以白光干涉技术为原理的3d光学轮廓仪主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓,是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。它能够以优于纳米级的分辨率,测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数,广泛应用于光学,半导体,材料,精密机械等等领域。
结果组成
1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等;
2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等;
3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量;
5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量;
6、微电子表面分析和MEMS表征。
薄膜粗糙度测量
晶圆IC的轮廓检测
晶圆IC减薄后的粗糙度检测中图仪器3d光学轮廓仪结合结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,除测量表面形貌或测量表面轮廓外,具有的测量晶圆翘曲度功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。

对wafer减薄后无图晶圆粗糙度测量
封装制程中对Wafer的切割
对Die的轮廓分析及蚀刻深度测量 -
测量仪
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