FDB86135 N - Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET 深度解析
在电子工程师的日常设计中,MOSFET 的选择至关重要,它直接影响到电路的性能和稳定性。今天,我们就来深入探讨一款热门的 MOSFET——FDB86135 N - Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET。
文件下载:FDB86135-D.pdf
产品背景与系统变更
Fairchild Semiconductor 已与 ON Semiconductor 完成整合。整合过程中,部分 Fairchild 可订购的零件编号需更改,以满足 ON Semiconductor 的系统要求。由于 ON Semiconductor 产品管理系统无法处理包含下划线()的零件命名,Fairchild 零件编号中的下划线()将改为短横线(-)。所以,在使用相关器件时,务必前往 ON Semiconductor 网站核实更新后的器件编号。
FDB86135 MOSFET 特性亮点
先进技术集成
FDB86135 采用了 Fairchild Semiconductor 的先进 PowerTrench® 工艺,并融入了 Shielded Gate 技术。这种工艺在优化导通电阻的同时,还能保持卓越的开关性能。
性能参数出色
- 低导通电阻:在 (V{GS}=10 V)、(I{D}=75 A) 时,最大 (R_{DS(on)} = 3.5 mΩ),这意味着在导通状态下,MOSFET 的功率损耗更低,能有效提高电路效率。
- 快速开关速度:具备快速的开关特性,有助于减少开关过程中的能量损耗,提高电路的响应速度。
- 低栅极电荷:低栅极电荷特性使得 MOSFET 的驱动更加容易,降低了驱动电路的设计难度和功耗。
- 高功率和电流处理能力:连续漏极电流(硅限制)在 (T_{C}=25^{circ}C) 时可达 176A,脉冲漏极电流更是高达 704A,能够满足高功率应用的需求。
- 符合 RoHS 标准:环保特性符合现代电子产品的发展趋势,减少对环境的影响。
应用领域广泛
DC - DC 初级桥
在 DC - DC 初级桥电路中,FDB86135 的低导通电阻和快速开关速度能够有效提高电源转换效率,减少能量损耗。
DC - DC 同步整流
同步整流应用中,它的高性能能够确保整流过程的高效进行,提高电源的输出质量。
热插拔
在热插拔应用场景下,FDB86135 能够快速响应,保障系统的稳定性和可靠性。
关键参数详解
最大额定值
| 符号 | 参数 | 额定值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源电压 | 100 | V |
| (V_{GSS}) | 栅源电压 | ±20 | V |
| (I_{D}) | 漏极电流 - 连续(硅限制) (T_{C}=25^{circ}C) | 176 | A |
| (I_{D}) | 漏极电流 - 连续(封装限制) (T_{C}=25^{circ}C) | 120 | A |
| (I_{D}) | 漏极电流 - 连续 (T_{C}=25^{circ}C)(注 1a) | 75 | A |
| (I_{D}) | 漏极电流 - 脉冲 | 704 | A |
| (E_{AS}) | 单脉冲雪崩能量(注 3) | 658 | mJ |
| (P_{D}) | 功率耗散 - (T_{C}=25^{circ}C)(注 1a) | 227 | W |
| (P_{D}) | 功率耗散 - (T_{A}=25^{circ}C)(注 1b) | 2.4 | (W/^{circ}C) |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和储存温度范围 | -55 至 +175 | (^{circ}C) |
电气特性
关断特性
| 符号 | 参数 | 条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| (BV_{DSS}) | 漏源击穿电压 | (I{D}=250 μA),(V{GS}=0V),(T_{C}=25^{circ}C) | - | - | 100 | V |
| (frac{Delta BV{DSS}}{Delta T{J}}) | 击穿电压温度系数 | (I_{D}=250 μA),参考 (25^{circ}C) | - | 0.07 | - | (V/^{circ}C) |
| (I_{DSS}) | 零栅压漏极电流 | (V{DS}=80V),(V{GS}=0V) | - | - | 1 | μA |
| (I_{GSS}) | 栅体泄漏电流 | (V{GS}=±20V),(V{DS}=0V) | - | - | ±100 | nA |
导通特性
| 符号 | 参数 | 条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| (V_{GS(th)}) | 栅极阈值电压 | (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250 μA) | 2.0 | - | 4.0 | V |
| (R_{DS(on)}) | 静态漏源导通电阻 | (V{GS}=10V),(I{D}=75A) | - | 3.0 | 3.5 | mΩ |
| (g_{FS}) | 正向跨导 | (V{DS}=10V),(I{D}=75A) | - | 167 | - | S |
动态特性
| 符号 | 参数 | 条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| (C_{iss}) | 输入电容 | - | - | 5485 | 7295 | pF |
| (C_{oss}) | 输出电容 | (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz) | - | 2430 | 3230 | pF |
| (C_{rss}) | 反向传输电容 | - | - | 210 | - | pF |
| (Q_{g(tot)}) | 10V 时的总栅极电荷 | (V{DS}=80V),(I{D}=75A),(V_{GS}=10V) | - | 89 | 116 | nC |
| (Q_{gs}) | 栅源栅极电荷 | - | 24 | - | nC | |
| (Q_{gs2}) | 栅极电荷阈值到平台 | - | 8 | - | nC | |
| (Q_{gd}) | 栅漏“米勒”电荷 | - | 25 | - | nC |
开关特性
| 符号 | 参数 | 条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| (t_{d(on)}) | 导通延迟时间 | - | - | 22 | 54 | ns |
| (t_{r}) | 导通上升时间 | (V{DD}=50V),(I{D}=75A) | - | 54 | 118 | ns |
| (t_{d(off)}) | 关断延迟时间 | (V{GS}=10V),(R{GEN}=4.7) | - | 37 | 84 | ns |
| (t_{f}) | 关断下降时间 | - | - | 11 | 32 | ns |
漏源二极管特性
| 符号 | 参数 | 条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| (V_{SD}) | 漏源二极管正向电压 | (V{GS}=0V),(I{SD}=75A)(注 2) | - | - | 1.25 | V |
| (t_{rr}) | 反向恢复时间 | (V{GS}=0V),(I{SD}=75A),(V_{DD}=80V) | - | 72 | - | ns |
| (Q_{rr}) | 反向恢复电荷 | (dI_{F}/dt = 100A/μs) | - | 129 | - | nC |
热特性与封装信息
热特性
| 符号 | 参数 | 额定值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 结到壳热阻(注 1) | 0.66 | (^{circ}C/W) |
| (R_{θJA}) | 结到环境热阻(注 1a) | 62.5 | (^{circ}C/W) |
封装标记与订购信息
| 器件标记 | 器件 | 封装 | 卷盘尺寸 | 胶带宽度 | 数量 |
|---|---|---|---|---|---|
| FDB86135 | FDB86135 | D2 - PAK | 330mm | 24mm | 800 |
注意事项与其他信息
系统整合注意
在使用过程中,要注意零件编号的变更,及时核实更新后的器件编号,以免影响设计和采购。
产品使用限制
ON Semiconductor 产品不设计、不打算也未获授权用于生命支持系统、FDA 3 类医疗设备或具有相同或类似分类的外国医疗设备,以及任何用于人体植入的设备。如果购买或使用这些产品用于非预期或未授权的应用,买方需承担相应责任。
产品状态定义
不同的数据表标识对应不同的产品状态,如“Advance Information”表示产品处于设计阶段,规格可能随时更改;“Preliminary”表示首次生产,数据可能后续补充;“No Identification Needed”表示全面生产,但设计仍可能改进;“Obsolete”表示产品已停产,数据表仅作参考。
总之,FDB86135 N - Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET 凭借其出色的性能和广泛的应用领域,是电子工程师在设计中值得考虑的优秀选择。但在实际应用中,一定要根据具体的设计需求和条件,合理选择和使用该器件。大家在使用这款 MOSFET 时,有没有遇到过什么特别的问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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