0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

WAT技术详解

半导体设备与材料 来源:半导体设备与材料 2023-07-17 11:40 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

ca24ae6e-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ca47725a-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ca7d1bd0-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ca93d050-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cacf2a2e-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cb029814-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cb3487a2-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cb60887a-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cb8b8a5c-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cbb51138-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cbe39c7e-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cbf99024-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cc1b7f22-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cc4e735a-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cc7a03a8-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cca6307c-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ccdd9332-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cd17af72-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cd3fc7e6-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cd6de5a4-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cd9b5674-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cdb3689a-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cdd363d4-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cdfe937e-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ce323760-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ce734d40-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ce99496e-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cec05108-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

ceeb1938-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

cf1ed2e6-2309-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

审核编辑:汤梓红

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 芯片
    +关注

    关注

    462

    文章

    53579

    浏览量

    459475
  • 晶体管
    +关注

    关注

    78

    文章

    10277

    浏览量

    146363
  • MOS
    MOS
    +关注

    关注

    32

    文章

    1639

    浏览量

    99813

原文标题:WAT技术详解.PPT

文章出处:【微信号:半导体设备与材料,微信公众号:半导体设备与材料】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    半导体WAT测试的常见结构

    WAT(Wafer Acceptance Test)测试,也叫PCM(Process Control Monitoring),对Wafer 划片槽(Scribe Line)测试键(Test Key)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定。
    的头像 发表于 06-28 10:26 3216次阅读
    半导体<b class='flag-5'>WAT</b>测试的常见结构

    蓝牙模块技术指标详解

    蓝牙模块技术指标详解
    发表于 08-20 09:49

    资源分享:蓝牙技术详解(中文版)

    资源分享:蓝牙技术详解(中文版)
    发表于 03-28 22:50

    蓝牙技术详解中文版

    给大家学习用蓝牙技术详解(中文版).pdf (8.33 MB )
    发表于 06-09 15:55

    超级电容技术详解

    超级电容技术详解
    发表于 01-24 16:29 45次下载

    ERS electronic推出全新一代WAT330

    为晶圆级封装提供更精进的翘曲矫正技术——ERS electronic推出全新一代WAT330 慕尼黑2022年11月16日 /美通社/ -- 半导体制造业提供温度管理解决方案的领导者——ERS
    的头像 发表于 11-16 16:30 916次阅读

    ERS electronic推出全新一代WAT330

    为晶圆级封装提供更精进的翘曲矫正技术——ERS electronic推出全新一代WAT330 慕尼黑2022年11月16日 /美通社/ -- 半导体制造业提供温度管理解决方案的领导者——ERS
    的头像 发表于 11-16 20:48 1117次阅读

    基于大盾3 wat Gerber的电子管立体声放大器

    电子发烧友网站提供《基于大盾3 wat Gerber的电子管立体声放大器.zip》资料免费下载
    发表于 06-07 10:52 5次下载
    基于大盾3 <b class='flag-5'>wat</b> Gerber的电子管立体声放大器

    CP测试和WAT测试有什么区别

    本文详细介绍了在集成电路的制造和测试过程中CP测试(Chip Probing)和WAT测试(Wafer Acceptance Test)的目的、测试对象、测试内容和作用。 在集成电路的制造
    的头像 发表于 11-22 10:52 2387次阅读
    CP测试和<b class='flag-5'>WAT</b>测试有什么区别

    WAT晶圆接受测试简介

    WAT是英文 Wafer Acceptance Test 的缩写,意思是晶圆接受测试,业界也称WAT 为工艺控制监测(Process Control Monitor,PCM)。
    的头像 发表于 11-25 15:51 2862次阅读
    <b class='flag-5'>WAT</b>晶圆接受测试简介

    浅谈WAT测试类型

    虽然 WAT测试类型非常多,不过业界对于 WAT测试类型都有一个明确的要求,就是包括该工艺技术平台所有的有源器件和无源器件的典型尺寸。芯片代工厂会依据这些典型尺寸的特点,制定一套 WAT
    的头像 发表于 11-27 16:02 2396次阅读
    浅谈<b class='flag-5'>WAT</b>测试类型

    WAT基本定义的介绍

    半导体测试领域常常提到WAT,什么是WAT
    的头像 发表于 12-18 09:45 8417次阅读
    <b class='flag-5'>WAT</b>基本定义的介绍

    一文看懂晶圆测试(WAT)

    随着半导体技术的快速发展,晶圆接受测试(Wafer Acceptance Test,WAT)在半导体制造过程中的地位日益凸显。WAT测试的核心目标是确保晶圆在封装和切割前,其电气特性和工艺参数符合
    的头像 发表于 01-23 14:11 9304次阅读
    一文看懂晶圆测试(<b class='flag-5'>WAT</b>)

    盛华推出晶圆测试WAT PCM用Probe Card探针卡

    探针卡, WAT,PCM测试
    的头像 发表于 06-26 19:23 629次阅读

    晶圆制造中的WAT测试介绍

    Wafer Acceptance Test (WAT) 是晶圆制造中确保产品质量和可靠性的关键步骤。它通过对晶圆上关键参数的测量和分析,帮助识别工艺中的问题,并为良率提升提供数据支持。在芯片项目的量产管理中,WAT是您保持产线稳定性和产品质量的重要工具。
    的头像 发表于 07-17 11:43 2597次阅读