以下是光隔离探头的常见测试案例及步骤,适用于验证其功能和性能:
1. 基本功能测试
目的:验证光隔离探头能否正确传输信号并实现电气隔离。
设备:信号发生器、示波器、光隔离探头、直流/交流电源。
步骤:
- 将信号发生器输出端接至光隔离探头的输入端。
- 光隔离探头输出端连接示波器。
- 发送不同频率(1kHz、10kHz、1MHz)和幅值(1V、10V、100V)的波形(正弦波、方波)。
- 观察示波器波形是否与输入一致,确认无畸变或延迟异常。
预期结果:输出波形与输入波形一致,无幅度衰减或相位偏移。
2. 隔离耐压测试
目的:验证光隔离探头的高压隔离能力。
设备:高压电源(AC/DC)、耐压测试仪、绝缘电阻测试仪。
步骤:
- 输入端施加高压(如1000V DC或AC),输出端接地。
- 使用耐压测试仪检测输入/输出端间的绝缘耐压(如5000V/分钟)。
- 测量输入和输出端之间的绝缘电阻(应≥100MΩ)。
预期结果:无击穿、漏电流低于标准值,绝缘电阻达标。
3. 响应时间与带宽测试
目的:测试探头的动态响应速度和带宽上限。
设备:高频信号发生器、高速示波器。
步骤:
- 输入高频方波(如10MHz),观察输出波形上升/下降时间。
- 逐步提高信号频率至探头标称带宽(如50MHz),观察波形是否明显衰减或失真。
预期结果:响应时间(如<10ns)和带宽符合规格书要求。
4. 温度稳定性测试
目的:验证探头在不同温度下的性能稳定性。
设备:恒温箱、信号源、示波器。
步骤:
- 将探头置于恒温箱中,分别在-20℃、25℃、60℃环境下保持1小时。
- 在每种温度下输入固定信号,记录输出波形幅度和延迟变化。
预期结果:输出波动范围小于标称值(如±2%)。
5. 长期可靠性测试
目的:验证持续工作时的稳定性。
步骤:
- 对探头连续供电并输入标称信号(如24小时不间断运行)。
- 定期记录输出波形参数(幅度、噪声等)。
预期结果:无漂移、无过热、性能参数保持稳定。
6. 抗干扰能力测试
目的:验证在高噪声环境下的信号完整性。
设备:噪声发生器、开关电源、电机负载。
步骤:
- 在探头附近引入高频噪声源(如变频器、电机启停)。
- 观察输出信号是否受到干扰(毛刺、抖动等)。
预期结果:输出信号无明显噪声叠加,隔离效果达标。
7. 安全与兼容性测试
目的:确保探头与不同设备兼容且符合安全标准。
步骤:
- 连接不同品牌的示波器或数据采集卡,验证信号匹配性。
- 检查探头的接地端子是否有效降低共模干扰。
预期结果:兼容多种设备,接地可靠,无安全隐患。
8. 实际应用场景测试
目的:模拟真实工况下的表现(如逆变器、电机驱动测试)。
案例:
- 测试电机驱动电路中的IGBT开关波形。
- 测量光伏逆变器的直流母线电压。
预期结果:准确捕捉高压/高频信号,保护后端设备。
注意事项:
- 测试高压时需穿戴绝缘防护装备。
- 校准探头前确保输入信号在量程范围内。
- 记录测试环境参数(温度、湿度)对结果的影响。
通过以上测试可全面验证光隔离探头的性能和可靠性。
Micsig光隔离探头实测案例——氮化镓GaN半桥上管测试
范围;4.Vgs信号上升时间240ns左右。(以上数据通过截屏读数)▲图4:测试结果截屏结论1.客户目标板设计合理,Vgs控制信号近乎完美;2.测试显示Vgs信号无任何震荡,共模干扰被完全抑制;3.OIP系列光隔离探头测试氮化镓半桥上管Vgs,没有引起炸管。
Micsig麦科信
2023-01-12 09:54:23
是德科技解析光隔离探头构造与特性 光隔离探头的典型测试案例
目录 什么是光隔离探头? 1. 新品探头介绍 2. 高压差分探头 vs 光隔离探头 3. 光隔离探头的应用场景 宽禁带半导体市场前景 光隔离探头的典型测试案例——上管测试(high-side
2025-03-19 09:09:16
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2024-07-30 16:04:13
光隔离探头选型指南:预算与测试需求的平衡策略
文章总结:选型需结合性能、成本与应用场景,预算和测试需求决定探头类型,高压差分探头适用于常规工业测试,光隔离探头用于高精度、高共模抑制场景。
2026-01-09 14:14:36
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共模电压下独立浮动。 还原真实信号 差分探头由于引线较长,接在电路上测量高频信号容易引起问题,如耦合周边的高 dv/dt信号使测试波形不准确;探棒寄生电容的存在,可能引起被测电路的振荡甚至会炸管。光隔离探头采用衰减
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在现代科技的快速发展与应用中,光学技术作为一种重要的应用,已经成为各个领域中不可或缺的一部分。其中,光隔离探头和差分探头作为光学技术的两个重要组成部分,各自具有独特的特点和优势。本文将对光隔离探头
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来自客户的光隔离探头实测对比 自泰克光隔离探头推出市场以来,由于其手机大小的体积、最高近30万人民币的天价和宣传中近乎完美的共模抑制比指标,在新兴的第三代半导体测试领域中,被奉为神一样的存在
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文章总结:工业自动化企业需测试高压变频器PWM波形,要求高精度、宽带宽、安全隔离,配置光隔离探头与高带宽示波器实现精准测量。
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一直存在问题,导致其产品研制受阻;工程师寻求原厂FAE技术支持,因测试结果的数据与理论数据相差悬殊,原厂FAE怀疑客户的测试手段可能存在问题,建议客户采用麦科信公司的OIP系列光隔离探头进行测试,让
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2025年12月6日,第十六届亚洲电源技术发展论坛在深圳圆满落幕。在大会颁奖环节中,麦科信科技凭借在光隔离探头领域的硬核技术积累与卓越产品表现,荣获“国产测试测量行业光隔离探头卓越奖”。
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PRBTEK PKIV6035光隔离探头凭借其85kV峰值共模电压耐受能力和高达118dB的共模抑制比,解决了SiC电机控制器测试中高地噪声淹没真实信号的行业难题。
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系列光隔离探头现场条件因该氮化镓快充PCBA设计密度很高,阻容采用0402器件,只能采用不是最优方案的同轴延长线连接(通常推荐采用MCX母座连接,可最大限度减少引
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是德科技(NYSE: KEYS )开发了一种光隔离差分探头系列,专门用于提高宽禁带 GaN 和 SiC 半导体等快速开关器件的效率和性能测试。新的电压探头将在 2025 年应用电力电子会议(APEC)上展示,是德科技的展位号为 829,同时展示的还有是德科技的 MXR B 和 HD3 系列示波器。
2025-03-11 17:15:53