onsemi NVMYS022N06C MOSFET:助力紧凑高效设计的理想之选
在电子设计领域,MOSFET作为关键的功率器件,其性能直接影响着整个系统的效率和稳定性。今天,我们就来深入了解一下onsemi推出的NVMYS022N06C单通道N沟道MOSFET,看看它有哪些独特的优势和特性。
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产品概述
NVMYS022N06C是一款专为紧凑设计而打造的MOSFET,具备60V的漏源击穿电压(V(BR)DSS)、最大23.4mΩ的导通电阻(RDS(ON))以及24.0A的连续漏极电流(ID)。其小尺寸封装(5x6 mm)非常适合对空间要求较高的应用场景,同时低RDS(ON)和低QG及电容特性,能有效降低导通损耗和驱动损耗。此外,该器件还通过了AEC - Q101认证,具备PPAP能力,并且符合无铅和RoHS标准。
关键参数与特性
最大额定值
| 在不同的温度条件下,NVMYS022N06C的各项参数表现如下: | 参数 | 符号 | 25°C值 | 100°C值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 漏源电压 | VDSS | 60 | - | V | |
| 栅源电压 | VGS | ±20 | - | V | |
| 连续漏极电流(RJC,稳态) | ID | 24.0 | 16.9 | A | |
| 功率耗散(RJC) | PD | 28.2 | 14.1 | W | |
| 连续漏极电流(RJA,稳态) | ID | 8.5 | 6.0 | A | |
| 功率耗散(RJA) | PD | 3.6 | 1.8 | W | |
| 脉冲漏极电流 | IDM | 113 | - | A | |
| 工作结温和存储温度范围 | TJ, Tstg | - 55 to +175 | - | °C | |
| 源极电流(体二极管) | IS | 23.5 | - | A | |
| 单脉冲漏源雪崩能量 | EAS | 61 | - | mJ | |
| 焊接用引脚温度 | TL | 260 | - | °C |
从这些参数可以看出,该MOSFET在不同温度环境下都能保持较好的性能,并且能够承受一定的脉冲电流和雪崩能量,具有较高的可靠性。
电气特性
关断特性
- 漏源击穿电压(V(BR)DSS):在VGS = 0 V,ID = 250 μA时,最小值为60V,并且其温度系数为24 mV/°C。
- 零栅压漏极电流(IDSS):在TJ = 25 °C时为10 μA,TJ = 125°C时为250 μA。
- 栅源泄漏电流(IGSS):在VDS = 0 V,VGS = 20 V时为100 nA。
导通特性
- 栅极阈值电压(VGS(TH)):在VGS = VDS,ID = 16 A时,典型值在2.0 - 4.0 V之间,其阈值温度系数为 - 8.3 mV/°C。
- 漏源导通电阻(RDS(on)):在VGS = 10 V,ID = 3 A时,最大值为23.4 mΩ。
电荷、电容及栅极电阻特性
- 输入电容(CISS):在VGS = 0 V,f = 1 MHz,VDS = 25 V时为328 pF。
- 输出电容(COSS):为239 pF。
- 反向传输电容(CRSS):为5 pF。
- 总栅极电荷(QG(TOT)):在VGS = 10 V,VDS = 48 V,ID = 3 A时为4.7 nC。
开关特性
在VGS = 10 V,VDS = 48 V,ID = 3 A,RG = 2.5 Ω的条件下,开关特性表现如下:
- 开启延迟时间(td(ON)):6.4 ns。
- 上升时间(tr):1.3 ns。
- 关断延迟时间(td(OFF)):9.7 ns。
- 下降时间(tf):3.9 ns。
漏源二极管特性
- 正向二极管电压(VSD):在TJ = 25°C,IS = 3 A时,典型值在0.81 - 1.2 V之间,TJ = 125°C时为0.66 V。
- 反向恢复时间(tRR):18.6 ns。
- 反向恢复电荷(QRR):6.3 nC。
典型特性曲线分析
导通区域特性
从图1的导通区域特性曲线可以看出,在不同的栅源电压(VGS)下,漏极电流(ID)随漏源电压(VDS)的变化情况。当VGS增大时,ID也相应增大,这表明MOSFET的导通能力与栅源电压密切相关。
传输特性
图2展示了不同结温(TJ)下,漏极电流(ID)与栅源电压(VGS)的关系。可以发现,随着结温的升高,ID会有所下降,这是由于温度对MOSFET的性能产生了一定的影响。
导通电阻与栅源电压及漏极电流的关系
图3和图4分别展示了导通电阻(RDS(on))与栅源电压(VGS)以及漏极电流(ID)的关系。可以看到,RDS(on)随着VGS的增大而减小,并且在不同的ID下也会有所变化。这对于工程师在设计电路时,合理选择栅源电压和漏极电流具有重要的参考价值。
导通电阻随温度的变化
图5显示了导通电阻(RDS(on))随结温(TJ)的变化情况。随着温度的升高,RDS(on)会逐渐增大,这意味着在高温环境下,MOSFET的导通损耗会增加。因此,在设计时需要考虑散热问题,以保证MOSFET的性能稳定。
电容变化特性
图7展示了电容(C)随漏源电压(VDS)的变化情况。输入电容(CISS)、输出电容(COSS)和反向传输电容(CRSS)在不同的VDS下会有不同的表现,这对于理解MOSFET的开关特性和驱动要求非常重要。
应用与注意事项
应用场景
NVMYS022N06C适用于各种需要高效功率转换和紧凑设计的应用,如电源管理、电机驱动、电池充电等领域。其良好的性能和可靠性能够满足这些应用对功率器件的要求。
注意事项
- 在使用过程中,要注意避免超过最大额定值,否则可能会损坏器件,影响其可靠性。
- 由于MOSFET的性能会受到温度的影响,因此在设计时需要考虑散热措施,确保器件在合适的温度范围内工作。
- 在进行开关操作时,要根据实际情况选择合适的栅极电阻(RG),以优化开关特性。
总结
onsemi的NVMYS022N06C MOSFET以其小尺寸、低导通损耗、低驱动损耗等优势,为电子工程师在紧凑高效设计方面提供了一个理想的选择。通过对其关键参数、特性曲线的分析,我们可以更好地了解该器件的性能和应用要求。在实际设计中,工程师可以根据具体的应用场景,合理选择和使用该器件,以实现系统的最佳性能。你在使用MOSFET时,有没有遇到过一些特别的问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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