b>领域中的 FIB <b class='flag-5'>技术</b>