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MOS替换方法及流程之SOA的安全操作区域

汽车电子工程知识体系 来源:未知 作者:工程师曾玲 2018-09-23 11:21 次阅读

1.1SOA:安全操作区域

1.1.1定义:

由于功率mosfet晶体管,可用于线性和/或开关操作

在汽车环境中,它们必须能够以可接受的可靠性水平耗散能量。因此,有了非常好的可靠性级别,就有必要定义这种强大的功能(多亏了SOA)。

一般来说,功率越大,晶元尺寸越大(价格越高)。

ØNXP:BUK7510-55AL:

图4:安全工作区(BUK7510-55AL)

ØIRF 3305:

图5:安全工作区(IRF 3305)

Ø英飞凌:IPP 80 n06s2-05

图6:安全工作区(IPP 80N06S2-05)

备注:

期望英飞凌MOSFET的SOA中的直流曲线

结论:

从理论上讲,新SOA比旧SOA更好。但是,只要这些SOA没有特征(仅从基本模型计算),就不可能排除观察热不稳定性的可能性。

1.2雪崩能量

1.2.1定义:

当MOSFET驱动大电流通过感应负载时,突然关闭,然后漏到源电压增加,直到击穿电压达到,从而将储存在感应负载中的能量降低,就会发生雪崩现象。

注:在雪崩现象中,MOSFET可以被所谓的“能量失效”或“电流失效”摧毁,这对应于第二次击穿。

ØNXP:BUK7510-55AL:

图4:雪崩能量(BUK7510-55AL)

ØIRF 3305:

图5:雪崩能量(IRF 3305)

Ø英飞凌:IPP 80 n06s2-05

图6:雪崩能量(IPP 80N06S2-05)

1.2.2结论:

等待雪崩测试

1.3MOSFET热保护试验期间的雪崩试验

1.3.1测试的定义

为了快速关闭MOSFET,我们在这里使用模块本身的热保护。因此,该模块是在Vbat供电全速要求,没有空气冷却。在这种情况下,几秒钟后模块激活热保护并关闭MOSFET。漏源至源电压在此阶段进行监控。

ØNXP:BUK7510-55AL:

ØIRF 3305:

Ø英飞凌:IPP 80 n06s2-05

1.3.2结论:

等待雪崩测试

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
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原文标题:MOS替换方法及流程之安全操作区域

文章出处:【微信号:QCDZYJ,微信公众号:汽车电子工程知识体系】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

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