了解 ADC 代码错误率

随着高速模数转换器 (ADC) 采样率的提高，ADC 输出数据中的代码错误（也称为闪烁代码）问题也随之增加。代码错误定义为 ADC 输出代码中的错误超过定义的阈值。阈值通常定义为误差超过 ADC 噪声预期幅度的水平，以便在存在噪声的情况下可以轻松识别该误差。

解释误差阈值定义的另一种方法是，在给定 ADC 假定的高斯分布噪声的情况下，误差幅度发生的概率超过该幅度的预期概率。图 1 显示了在 ADC 输出样本中发现的示例代码错误。与理想的正弦波拟合相比，错误样本清晰可见，并且远远超过图中其他样本的噪声。

图 1：存在代码错误的 ADC 输出示例。

ADC 的误码率 (CER)，有时也称为字错误率 (WER) 或亚稳态错误率，定义为每个样本的平均错误数，并通过计算连续错误之间的平均样本数来测量。它通常被定义为一个数量级，例如 10 –12 个 错误/样本。因此，错误之间的平均时间取决于转换器的采样率。仅当 ADC 以测量 CER 的采样率运行时，测量的 CER 才是准确的。一般来说，降低采样率可以将 CER 提高几个数量级。

让我们看一下代码错误从何而来，看看为什么采样率是一个主要因素。

是什么让 ADC 闪闪发光？
多步 ADC 架构（例如流水线闪存 ADC 或逐次逼近寄存器 (SAR) ADC）分阶段将采样电压转换为数字位，每个连续阶段都依赖于前一阶段的结果。考虑一个基本的流水线闪存高速 ADC，如图2所示 。这个简化的 ADC 显示了两个转换级，其中每个连续级都会生成一个数字代码，可以更精细地估计输入信号。

所示ADC的操作如下：

第一级对输入电压进行采样，并使用第一级 ADC 将模拟输入信号粗略地转换为数字代码。 此阶段的闪存 ADC 的工作原理是使用高速比较器将采样电压与由 ADC 的主参考电压 (V REF ) 生成的静态参考电压进行比较。闪存比较器的输出是代表输入电压的温度计编码数字样本。

然后，转换后的温度计代码直接发送到第一级 DAC。该 DAC 输出模拟电压，该电压对应于粗略转换后的样本。

从原始输入电压中减去第一级 DAC 的输出就得到量化误差电压或残余电压 (V RES )。然后将残留物放大并重新采样（管道化）以用于第二阶段。

第二级 ADC 对 V RES进行量化 ，以获得原始模拟输入电压的更准确（更高分辨率）的估计。

图 2：流水线闪存 ADC 架构框图示例。

V RES 创建过程引入了高速决策循环。在一个采样时钟周期内，采样电压必须由第一级 ADC 转换为数字代码。数字代码必须从第一级 DAC 输出，从原始输入电压中减去，并由第二级重新采样。高速决策环路会引入代码错误，因为闪存 ADC 中的比较器具有稳定时间，该稳定时间是采样电压与 V REF之间的差值的函数 。

更简单地说，当输入电压(V CAP1 )接近比较器的参考电压(例如7*V REF /8)时，比较器需要更长的时间来稳定。理论上，如果 V CAP1 无限接近比较器的参考电压，比较器将永远不会稳定，因为它将在其线性区域中工作。

噪声会阻止这种情况实际发生，但如果比较器确实需要很长时间才能稳定，则第一级 DAC 可能会使用不正确的数字代码来输出量化的模拟电压。结果是 V RES 与第一级 ADC 的实际数字输出代码不匹配。然后，第二级 ADC 转换错误的 V RES ，这会导致代码错误。

文章来源：Embedded