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IEC 68-2-14 试验方法 N :温度变化

宏展仪器 2023-03-08 16:53 次阅读

1.测试目的

本试验法之目的在决定试件于温度变化或温度连续变化环境下所受之影响。

2.范围

本试验法可区分为:

试验方法Na:在特定时间内快速温度变化。

试验方法Nb:在特定温度变率之温度变化。

试验方法Nc:双液体浸泡法之快速温度变化。

前二项适用于元件、装备或其它产品,第三项则适用于玻璃-金属密封及类似之产品。

3.限制

本试验法并不验证高温或低温环境效应,若欲验证此种条件,则应採用"IEC 68-2-1试验法A:冷"或"IEC 60068-2-2试验方法B:乾热"。

4.测试步骤

4.1试验方法Na:

在特定时间内快速温度变化

4.1.1 试件于试验前应依相关规范之规定执行目视检查、电性及机械检验。

4.1.2 试件型态应为无包装、不加电及使用备便之状况或其它相关规范规定之状态。试件初始条件为实验室之室温。

4.1.3 将两部温度柜分别调温至规定之高温及低温条件。

4.1.4 将试件置于低温柜中,并依规定之驻留时间进行保温。

4.1.5 将试件移于高温柜中,并依规定之驻留时间进行保温。

4.1.6 高、低温转移时间依测试条件规定执行。

4.1.7 重複步骤4.1.4及步骤4.1.5之程式计4次。

4.1.8 试验后应将试件置于标准大气条件下,并保持一定时间,使试件达到温度稳定。

回复时间参考相关规范之规定。

4.1.9 试验后试件应依相关规范之规定执行目视检查、电性及机械检验。

4.2试验方法Nb:

在特定温度变率之温度变化

4.2.1 试件于试验前应依相关规范之规定执行目视检查、电性及机械检验。

4.2.2 将试件置于温度柜内,试件形态应为无包装、不加电及使用备便之状况或其它相关规范规定之状态。试件初始条件为实验室之室温。

若有相关规范需求,试件可成为操作状态。

4.2.3 将柜温降至规定之低温条件,并依规定之驻留时间进行保温。

4.2.4 将柜温升至规定之高温条件,并依规定之驻留时间进行保温。

4.2.5 高、低温之温度变率依测试条件规定执行。

4.2.6 重複步骤4.2.3及步骤4.2.4之程式。

试验中须执行电性及机械检验。

记录电性及机械性能检测所使用之时间。

试验后应将试件置于标准大气条件下,并保持一定时间,使试件达到温度稳定。

回复时间参考相关规范之规定。

试验后试件应依相关规范之规定执行目视检查、电性及机械检验。

5.测试条件

测试条件可由以下选择适当之温度条件及试验时间或依相关规范之规定。

5.1试验方法Na:

在特定时间内快速温度变化

高温: 200, 175, 155, 125, 100, 85, 70, 55, 40, 30℃。

低温:-65, -55, -40, -25, -10, -5, 5℃。

湿度:每立方公尺空气所含蒸气需低于20公克(相当于35℃时50%相对湿 度)。

驻留时间:含温度柜之温度调整时间可为3小时、2小时、1小时、30分钟或10分钟,若无规定则订为3小时,试件置入温度柜后,温度调整时间不可超过驻留时间之十分之一。

转移时间:手动2~3分钟,自动少于30秒,小试件则少于10秒。

迴圈数:5迴圈。

试验容差:温度低于200℃之容差为±2℃。

温度介于250~1000℃之容差为测试温度之±2%。

若温度柜尺寸大小无法达到上述容差要求,容差可放宽;温度低于100℃之容差为±3℃,温度介于100~200℃之容差为±5℃(容差放宽需于报告中注明)。

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