宏展科技北京帮您整理应力筛选温度变化温度循环规范标准列表
应力筛选规范：
MIL-202C-106、107 电子及电器部件试验方法标准
MIL-781 可靠性试验方法手册
HB/Z213 机载电子设备环境应力筛选指南
HB6206 机载电子设备环境应力筛选方法
JESD22-A109-A 器密试验方法
TE000-AB-GTP-020 环境应力筛选要求与海军电子设备应用
CFR-Title47-ChapterI-68.302 美国联邦通讯委员会环境模拟
GJB/Z34 电子产品定量环境应力筛选指南
HB/Z213 组件级环境应力筛选
温度循环：
EC68-2-14 温度变化
MIL-STD-2164 电子设备环境应力筛选方法=GJB1032-1990
GJB1032-1990 电子设备环境应力筛选方法
DOD-HDBK-344 电子设备环境应力筛选=GJB/Z34-1993
NABMAT-9492 美军海军製造筛选
JISC5030 热循环试验
零件预烧试验：
MIL-STD-883,Method1008 预烧
MIL-STD-883,Method1015(IC类预烧)
MIL-STD-750,Method1038(二极体类预烧)
MIL-STD-750,Method1039 电晶体类预烧)
MIL-STD-883,Method1010 温度循环
MIL-M-38510 军用微型电路的一般规格
MIL-S-19500 半导体器件要求和特点
系统预烧：
MIL-781 可靠性设计鉴定与生产接收试验
MIL-810 美国军标环境工程考虑和实验室试验
高低温试验箱_快速温变试验箱_温度循环试验箱_冷热冲击试验箱
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