本文介绍了利用X射线衍射方法测量薄膜晶体沿衬底生长的错配角，可以推广测量单晶体的晶带轴与单晶体表面之....
当电子束或X射线白光照射到固体物质时能发射特征X射线谱线，这是电镜能谱元素分析或X荧光元素分析的基本....
X荧光元素分析原理是青年科学家布拉格（获诺贝尔物理学奖时仅25岁）创建的。现以创想仪器的第二代EDX....
高分辨照片可以获得材料的晶格条纹像，如下图。图中的每行亮点都代表某个方向的晶面，两列点之间的间距就代....
前言 上周的教程介绍了如何从高分辨图片中测量晶面间距。那是否可以测量某列晶格点之中的任意两个晶格点之....
前言 X射线衍射分析只是给出了晶体的结构，根据晶体结构与物相的对应关系，最终找到匹配的物相，其实相似....
利用样品的轧面（ND面）、与轧向垂直的剖面（RD面）、与横向垂直的剖面（TD面）等3个观察面的普通粉....
晶体的取向可以用极图和反极图来表征。正极图的数据采集方法被广泛应用，就是通过织构附件获得某一晶面的衍....
可以利用垂直截面图分析合金的结晶过程和相变临界温度，及结晶所得组成物。但在利用垂直截面图时，不能分析....
水平截面图如图5-79。可以利用水平截面图分析合金在不同温度下所处的相平衡状态，并可运用直线法则和重....
包晶反应结束后，液相和 α 相反应正好全部转变为 β 固溶体。
经塑性变形后，金属材料的显微组织发生了明显的改变，各晶粒中除了出现 大量的滑移带、孪晶带以外，其晶粒....
再结晶后，再继续保温或升温，会使晶粒进一步长大。
孪晶诱导细晶强化，相互交错的孪晶界将母晶分割成若干细小的晶粒，诱发Hall-Petch效应的同时也会....
冷变形金属被加热到适当温度时，在变形组织内部新的无畸变的等轴晶粒逐渐取代变形晶粒，而使形变强化效应完....
孪晶由不同位向的两部分晶体组成；
位错在晶体中的存在，使其周围原子偏离平衡位置，而导致点阵畸变和弹性应力场的产生。
位错密度为单位体积内位错线的总长度，其数学表达式
18R-LPSO 相主要存在于铸态镁稀土合金中，普遍认可其化学式为 Mg10YZn 或Mg29Y4Z....
设含位错的晶体为简单立方晶体，在其晶面ABCD上半部存在多余的半排原子面EFGH，这个半原子面中断于....
当一种组元A加到另一种组元B中形成的固体其结构仍保留为组元B的结构时，这种固体称为固溶体。B组元称为....
密排六方的位错类型，根据伯氏矢量方向与C轴夹角可分为a位错、c位错、c+a位错。在此，为了能快速理解....
当材料在外磁场作用下内部磁畴的磁化方向与外磁场方向保持一致，使得材料沿外磁场方向伸长或缩短的现象。
相交或平行于某直线的所有晶面的组合称为晶带，此直线称为晶带轴，如图1所示，其中晶带轴：[uvw]；晶....
最常见的金属晶体结构有面心立方结构、体心立方结构和密排立方结构。
最近收到老师同学们的许多问题，其中大家最想要了解的问题是“如何在透射电镜下判断位错类型(螺位错、刃位....
"在材料科学中讨论有关晶体的生长、变形、相变及性能等问题时，常需涉及晶体中原子的位置、原子列的方向（....
晶体的微观结构，是指晶体中实际质点(原子､离子或分子)的具体排列情况。
FIB技术利用配置高电流密度的Ga+ 离子枪，其最小离子束直径可达几个纳米，因此可在纳米尺度上进行金....
EBSD 分析系统的基本布局如图所示。放入扫描电镜样品室内的样品经大角度倾转后(一般倾转 65°-7....
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