近日,第四届功率半导体产业论坛在苏州召开,作为国际公认的测试、检验和认证机构,SGS受邀出席并发表《车规功率器件可靠性认证与SiC适用性探讨》主题演讲,为车用功率半导体的可靠性验证提供系统性解决方案。
在演讲中,SGS AEC-Q认证授权签字人Niko Ren围绕车规功率器件可靠性认证体系及SiC技术汽车电子适用性展开讲解。他指出车规器件标准比消费电子更严格,并深入浅出地剖析了AEC-Q101针对分立半导体的20余项测试体系,如高温反偏、温度循环、高加速应力测试等,及AEC-Q006铜线认证的成本与性能优势;还重点介绍了AQG 324功率模块认证流程,包括功率循环、高温高湿反偏等动态应力测试,为SiC器件车规级应用提供认证方向与技术支撑。
SGS布局汽车电子产品领域检测认证多年,作为AEC汽车电子委员会成员之一,现已加入AEC-Q100/ Q101/ Q102/ Q103/ Q104/ Q200分会参与标准制定工作。为了确保车规器件的可靠性,SGS提供AEC-Q系列标准以及AQG 324认证服务,涵盖集成电路、分立半导体、光电器件、MEMS器件、被动元器件、多芯片模组和功率器件模组等领域。凭借完备的实验室设施和卓越的专业能力,SGS能够为客户提供一站式测试服务、技术支持及各类培训服务,为企业产品顺利进驻国内外市场提供高效支持。
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原文标题:SGS受邀出席第四届功率半导体产业论坛并发表主题演讲
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