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CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET™ Power MOSFET 深度解析

lhl545545 2026-03-05 14:35 次阅读
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CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET™ Power MOSFET 深度解析

在电子设计领域,功率 MOSFET 是至关重要的元件,其性能直接影响着电路的效率和稳定性。今天我们就来详细剖析一下德州仪器TI)的 CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET™ Power MOSFET。

文件下载:csd19535ktt.pdf

产品特性

电气性能卓越

  • 超低栅极电荷:具备超低的 (Q{g}) 和 (Q{gd}),这有助于减少开关损耗,提高开关速度,使得 MOSFET 在高频应用中表现出色。比如在一些对开关速度要求极高的电源转换电路中,超低的栅极电荷能够显著降低开关时间,提升整体效率。
  • 低导通电阻:当 (V{GS} = 10V) 时,(R{DS(on)}) 典型值为 2.8 mΩ,这意味着在导通状态下,MOSFET 的功率损耗较小,发热也相应减少,从而提高了系统的可靠性和效率。

热性能良好

  • 低热阻:拥有较低的热阻,能够快速将热量散发出去,保证 MOSFET 在工作过程中不会因为过热而损坏。例如在一些高功率应用中,良好的热性能可以确保 MOSFET 稳定工作,延长其使用寿命。
  • 雪崩额定:具备雪崩额定能力,能够承受一定的雪崩能量,增强了 MOSFET 在恶劣环境下的可靠性。

环保设计

  • 无铅端子电镀:符合环保要求,减少了对环境的污染。
  • RoHS 合规:满足 RoHS 标准,确保产品在生产和使用过程中符合环保法规。
  • 无卤:不含有卤素,进一步提高了产品的环保性能。

封装优势

采用 (D2PAK) 塑料封装,这种封装形式具有良好的散热性能和机械稳定性,方便安装和焊接,适用于各种不同的应用场景。

应用领域

热插拔应用

在热插拔电路中,CSD19535KTT 能够快速响应,实现设备的安全插拔,避免因插拔过程中的电流冲击对设备造成损坏。

电机控制

电机控制中,MOSFET 的快速开关特性和低导通电阻可以精确控制电机的转速和转矩,提高电机的效率和性能。

二次侧同步整流

在电源的二次侧同步整流电路中,CSD19535KTT 可以降低整流损耗,提高电源的转换效率。

详细规格

电气特性

参数 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
(BV_{DSS})(漏源击穿电压) (V{GS} = 0V),(I{D} = 250μA) 100 - - V
(I_{DSS})(漏源泄漏电流) (V{GS} = 0V),(V{DS} = 80V) - - 1 μA
(I_{GSS})(栅源泄漏电流) (V{DS} = 0V),(V{GS} = 20V) - - 100 nA
(V_{GS(th)})(栅源阈值电压 (V{DS} = V{GS}),(I_{D} = 250μA) 2.2 2.7 3.4 V
(R_{DS(on)})(漏源导通电阻) (V{GS} = 6V),(I{D} = 100A) - 3.2 4.1
(V{GS} = 10V),(I{D} = 100A) - 2.8 3.4
(g_{fs})(跨导) (V{DS} = 10 V),(I{D} = 100 A) - 301 - S
(C_{iss})(输入电容 (V{GS} = 0V),(V{DS} = 50V),(ƒ = 1MHz) - 6100 7930 pF
(C_{oss})(输出电容) - - 1160 1510 pF
(C_{rss})(反向传输电容) - - 29 38 pF
(R_{G})(串联栅极电阻 - - 1.4 2.8 Ω
(Q_{g})(总栅极电荷) (V{DS} = 50V),(I{D} = 100A) - 75 98 nC
(Q_{gd})(栅漏电荷) - 11 - - nC
(Q_{gs})(栅源电荷) - 25 - - nC
(Q_{g(th)})(阈值电压下的栅极电荷) - 16 - - nC
(Q_{oss})(输出电荷) (V{DS} = 50V),(V{GS} = 0V) - 210 - nC
(t_{d(on)})(导通延迟时间) (V{DS} = 50V),(V{GS} = 10V),(I{DS} = 100A),(R{G} = 0Ω) - 9 - ns
(t_{r})(上升时间) - 18 - - ns
(t_{d(off)})(关断延迟时间) - 21 - - ns
(t_{f})(下降时间) - 15 - - ns
(V_{SD})(二极管正向电压) (I{SD} = 100A),(V{GS} = 0V) - 0.9 1.1 V
(Q_{rr})(反向恢复电荷) (V{DS} = 50V),(I{F} = 100A),(di/dt = 300A/μs) - 435 - nC
(t_{rr})(反向恢复时间) - 85 - - ns

热特性

热指标 最小值 典型值 最大值 单位
(R_{theta Jc})(结到壳热阻) - - 0.5 °C/W
(R_{theta JA})(结到环境热阻) - - 62 °C/W

典型 MOSFET 特性

文档中给出了多个典型特性曲线,如瞬态热阻抗曲线、饱和特性曲线、传输特性曲线、栅极电荷曲线等。这些曲线直观地展示了 MOSFET 在不同条件下的性能表现,对于工程师进行电路设计和性能评估非常有帮助。例如,通过 (R{DS(on)}) 与 (V{GS}) 的关系曲线,工程师可以根据实际需求选择合适的栅源电压,以获得最佳的导通电阻。

产品支持与注意事项

第三方产品免责声明

TI 对第三方产品或服务的信息发布不构成对其适用性的认可,也不提供相关的保证或背书。这提醒工程师在使用第三方产品与 TI 产品结合时,需要自行评估其兼容性和可靠性。

文档更新通知

工程师可以通过访问 ti.com 上的设备产品文件夹,点击“Notifications”进行注册,以接收文档更新的每周摘要。及时了解文档更新对于掌握产品的最新信息非常重要。

支持资源

TI E2E™ 支持论坛是工程师获取快速、经过验证的答案和设计帮助的重要渠道。在这里,工程师可以搜索现有答案或提出自己的问题,获得专家的指导。

静电放电注意事项

集成电路容易受到 ESD 损坏,因此在处理和安装时需要采取适当的预防措施。ESD 损坏可能导致性能下降甚至设备完全失效,特别是对于精密集成电路,微小的参数变化都可能导致设备无法满足规格要求。

封装与订购信息

封装选项

提供了不同的订购型号,如 CSD19535KTT、CSD19535KTT.B、CSD19535KTTT、CSD19535KTTT.B,它们的封装均为 DDPAK/TO - 263 (KTT),引脚数为 2,不同型号的包装数量和载体有所不同。

包装材料信息

详细给出了磁带和卷轴的尺寸、引脚编号、象限分配等信息,以及磁带和卷轴盒的尺寸,为工程师在设计 PCB 和选择包装形式时提供了参考。

总结

CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET™ Power MOSFET 以其卓越的电气性能、良好的热性能、环保设计和多样化的应用场景,成为电子工程师在电源转换、电机控制等领域的理想选择。在使用过程中,工程师需要充分了解其规格参数和特性曲线,同时注意静电放电等问题,以确保产品的正常使用和系统的稳定性。大家在实际应用中是否遇到过类似 MOSFET 的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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