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薄膜测厚选CWL法还是触针法?针对不同厚度与材质的台阶仪技术选型指南
在微电子与MEMS领域,薄膜厚度测量对薄膜沉积、产品测试及失效分析至关重要,有机半导体因低成本、室温常压易加工及“湿法”制备优势,在OLED等器件中潜力...
四探针薄膜测厚技术 | 平板显示FPD制造中电阻率、方阻与厚度测量实践
平板显示(FPD)制造过程中,薄膜厚度的实时管理是确保产品质量的关键因素。传统方法如机械触针法、显微法和光学法存在破坏样品、速度慢、成本高或局限于特定材...
薄膜测厚选台阶仪还是椭偏仪?针对不同厚度范围提供技术选型指南
在现代工业与科研中,薄膜厚度是决定材料腐蚀性能、半导体器件特性以及光学与电学性质的关键参数。精准测量此参数对于工艺优化、功能材料理解及反向工程都至关重要...
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