Onsemi NVMJST1D3N04C:高性能N沟道MOSFET的技术剖析
在电子设计领域,MOSFET作为功率开关器件,广泛应用于各类电路中。Onsemi推出的NVMJST1D3N04C是一款40V、1.39mΩ、386A的单N沟道功率MOSFET,下面我们来详细了解它的特性和性能。
文件下载:NVMJST1D3N04C-D.PDF
一、产品特性
1. 紧凑设计
NVMJST1D3N04C采用5x7mm的小尺寸封装(TCPAK57 5x7顶部散热封装),非常适合对空间要求较高的紧凑型设计,能有效节省电路板空间。
2. 低损耗优势
- 导通损耗低:具有低RDS(on)(漏源导通电阻),在10V时最大为1.39mΩ,可最大程度减少导通损耗,提高电路效率。
- 驱动损耗低:低Qg(栅极总电荷)和电容特性,能降低驱动损耗,减少驱动电路的功率消耗。
3. 汽车级标准
该器件通过了AEC - Q101认证,具备PPAP能力,适用于汽车电子等对可靠性要求极高的应用场景。同时,它是无铅产品,符合RoHS标准,环保性能良好。
二、最大额定值
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | VDSS | 40 | V |
| 栅源电压 | VGS | +20 | V |
| 连续漏极电流(Tc = 25°C) | ID | 386 | A |
| 连续漏极电流(Tc = 100°C) | 273 | A | |
| 功率耗散(Tc = 25°C) | PD | 375 | W |
| 功率耗散(Tc = 100°C) | 187 | W | |
| 脉冲漏极电流(TA = 25°C,tp = 10μs) | IDM | 900 | A |
| 工作结温和存储温度范围 | TJ, Tstg | -55 至 +175 | °C |
| 源极电流(体二极管) | IS | 312 | A |
| 单脉冲漏源雪崩能量(IL(pk) = 19A) | EAS | 739 | mJ |
| 焊接用引脚温度(距外壳1/8",10s) | TL | 260 | °C |
需要注意的是,超过最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。
三、热阻特性
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 结到壳稳态热阻 | RJC | 0.4 | °C/W |
| 结到环境稳态热阻(注2) | RJA | 29.2 | °C/W |
| 结到散热器顶部热阻(注2) | RJH | 1.67 | °C/W |
| 结到漏极引脚热阻 | RJL | 5.4 | °C/W |
| 结到源极引脚热阻 | RJL | 5.3 | °C/W |
这里要强调的是,整个应用环境会影响热阻值,这些值并非恒定不变,仅在特定条件下有效。
四、电气特性
1. 关断特性
- 漏源击穿电压:V(BR)DSS在VGS = 0V,ID = 250μA时为40V,温度系数为9.6mV/°C。
- 零栅压漏极电流:TJ = 25°C时,IDSS为10nA;TJ = 125°C时,IDSS为100nA。
- 栅源泄漏电流:VDS = 0V,VGS = 20V时,IGSS有相应值。
2. 导通特性
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 栅极阈值电压 | VGS(TH) | VGS = VDS,ID = 170A | 2.5 | 3.5 | V | |
| 阈值温度系数 | VGS(TH)/TJ | -8.6 | mV/°C | |||
| 漏源导通电阻 | RDS(on) | VGS = 10V,ID = 50A | 1.2 | 1.39 | mΩ | |
| 正向跨导 | gFS | VDS = 15V,ID = 50A | 145 | S |
3. 电荷和电容特性
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 输入电容 | CISS | VGS = 0V,f = 1MHz,VDS = 25V | 4300 | pF |
| 输出电容 | COSS | 2100 | pF | |
| 反向传输电容 | CRSS | 59 | pF | |
| 总栅极电荷 | QG(TOT) | VGS = 10V,VDS = 20V;ID = 50A | 65 | nC |
| 阈值栅极电荷 | QG(TH) | 13 | nC | |
| 栅源电荷 | QGS | 20 | nC | |
| 栅漏电荷 | QGD | VGS = 10V,VDS = 20V;ID = 50A | 12 | nC |
| 平台电压 | VGP | 4.7 | V |
4. 开关特性
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 导通延迟时间 | td(ON) | VGS = 10V,VDS = 20V,ID = 50A,RG = 2.5Ω | 15 | ns |
| 上升时间 | tr | 47 | ns | |
| 关断延迟时间 | td(OFF) | 36 | ns | |
| 下降时间 | tf | 9.0 | ns |
5. 漏源二极管特性
| 参数 | 符号 | 测试条件 | TJ = 25°C | TJ = 125°C | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 正向二极管电压 | VSD | VGS = 0V,IS = 50A | 0.82 - 1.2 | 0.68 | V |
| 反向恢复时间 | trr | VGS = 0V,dIS/dt = 100A/μs,IS = 50A | 63 | ns | |
| 充电时间 | ta | 34 | ns | ||
| 放电时间 | tb | 29 | ns | ||
| 反向恢复电荷 | QRR | 92 | nC |
五、典型特性曲线
文档中给出了多个典型特性曲线,展示了该MOSFET在不同条件下的性能表现,例如:
- 导通区域特性:展示了漏极电流与漏源电压的关系。
- 传输特性:体现了漏极电流与栅源电压的关系。
- 导通电阻与栅源电压、漏极电流、温度的关系:帮助工程师了解导通电阻在不同参数下的变化情况。
- 电容变化特性:显示了电容随漏源电压的变化。
- 栅源和漏源电压与总电荷的关系:有助于分析栅极驱动的特性。
- 电阻性开关时间与栅极电阻的变化:为开关电路设计提供参考。
- 二极管正向电压与电流的关系:用于评估体二极管的性能。
- 安全工作区:明确了器件在不同电压和电流条件下的安全工作范围。
- 峰值电流与雪崩时间的关系:对雪崩保护设计有重要意义。
- 热特性:展示了瞬态热阻抗随脉冲时间的变化。
六、订购信息
该器件的型号为NVMJST1D3N04CTXG,采用TCPAK57顶部散热封装(无铅),每盘3000个,以卷带形式包装。关于卷带规格的详细信息,可参考相关手册。
七、封装尺寸
文档提供了LFPAK10 7.5x5 CASE 760AG封装的详细尺寸信息,包括各引脚和封装体的尺寸、公差等,同时还给出了引脚布局和焊盘推荐。在进行PCB设计时,工程师需要严格按照这些尺寸要求进行布局,以确保器件的正常安装和性能。
在实际应用中,电子工程师需要根据具体的电路需求,结合这些特性和参数,合理选择和使用NVMJST1D3N04C MOSFET。大家在设计过程中,有没有遇到过类似MOSFET选型和应用的难题呢?欢迎在评论区分享交流。
-
MOSFET
+关注
关注
151文章
10758浏览量
234828
发布评论请先 登录
探索 onsemi NVMJST1D3N04C:高性能N沟道 MOSFET 的卓越之选
Onsemi NVMJST1D3N04C:高性能N沟道MOSFET的技术剖析
评论