0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

深入解析FDD3N40 / FDU3N40 N-Channel UniFET™ MOSFET

lhl545545 2026-03-29 14:30 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

深入解析FDD3N40 / FDU3N40 N-Channel UniFET™ MOSFET

一、引言

在电子工程领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)是一种至关重要的器件,广泛应用于各种电子设备中。今天我们要深入探讨的是Fairchild Semiconductor的FDD3N40 / FDU3N40 N - Channel UniFET™ MOSFET,随着Fairchild被ON Semiconductor收购,这款产品也有了新的发展背景。

文件下载:FDU3N40-D.pdf

二、收购整合相关信息

Fairchild Semiconductor已成为ON Semiconductor的一部分。由于ON Semiconductor产品管理系统的要求,Fairchild部分可订购的零件编号需要更改。具体来说,Fairchild零件编号中的下划线(_)将改为破折号(-)。大家可以访问ON Semiconductor网站(www.onsemi.com)来验证更新后的设备编号。如果对系统集成有任何疑问,可以发送电子邮件至Fairchild_questions@onsemi.com。

三、FDD3N40 / FDU3N40 MOSFET概述

(一)特点

  1. 低导通电阻:在(V{GS}=10V),(I{D}=1A)的典型条件下,(R_{DS(on)} = 3.4Omega) ,这意味着在导通状态下,器件的功率损耗较小。
  2. 低栅极电荷:典型值为4.5nC,低栅极电荷有助于降低开关损耗,提高开关速度。
  3. 低(C_{rss}):典型值为3.7pF,这对于减少反馈电容,提高器件的稳定性和抗干扰能力有重要作用。
  4. 100%雪崩测试:经过雪崩测试表明该器件具有较高的雪崩能量强度,能够在恶劣的工作条件下可靠工作。

(二)应用领域

  1. LED TV:在LED TV的电源部分,该MOSFET可以用于开关电源的设计,实现高效的电能转换。
  2. 消费电器:如各种小家电的电源控制模块,能够提供稳定的电源供应。
  3. 照明:在照明设备的驱动电路中,帮助实现高效的调光和电源管理
  4. 不间断电源(UPS):为UPS系统提供可靠的功率开关,保障电源的稳定输出。

(三)技术原理

UniFET™ MOSFET是基于平面条纹和DMOS技术的高压MOSFET家族。这种技术的优势在于能够有效降低导通电阻,提供更好的开关性能和更高的雪崩能量强度,非常适合开关电源转换器应用,如功率因数校正(PFC)、平板显示(FPD)电视电源、ATX和电子灯镇流器等。

四、电气特性分析

(一)绝对最大额定值

符号 参数 FDD3N40TM / FDU3N40TU 单位
(V_{DSS}) 漏源电压 400 V
(I_{D}) 漏极电流(连续,(T_{C}=25^{circ}C)) 2.0 A
(I_{D}) 漏极电流(连续,(T_{C}=100^{circ}C)) 1.25 A
(I_{DM}) 漏极脉冲电流 8.0 A
(V_{GSS}) 栅源电压 ± 30 V
(E_{AS}) 单脉冲雪崩能量 46 mJ
(I_{AR}) 雪崩电流 2 A
(E_{AR}) 重复雪崩能量 3 mJ
(dv/dt) 峰值二极管恢复(dv/dt) 4.5 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)),25°C以上降额 30,0.24 W,W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存储温度范围 -55 到 +150 °C
(T_{L}) 焊接时最大引脚温度(离外壳1/8”,5秒) 300 °C

从这些绝对最大额定值中,我们可以了解到该MOSFET在不同条件下的极限工作能力。例如,在高温环境下,漏极电流会有所下降,这就要求我们在设计电路时,要充分考虑温度对器件性能的影响。

(二)热特性

符号 参数 FDD3N40TM / FDU3N40TU 单位
(R_{θJC}) 结到外壳的热阻(最大) 4.2 °C/W
(R_{θJA}) 结到环境的热阻(最大) 110 °C/W

热特性参数对于散热设计非常重要。较高的热阻意味着器件在工作时产生的热量难以散发出去,可能会导致器件温度过高,影响其性能和寿命。因此,在实际应用中,我们需要根据这些热特性参数来设计合适的散热方案。

(三)电气特性详细分析

  1. 关断特性

    • (BV_{DSS}):漏源击穿电压,在(V{GS}=0V),(I{D}=250mu A)时,最小值为400V,这表明该器件能够承受较高的反向电压。
    • (Delta BV{DSS} / Delta T{J}):击穿电压温度系数,在(I_{D}=250mu A),参考温度为25°C时,典型值为0.4V/°C,说明击穿电压会随着温度的升高而增加。
    • (I_{DSS}):零栅压漏极电流,在不同的(V{DS})和温度条件下有不同的最大值,如(V{DS}=400V),(V{GS}=0V)时,最大值为1(mu A);(V{DS}=320V),(T_{C}=125^{circ}C)时,最大值为10(mu A)。
    • (I{GSSF})和(I{GSSR}):分别为正向和反向栅体泄漏电流,在特定条件下有相应的最大值。
  2. 导通特性

    • (V_{GS(th)}):栅极阈值电压,在(V{DS}=V{GS}),(I_{D}=250mu A)时,最小值为3.0V,最大值为5.0V。这意味着当栅源电压达到这个范围时,MOSFET开始导通。
    • (R_{DS(on)}):静态漏源导通电阻,在(V{GS}=10V),(I{D}=1A)时,典型值为2.8(Omega),最大值为3.4(Omega)。较低的导通电阻可以减少功率损耗。
    • (g_{FS}):正向跨导,在(V{DS}=40V),(I{D}=1A)时,典型值为2S,反映了栅源电压对漏极电流的控制能力。
  3. 动态特性

    • (C{iss})、(C{oss})和(C_{rss}):分别为输入电容、输出电容和反向传输电容,这些电容值会影响器件的开关速度和响应特性。
    • 开关特性:包括导通延迟时间(t{d(on)})、导通上升时间(t{r})、关断延迟时间(t{d(off)})和关断下降时间(t{f})等,这些参数决定了MOSFET的开关速度和效率。
    • 栅极电荷:如总栅极电荷(Q{g})、栅源电荷(Q{gs})和栅漏电荷(Q_{gd}),它们与开关过程中的能量损耗密切相关。
  4. 漏源二极管特性

    • (I_{S}):最大连续漏源二极管正向电流,最大值为2A。
    • (I_{SM}):最大脉冲漏源二极管正向电流,最大值为8A。
    • (V_{SD}):漏源二极管正向电压,在(V{GS}=0V),(I{S}=2A)时,最大值为1.4V。
    • (t_{rr}):反向恢复时间,在特定条件下典型值为210ns。
    • (Q_{rr}):反向恢复电荷,典型值为0.75(mu C)。

五、典型性能特性

文档中给出了多个典型性能特性图,如导通区域特性、转移特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化以及瞬态热响应曲线等。这些特性图可以帮助我们更直观地了解该MOSFET在不同条件下的性能表现,对于电路设计和优化具有重要的参考价值。

六、测试电路与波形

文档中还给出了多种测试电路和波形,如栅极电荷测试电路与波形、电阻性开关测试电路与波形、非钳位电感开关测试电路与波形以及峰值二极管恢复(dv/dt)测试电路与波形等。这些测试电路和波形可以帮助我们验证器件的性能,同时也为我们在实际应用中进行测试和调试提供了参考。

七、机械尺寸

文档提供了TO252(D - PAK)和TO - 251(I - PAK)两种封装的机械尺寸图,并提醒我们这些图纸可能会随时更改,建议访问Fairchild Semiconductor的在线包装区域获取最新的封装图纸。了解器件的机械尺寸对于电路板的布局和设计非常重要,我们需要确保器件能够正确安装在电路板上,并且不会与其他元件发生冲突。

八、商标、免责声明与政策

(一)商标

文档列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司拥有的众多注册商标和未注册商标,如AccuPower™、AX - CAP®等。这些商标代表了公司的品牌和技术特色。

(二)免责声明

Fairchild Semiconductor保留对产品进行更改的权利,并且不承担因产品应用或使用而产生的任何责任,也不授予专利权利或他人权利。同时,产品规格不扩展公司的全球条款和条件,特别是其中的保修条款。

(三)生命支持政策

Fairchild的产品未经公司明确书面批准,不得用于生命支持设备或系统的关键组件。这是为了确保产品的使用安全,避免因产品故障导致严重的后果。

(四)反假冒政策

Fairchild采取了强有力的措施来保护自己和客户免受假冒零件的侵害,鼓励客户直接从Fairchild或其授权经销商处购买产品,以确保产品的质量和可追溯性。

(五)产品状态定义

文档定义了不同的产品状态,如提前信息(设计中)、初步(首次生产)、无标识(全面生产)和过时(停产),帮助我们了解产品的开发和生产阶段。

九、总结

FDD3N40 / FDU3N40 N - Channel UniFET™ MOSFET具有低导通电阻、低栅极电荷、低(C_{rss})和高雪崩能量强度等优点,适用于多种应用领域。在使用该器件时,我们需要充分了解其电气特性、热特性和机械尺寸等参数,同时要遵循相关的免责声明和政策。希望通过本文的介绍,能够帮助电子工程师更好地理解和应用这款MOSFET。大家在实际应用中遇到问题时,欢迎一起交流探讨。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • MOSFET
    +关注

    关注

    151

    文章

    10745

    浏览量

    234827
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    FDB12N50TM N-Channel UniFETMOSFET:特性、应用与设计要点

    FDB12N50TM N-Channel UniFETMOSFET:特性、应用与设计要点 引言 在电子工程师的日常设计工作中,MOSFET
    的头像 发表于 03-29 10:55 224次阅读

    深入剖析FDB15N50 N-Channel UniFETMOSFET:特性、应用与设计考量

    深入剖析FDB15N50 N-Channel UniFETMOSFET:特性、应用与设计考量 在电子工程领域,
    的头像 发表于 03-29 10:55 225次阅读

    FDB38N30U N-Channel UniFET™ Ultra FRFET™ MOSFET:高性能MOSFET的技术解析

    FDB38N30U N-Channel UniFET™ Ultra FRFET™ MOSFET:高性能MOSFET的技术
    的头像 发表于 03-29 11:10 374次阅读

    FDD5N60NZ N-Channel UniFET™ II MOSFET:高性能MOSFET的技术解析

    FDD5N60NZ N-Channel UniFET™ II MOSFET:高性能MOSFET的技术解析
    的头像 发表于 03-29 11:10 207次阅读

    深入解析FDD5N50NZ - N沟道UniFET™ II MOSFET

    深入解析FDD5N50NZ - N沟道UniFET™ II MOSFET 在电子工程师的日常设计
    的头像 发表于 03-29 14:30 136次阅读

    深入解析HUF75321P3 N-Channel UltraFET Power MOSFET

    深入解析HUF75321P3 N-Channel UltraFET Power MOSFET 一、引言 在电子设计领域,功率
    的头像 发表于 04-14 15:45 111次阅读

    深入解析FDD86369 N-Channel PowerTrench® MOSFET

    深入解析FDD86369 N-Channel PowerTrench® MOSFET 一、引言 在电子工程领域,
    的头像 发表于 04-17 14:10 106次阅读

    FDD86252 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET:特性与应用解析

    FDD86252 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET:特性与应用解析 在电子设计领域,功率MOS
    的头像 发表于 04-17 14:40 53次阅读

    深入解析FDD86250 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET

    深入解析FDD86250 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET 一、引言 在电子工程领域,
    的头像 发表于 04-17 14:45 53次阅读

    深入解析FDD86250_F085 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET

    深入解析FDD86250_F085 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET 在电子工程师的日
    的头像 发表于 04-17 14:45 61次阅读

    FDD8447L 40V N - Channel PowerTrench® MOSFET:特性、参数与应用解析

    FDD8447L 40V N - Channel PowerTrench® MOSFET:特性、参数与应用
    的头像 发表于 04-17 15:20 171次阅读

    FDD86110 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET:技术特性与应用解析

    FDD86110 N-Channel Shielded Gate PowerTrench® MOSFET:技术特性与应用解析 在电子工程师的日常设计工作中,
    的头像 发表于 04-17 15:20 159次阅读

    ON Semiconductor FDD5680 N-Channel MOSFET:特性与应用解析

    ON Semiconductor FDD5680 N-Channel MOSFET:特性与应用解析 一、引言 在电子工程师的日常设计工作中,MOSF
    的头像 发表于 04-17 15:40 148次阅读

    FDD7N20TM N - 通道UniFETMOSFET技术解析及应用考量

    FDD7N20TM N - 通道UniFETMOSFET技术解析及应用考量 大家好,作为电子工程师,在日常的硬件设计开发中,
    的头像 发表于 04-17 15:45 146次阅读

    FDD2572/FDU2572 N - Channel PowerTrench® MOSFET:特性、应用与设计要点

    和开关电路中。今天我们要深入探讨的是FDD2572/FDU2572 N - Channel PowerTrench®
    的头像 发表于 04-17 16:25 51次阅读