嵌入式内存芯片的测试和修复 提高了芯片的产量和质量

汽车中蓬勃发展的电子内容已经实现了许多创新，以帮助提高汽车的安全性和舒适性，同时优化汽车的总体成本。这使得芯片的设计具有高集成度和增加的嵌入式存储器内容，允许在单个器件中实现多种功能。然而，汽车电子的快速增长在制造，维护方面带来了多重挑战。 ，以及对此类系统的支持。由于恶劣的环境和物理空间限制，汽车电子元件应设计为具有极高的可靠性，并且易于支持和维护。另一个挑战是通过显着提高制造产量来实现这些大批量产品的较低规模经济，而制造产量主要由芯片内的嵌入式存储器控制。

据SAE（汽车工程师协会）报道，汽车中的电子内容正在增长，到2010年接近40％的汽车成本将在电子产品中。典型的汽车电子设备包括多个电子控制单元（ECU），以解决从发动机管理，排放和安全控制到驾驶员信息系统（例如仪表板仪表和导航控制）的各种功能。电子设备的安全性和可靠性至关重要，因为它们在恶劣的环境条件下运行 - 40至300℃。这种性能需要强大的设计和制造流程，以确保在极端条件下运行。

汽车行业在电子子系统的设计，制造和服务方面面临着多重挑战。设计和制造工程团队在保持最高质量的产品的同时，面临着最小化设计和制造测试成本的相互矛盾的要求。对几个电子模块的有限访问给维修技术人员带来了严峻的挑战并增加了维护成本。

BIST 在过去十年中，芯片设计人员已开始采用结构化测试方法来解决其中的一些挑战。内置自测试（BIST）是许多大型设计中部署的关键测试方法之一，用于测试芯片内的逻辑和嵌入式存储器。它涉及在设计中嵌入BIST逻辑，以自动生成测试并验证设计是否存在制造缺陷，从而避免完全外部测试生成。

在汽车电子生命周期的每个阶段进行经济性测试至关重要BIST，在制造过程中可以大大降低测试成本。 BIST在最小化维护开销方面也有助于该领域。例如，ECU可以被编程为定期运行自检（由嵌入式BIST供电），可以在控制面板上进行监控。这避免了访问每个ECU的需要，其中一些ECU可能位于难以到达的汽车区域。

随着汽车电子技术的复杂化，增加了越来越多的智能，为仪表板带来了更多信息。这意味着增加电子产品中的嵌入式存储器内容由于嵌入式存储器会极大地影响芯片的整体良率，因此必须采用强大的测试和修复方法，以便以最佳的产量生产出高质量的芯片。

备件

备件b》在存储器中获得产量提高的一种方法是在制造维修期间使用冗余或备用元件。从历史上看，嵌入式存储器已经可以自我测试但不可修复。对于给定的存储器，可以使用足够的量和适当类型的冗余元件来修复嵌入式存储器。但是，确定适合给定内存的内容需要内存设计知识和所考虑的过程节点的故障历史信息。

仅此一项是一项挑战，但提供正确的冗余元素并不完全解决这个问题。了解如何检测和定位内存缺陷并分配冗余元素需要制造缺陷分布知识。借助嵌入式逻辑，我们可以通过冗余测试和修复存储器，从而提高制造良率。