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FDB86135 N - Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET 深度解析

lhl545545 2026-04-19 09:20 次阅读
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FDB86135 N - Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET 深度解析

电子工程师的日常设计中,MOSFET 的选择至关重要,它直接影响到电路的性能和稳定性。今天,我们就来深入探讨一款热门的 MOSFET——FDB86135 N - Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET。

文件下载:FDB86135-D.pdf

产品背景与系统变更

Fairchild Semiconductor 已与 ON Semiconductor 完成整合。整合过程中,部分 Fairchild 可订购的零件编号需更改,以满足 ON Semiconductor 的系统要求。由于 ON Semiconductor 产品管理系统无法处理包含下划线()的零件命名,Fairchild 零件编号中的下划线()将改为短横线(-)。所以,在使用相关器件时,务必前往 ON Semiconductor 网站核实更新后的器件编号。

FDB86135 MOSFET 特性亮点

先进技术集成

FDB86135 采用了 Fairchild Semiconductor 的先进 PowerTrench® 工艺,并融入了 Shielded Gate 技术。这种工艺在优化导通电阻的同时,还能保持卓越的开关性能。

性能参数出色

  • 低导通电阻:在 (V{GS}=10 V)、(I{D}=75 A) 时,最大 (R_{DS(on)} = 3.5 mΩ),这意味着在导通状态下,MOSFET 的功率损耗更低,能有效提高电路效率。
  • 快速开关速度:具备快速的开关特性,有助于减少开关过程中的能量损耗,提高电路的响应速度。
  • 低栅极电荷:低栅极电荷特性使得 MOSFET 的驱动更加容易,降低了驱动电路的设计难度和功耗。
  • 高功率和电流处理能力:连续漏极电流(硅限制)在 (T_{C}=25^{circ}C) 时可达 176A,脉冲漏极电流更是高达 704A,能够满足高功率应用的需求。
  • 符合 RoHS 标准:环保特性符合现代电子产品的发展趋势,减少对环境的影响。

应用领域广泛

DC - DC 初级桥

在 DC - DC 初级桥电路中,FDB86135 的低导通电阻和快速开关速度能够有效提高电源转换效率,减少能量损耗。

DC - DC 同步整流

同步整流应用中,它的高性能能够确保整流过程的高效进行,提高电源的输出质量。

热插拔

在热插拔应用场景下,FDB86135 能够快速响应,保障系统的稳定性和可靠性。

关键参数详解

最大额定值

符号 参数 额定值 单位
(V_{DSS}) 漏源电压 100 V
(V_{GSS}) 栅源电压 ±20 V
(I_{D}) 漏极电流 - 连续(硅限制) (T_{C}=25^{circ}C) 176 A
(I_{D}) 漏极电流 - 连续(封装限制) (T_{C}=25^{circ}C) 120 A
(I_{D}) 漏极电流 - 连续 (T_{C}=25^{circ}C)(注 1a) 75 A
(I_{D}) 漏极电流 - 脉冲 704 A
(E_{AS}) 单脉冲雪崩能量(注 3) 658 mJ
(P_{D}) 功率耗散 - (T_{C}=25^{circ}C)(注 1a) 227 W
(P_{D}) 功率耗散 - (T_{A}=25^{circ}C)(注 1b) 2.4 (W/^{circ}C)
(T{J}, T{STG}) 工作和储存温度范围 -55 至 +175 (^{circ}C)

电气特性

关断特性

符号 参数 条件 最小值 典型值 最大值 单位
(BV_{DSS}) 漏源击穿电压 (I{D}=250 μA),(V{GS}=0V),(T_{C}=25^{circ}C) - - 100 V
(frac{Delta BV{DSS}}{Delta T{J}}) 击穿电压温度系数 (I_{D}=250 μA),参考 (25^{circ}C) - 0.07 - (V/^{circ}C)
(I_{DSS}) 零栅压漏极电流 (V{DS}=80V),(V{GS}=0V) - - 1 μA
(I_{GSS}) 栅体泄漏电流 (V{GS}=±20V),(V{DS}=0V) - - ±100 nA

导通特性

符号 参数 条件 最小值 典型值 最大值 单位
(V_{GS(th)}) 栅极阈值电压 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250 μA) 2.0 - 4.0 V
(R_{DS(on)}) 静态漏源导通电阻 (V{GS}=10V),(I{D}=75A) - 3.0 3.5
(g_{FS}) 正向跨导 (V{DS}=10V),(I{D}=75A) - 167 - S

动态特性

符号 参数 条件 最小值 典型值 最大值 单位
(C_{iss}) 输入电容 - - 5485 7295 pF
(C_{oss}) 输出电容 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz) - 2430 3230 pF
(C_{rss}) 反向传输电容 - - 210 - pF
(Q_{g(tot)}) 10V 时的总栅极电荷 (V{DS}=80V),(I{D}=75A),(V_{GS}=10V) - 89 116 nC
(Q_{gs}) 栅源栅极电荷 - 24 - nC
(Q_{gs2}) 栅极电荷阈值到平台 - 8 - nC
(Q_{gd}) 栅漏“米勒”电荷 - 25 - nC

开关特性

符号 参数 条件 最小值 典型值 最大值 单位
(t_{d(on)}) 导通延迟时间 - - 22 54 ns
(t_{r}) 导通上升时间 (V{DD}=50V),(I{D}=75A) - 54 118 ns
(t_{d(off)}) 关断延迟时间 (V{GS}=10V),(R{GEN}=4.7) - 37 84 ns
(t_{f}) 关断下降时间 - - 11 32 ns

漏源二极管特性

符号 参数 条件 最小值 典型值 最大值 单位
(V_{SD}) 漏源二极管正向电压 (V{GS}=0V),(I{SD}=75A)(注 2) - - 1.25 V
(t_{rr}) 反向恢复时间 (V{GS}=0V),(I{SD}=75A),(V_{DD}=80V) - 72 - ns
(Q_{rr}) 反向恢复电荷 (dI_{F}/dt = 100A/μs) - 129 - nC

热特性与封装信息

热特性

符号 参数 额定值 单位
(R_{θJC}) 结到壳热阻(注 1) 0.66 (^{circ}C/W)
(R_{θJA}) 结到环境热阻(注 1a) 62.5 (^{circ}C/W)

封装标记与订购信息

器件标记 器件 封装 卷盘尺寸 胶带宽度 数量
FDB86135 FDB86135 D2 - PAK 330mm 24mm 800

注意事项与其他信息

系统整合注意

在使用过程中,要注意零件编号的变更,及时核实更新后的器件编号,以免影响设计和采购。

产品使用限制

ON Semiconductor 产品不设计、不打算也未获授权用于生命支持系统、FDA 3 类医疗设备或具有相同或类似分类的外国医疗设备,以及任何用于人体植入的设备。如果购买或使用这些产品用于非预期或未授权的应用,买方需承担相应责任。

产品状态定义

不同的数据表标识对应不同的产品状态,如“Advance Information”表示产品处于设计阶段,规格可能随时更改;“Preliminary”表示首次生产,数据可能后续补充;“No Identification Needed”表示全面生产,但设计仍可能改进;“Obsolete”表示产品已停产,数据表仅作参考。

总之,FDB86135 N - Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET 凭借其出色的性能和广泛的应用领域,是电子工程师在设计中值得考虑的优秀选择。但在实际应用中,一定要根据具体的设计需求和条件,合理选择和使用该器件。大家在使用这款 MOSFET 时,有没有遇到过什么特别的问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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