Onsemi NVMFD020N06C 双 N 沟道 MOSFET 解析
在电子设计领域,MOSFET 作为关键元件,其性能直接影响电路的效率和稳定性。今天我们来深入了解 Onsemi 推出的 NVMFD020N06C 双 N 沟道 MOSFET,看看它有哪些独特之处。
文件下载:NVMFD020N06C-D.PDF
一、产品特性
1. 紧凑设计
NVMFD020N06C 采用了 5x6 mm 的小尺寸封装,这对于追求紧凑设计的电子产品来说是一个巨大的优势。在如今电子产品不断追求小型化的趋势下,这种小尺寸封装能够有效节省 PCB 空间,为设计带来更多的灵活性。
2. 低损耗特性
- 低导通电阻:该 MOSFET 具有低 (R_{DS}(on)),能够最大程度地减少导通损耗。这意味着在电路中,当 MOSFET 导通时,消耗在其上的功率更小,从而提高了整个电路的效率。
- 低栅极电荷和电容:低 (Q_{G}) 和电容能够减少驱动损耗,降低了驱动电路的功耗,进一步提升了系统的能效。
3. 可焊侧翼选项
NVMFWD020N06C 提供了可焊侧翼选项,这有助于增强光学检测的效果。在生产过程中,可焊侧翼能够更方便地进行焊接质量的检测,提高了生产的良品率。
4. 汽车级认证
该产品通过了 AEC - Q101 认证,并且具备 PPAP 能力,这表明它能够满足汽车电子等对可靠性要求极高的应用场景。同时,它还符合 Pb - Free、Halogen Free/BFR Free 和 RoHS 标准,环保性能出色。
二、最大额定值
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | 60 | V |
| 栅源电压 | (V_{GS}) | ±20 | V |
| 连续漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 27 | A |
| 连续漏极电流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 19 | A |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 31 | W |
| 功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) | (P_{D}) | 15 | W |
| 连续漏极电流((T_{A}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 8 | A |
| 连续漏极电流((T_{A}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 6 | A |
| 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 3.1 | W |
| 功率耗散((T_{A}=100^{circ}C)) | (P_{D}) | 1.5 | W |
| 脉冲漏极电流((T{A}=25^{circ}C),(t{p}=10 mu s)) | (I_{DM}) | 98 | A |
| 工作结温和存储温度范围 | (T{J})、(T{stg}) | - 55 至 + 175 | (^{circ}C) |
| 源极电流(体二极管) | (I_{S}) | 25 | A |
| 单脉冲漏源雪崩能量((I{L}=5.7 A{pk})) | (E_{AS}) | 16 | mJ |
| 引线焊接回流温度(距外壳 1/8",10 s) | (T_{L}) | 260 | (^{circ}C) |
需要注意的是,超过最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。同时,热阻值会受到整个应用环境的影响,并非恒定值。
三、热阻额定值
| 参数 | 符号 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 结到壳热阻(稳态) | (R_{theta JC}) | 4.8 | (^{circ}C/W) |
| 结到环境热阻(稳态) | (R_{theta JA}) | 47 | (^{circ}C/W) |
热阻是衡量 MOSFET 散热性能的重要指标,了解这些热阻额定值有助于我们在设计散热系统时做出合理的决策。
四、电气特性
1. 关断特性
- 漏源击穿电压:(V{(BR)DSS}) 在 (V{GS}=0V),(I_{D}=250 mu A) 时为 60 V,其温度系数为 29 mV/°C。
- 零栅压漏极电流:(I{DSS}) 在 (V{GS}=0V),(T = 25^{circ}C) 时为 10 (mu A),在 (T = 125^{circ}C) 时为 250 (mu A)。
- 栅源泄漏电流:(I{GSS}) 在 (V{DS}=0V),(V_{GS}=20V) 时为 100 nA。
2. 导通特性
- 栅极阈值电压:(V{GS(TH)}) 在 (V{GS}=V{DS}),(I{D}=20 A) 时为 2.0 - 4.0 V,其负阈值温度系数为 - 7.8 mV/°C。
- 漏源导通电阻:(R{DS(on)}) 在 (V{GS}=10V),(I_{D}=4A) 时为 16.9 - 20.3 m(Omega)。
- 正向跨导:(g{fs}) 在 (V{DS}=5V),(I_{D}=4A) 时为 12 S。
- 栅极电阻:(R{G}) 在 (T{A}=25^{circ}C) 时为 1.0 (Omega)。
3. 电荷与电容特性
- 输入电容:(C_{iss}) 为 355 pF。
- 输出电容:(C{oss}) 在 (V{GS}=0V),(f = 1 MHz),(V_{DS}=30V) 时为 260 pF。
- 反向电容:(C_{rss}) 为 4.9 pF。
- 总栅极电荷:(Q_{G(TOT)}) 为 5.8 nC。
- 阈值栅极电荷:(Q_{G(TH)}) 为 1.4 nC。
- 栅源电荷:(Q{GS}) 在 (V{GS}=10 V),(V{DS}=48 V),(I{D}=4A) 时为 2.3 nC。
- 栅漏电荷:(Q_{GD}) 为 0.53 nC。
4. 开关特性
- 导通延迟时间:(t_{d(ON)}) 为 6.5 ns。
- 上升时间:(t_{r}) 为 1.4 ns。
- 关断延迟时间:(t_{d(OFF)}) 为 9.7 ns。
- 下降时间:(t_{f}) 为 4.0 ns。
5. 漏源二极管特性
- 正向电压:(V{SD}) 在 (V{GS}=0V),(I{S}=4A),(T{J}=25^{circ}C) 时为 1.2 V。
- 反向恢复电荷:(Q_{RR}) 为 12 (mu C)。
五、典型特性
文档中还给出了一系列典型特性曲线,如导通区域特性、传输特性、导通电阻与栅源电压关系、导通电阻与漏极电流和栅极电压关系、导通电阻随温度变化、漏源泄漏电流与电压关系、电容变化、栅源和漏源电压与总电荷关系、电阻性开关时间随栅极电阻变化、二极管正向电压与电流关系、安全工作区、雪崩时峰值电流与时间关系以及热响应等。这些曲线能够帮助工程师更好地了解该 MOSFET 在不同工作条件下的性能表现。
六、订购信息
| 器件标记 | 封装 | 包装 |
|---|---|---|
| NVMFD020N06CT1G | SO8FL 双封装 | 1500 / 卷带包装 |
| NVMFWD020N06CT1G | SO8FL 双封装(可焊侧翼) | 1500 / 卷带包装 |
七、机械尺寸
该 MOSFET 采用 DFN8 5x6,1.27P 双旗形(SO8FL - 双)封装,文档中给出了详细的机械尺寸图和标注,包括各个尺寸的最小值、标称值和最大值。同时,还对尺寸标注和公差等方面进行了说明,为 PCB 设计提供了准确的参考。
Onsemi 的 NVMFD020N06C 双 N 沟道 MOSFET 在紧凑设计、低损耗、可靠性等方面表现出色,适用于多种电子应用场景。作为电子工程师,在设计电路时,我们需要根据具体的应用需求,综合考虑其各项特性和参数,以确保电路的性能和稳定性。大家在实际应用中有没有遇到过类似 MOSFET 的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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