长鑫存储”晶圆循环时间的确定方法和装置“专利获授权

长鑫存储技术有限公司授予“晶圆循环时间的确定方法和装置”专利，许可公告日为10月3日，许可公告号为cn113536572b。

据专利文摘（摘要），本申请的决定施行如晶片周期时间的方法及装置提供，获取多个站点的机台的实际生产数据，根据多个站点的机台的实际生产数据，建立随机数表，该随机数表中包括各机台的样本数据。样品数据包括晶圆处理时间、机台宕机概率、宕机修复时间和随机区间使用Monte Carlo算法和随机数表，模拟晶片在各种机台集团的生产过程模拟器模拟过程经过zhongjing圆机台每次生成的随机数随机数表中的暗号属于区间。随机数用于选择机器的状态，在模拟装置中输入组装、晶片个数、模拟数，以获得晶圆周期的时间。

这种方法可以精确地模拟晶片的周期，并计算出任何一组、晶圆的数量和模拟次数。