高速精密采样保持放大器AD585的深度解析
大家好,今天咱们来深入探讨一款高速、精密采样保持放大器 —— AD585。这款器件在电子工程领域有着广泛的应用,其技术细节对于工程师们来说至关重要。下面就从多个方面详细介绍它。
文件下载:AD585S.pdf
1. 产品概述与适用范围
AD585是Analog Devices公司推出的一款产品,本规格书详细介绍了其太空级版本的要求。该规格书适用于在Analog Devices公司QML认证生产线上制造的太空级合格产品,遵循MIL - PRF - 38535 Level V标准(有部分修改)。商业级产品更详细的操作说明和完整数据手册可在www.analog.com/AD585上查询,太空级产品的详细信息可参考官网http://www.analog.com/aerospace 。目前已知的型号为AD585 - 713M,是一款经过辐射测试的高速精密采样保持放大器。
大家在实际应用中,要根据具体场景选择合适的产品等级和型号,你在选择产品等级时会重点关注哪些参数呢?
2. 封装与引脚连接
2.1 封装形式
AD585 - 713M采用M(GDFP1 - F14)封装,即14引脚陶瓷扁平封装(CERPAK)。这种封装有其独特的优势,例如在一些对稳定性和可靠性要求较高的太空应用中,能更好地保护内部器件。
2.2 引脚连接
其引脚连接情况如下:
- 引脚1为 - VIN1,引脚2为 + VIN,引脚3为NULL,引脚4为 - Vs,引脚5为NULL和GND,引脚6为CH,引脚7为B、DVOUT,引脚8无说明,引脚9为RFB,引脚10为RIN,引脚11为 + Vs,引脚12为HOLD,引脚13为TTL LOGIC REF,引脚14为HOLD。合理的引脚布局方便了电路的设计和连接,大家在实际布线时,是否会提前规划好引脚的走线呢?
3. 绝对最大额定值与相关参数
3.1 绝对最大额定值
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 电源电压 | ±18V |
| 逻辑输入 | ±VS |
| 模拟输入 | ±VS |
| RIN、RFB引脚 | ±VS |
| 输出对地短路 | 无限期 |
| TTL逻辑参考对地短路 | 无限期 |
| 存储温度范围 | - 65°C 至 + 150°C |
| 环境工作温度范围(TA) | - 55°C 至 + 125°C |
| 结温(TJ) | + 150°C |
| 引脚温度(焊接,10秒) | + 300°C |
需要注意的是,除非另有说明,所有电压均以地为参考。在设计电路时,必须严格遵守这些额定值,否则可能会损坏器件,你在设计中有没有遇到过因为超出额定值而导致器件损坏的情况呢?
3.2 电源电压范围
电源电压范围为 + 5V 至 + 18Vdc 和 - 12Vdc 至 - 18Vdc。合适的电源电压是保证器件正常工作的基础,大家在选择电源时,会采取哪些措施来确保电压稳定在这个范围内呢?
3.3 热阻参数
采用cerpak(M)封装时,结到壳的热阻(ΘJC)最大为60°/W,结到环境的热阻(ΘJA)最大为140°/W。热阻参数对于评估器件的散热情况非常重要,在设计散热方案时,你会重点考虑哪些因素呢?
4. 电气参数
4.1 参数详情
| 参数 | 符号 | 条件 | 子组 | 最小值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 失调电压 | VOS | VOUT = 0V | 1,2,3 | - 3 | 3 | mV |
| 偏置电流 | IB | VIN = 0V | 1 | - 2 | 2 | nA |
| 2 | - 50 | 50 | nA | |||
| TTL参考输出 | VLREF | 50μA负载 | 1 | 1.2 | 1.6 | V |
| 2,3 | 0.8 | 1.9 | V | |||
| 逻辑输入高电压 | VIH | Hold = VLREF | 1 | 2.0 | V | |
| 2,3 | 2.0 | V | ||||
| 逻辑输入低电压 | VIL | Hold = VLREF | 1 | 0.8 | V | |
| 2,3 | 0.7 | V | ||||
| 逻辑输入电流 | IL | VS = + 18V | 1,2,3 | 50 | μA | |
| 电源电流 | ISS | RL = 无穷大 | 1,2,3 | 10 | mA | |
| 电源抑制比 | PSRR | + VS = + 5V 至 + 18V - VS = - 12V 至 - 18V VIN = VOUT = 0V | 1 | 70 | dB | |
| 采集时间 | Tacq | 10V阶跃到0.01% | 7 | 3 | μs | |
| 20V阶跃到0.01% | 5 | μs | ||||
| 下垂率 | V | VIN = 0V | 4 | 1 | mV/mS | |
| 采样到保持失调 | SHOS | VIN = 0V | 4 | - 3 | 3 | mV |
| 应用电阻失配 | ARM | 1,2,3 | 0.3 | % | ||
| 共模抑制比 | CMRR | VCM = ±10V | 1 | 80 | dB | |
| 2,3 | 77 | dB | ||||
| 压摆电流 | SL | 4 | 850 | μA | ||
| 5,6 | 600 | μA | ||||
| 输出电阻 | ROUT | IOUT = ±10mA | 1 | 0.05 | Ω | |
| 2,3 | 0.10 | Ω | ||||
| 输出电流 | IOUT | RL = 100Ω | 1 | 12 | mA |
这些参数是评估AD585性能的关键,大家在实际应用中,会重点关注哪些参数来满足特定的设计需求呢?
4.2 测试要求
| 测试要求分为不同的子组,具体如下: | 测试要求 | 子组(根据MIL - PRF - 38535,表III) |
|---|---|---|
| 中间电气参数 | 1 | |
| 最终电气参数 | 1,2,3,4,5,6 | |
| A组测试要求 | 1,2,3,4,5,6,7 | |
| C组端点电气参数 | 1 | |
| D组端点电气参数 | 1 | |
| E组端点电气参数 | 1 |
同时,PDA仅适用于子组1,且部分参数有delta限制,具体可参考表III。严格的测试要求是保证产品质量的重要环节,你在实际生产中,会如何确保测试的准确性呢?
5. 可靠性测试相关
5.1 HTRB
对于AD585,HTRB(高加速寿命试验)不适用。
5.2 老化测试
老化测试按照MIL - STD - 883方法1015测试条件D进行。
5.3 稳态寿命测试
稳态寿命测试按照MIL - STD - 883方法1005进行。这些可靠性测试是确保产品在长期使用中稳定性的重要手段,你认为还有哪些方法可以进一步提高产品的可靠性呢?
综上所述,AD585是一款性能优良的高速精密采样保持放大器,但在设计和使用过程中,需要充分考虑其各项参数和测试要求,以确保其在实际应用中能稳定可靠地工作。希望本文对大家在电子设计中有所帮助。
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