SN74ABT18652：18位收发器与寄存器扫描测试设备的深度解析

在当今复杂的电子电路设计中，对测试设备的要求越来越高，尤其是对于那些需要进行边界扫描测试的电路板组件。德州仪器（Texas Instruments）的SN74ABT18652扫描测试设备，凭借其独特的功能和出色的性能，成为了电子工程师们的得力助手。今天，我们就来深入了解一下这款设备。

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产品概述

SN74ABT18652是德州仪器SCOPE可测试性集成电路家族的一员，它集成了18位总线收发器和寄存器，并且与IEEE Std 1149.1 - 1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构兼容。这使得它能够方便地对复杂的电路板组件进行测试，大大提高了测试效率和准确性。

核心特性

• 丰富的指令集：支持IEEE Std 1149.1 - 1990所需的指令，还包括可选的INTEST、P1149.1A CLAMP和HIGHZ指令。此外，它还具备并行签名分析、伪随机模式生成、采样输入/切换输出、二进制计数以及设备识别等功能，为测试提供了更多的灵活性和可能性。
• 双边界扫描单元：每个I/O端口配备两个边界扫描单元（BSCs），可以独立捕获和控制A或B总线上的测试数据，进一步增强了测试的灵活性。

工作模式

正常模式

在正常模式下，SN74ABT18652就像一个灵活的18位总线收发器和寄存器。它既可以作为两个9位收发器使用，也可以作为一个18位收发器使用，能够实现数据从输入总线或内部寄存器的多路复用传输。

数据的流向由时钟（CLKAB和CLKBA）、选择（SAB和SBA）和输出使能（OEAB和OEBA）输入控制。例如，在A到B的数据传输中，当CLKAB从低到高转换时，A总线上的数据会被时钟信号锁存到相关寄存器中。当SAB为低电平时，实时的A数据会被选中并传输到B总线（透明模式）；当SAB为高电平时，存储的A数据会被选中并传输到B总线（寄存器模式）。当OEAB为高电平时，B输出有效；当OEAB为低电平时，B输出处于高阻抗状态。B到A的数据传输控制类似，只是使用CLKBA、SBA和OEBA输入。

测试模式

当进入测试模式时，SCOPE总线收发器和寄存器的正常操作会被禁止，测试电路被启用，用于观察和控制设备的I/O边界。此时，测试电路可以根据IEEE Std 1149.1 - 1990协议执行边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚（测试数据输入TDI、测试数据输出TDO、测试模式选择TMS和测试时钟TCK）用于观察和控制测试电路的操作。此外，测试电路还可以对数据输入进行并行签名分析，从数据输出生成伪随机模式。所有的测试和扫描操作都与测试访问端口（TAP）接口同步。

电气特性与参数

绝对最大额定值

了解设备的绝对最大额定值对于确保设备的安全和可靠性至关重要。SN74ABT18652的绝对最大额定值包括：

• 电源电压范围：在特定条件下有明确的限制，一般要注意输入电压范围，除I/O端口外和I/O端口的电压范围有所不同，分别有相应的规定。
• 输出电压和电流：输出在高电平或断电状态下的电压范围，以及低电平状态下的电流都有明确的限制。
• 其他参数：如输入钳位电流、输出钳位电流、封装热阻、存储温度范围等也都有相应的规定。需要注意的是，超过这些绝对最大额定值可能会导致设备永久性损坏。

推荐工作条件

为了使设备能够稳定、可靠地工作，需要遵循推荐的工作条件。这些条件包括电源电压、输入电压、时钟频率、脉冲持续时间、建立时间、保持时间等。例如，正常模式下时钟频率（CLKAB或CLKBA）的最小值为100MHz，测试模式下测试时钟（TCK）的最大值为50MHz。

电气特性

在推荐的工作条件下，SN74ABT18652的电气特性表现出色。例如，输入电流、输出电压、输出电流等参数都有明确的规范。这些参数对于电路设计和性能评估非常重要，工程师们在设计电路时需要根据这些参数进行合理的选择和调整。

封装与订购信息

SN74ABT18652提供LQFP - PM封装，采用托盘包装。订购时，对应的型号为SN74ABT18652PM，顶部标记为ABT18652。此外，关于封装图纸、标准包装数量、热数据、符号表示和PCB设计指南等信息，可以在德州仪器的官方网站（www.ti.com/sc/package）上获取。

总结

SN74ABT18652扫描测试设备以其丰富的功能、灵活的工作模式和出色的电气特性，为电子工程师们提供了一个强大的测试解决方案。无论是在复杂电路板的测试中，还是在对数据传输和控制有较高要求的应用中，它都能够发挥重要的作用。作为电子工程师，我们在使用这款设备时，需要充分了解其特性和参数，合理设计电路，以确保设备能够稳定、可靠地工作。大家在实际应用中有没有遇到过类似设备的使用问题呢？欢迎在评论区分享交流。