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单波224Gbps误码分析仪—满足1.6T算力接口误码测试需求

联讯仪器 来源:联讯仪器 作者:联讯仪器 2025-06-09 11:17 次阅读
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01应用背景

近年来,在AI数据中心需求激增的背景下,NV、Google、Amazon等科技巨头加速部署AI算力集群,光通信行业迎来了新一轮发展机遇。

高速SERDES向1.6T升级后,AI/ML训练对系统可靠性要求更高。若光模块性能不达标,可能导致AI工作负载中断,造成重大损失。因此,设备商和光模块厂商必须严格测试算力接口的误码率,确保满足AI算力的高标准要求。

wKgZO2hGUZWAJEdLAAInECNFyOQ974.png

联讯专注于高端光电测试仪器的核心技术突破,通过高速信号处理及完整性分析的经验积累, 我们的高速误码仪系列产品实现了全新升级。作为国内率先推出并送样1.6T误码仪方案的供应商, 联讯为下一代高速光模块的测试应用提供了完善的系统解决方案。

02 PBT3058核心特点

PBT3058 - 1.6T误码分析仪

wKgZPGhGUZWAL4rLAAHMOTrSluY272.png

遵循CE1-224G / IEEE 802.3dj协议

内置水冷光口MCB Kit,模块可快捷直插测试

支持航插口外拖功能选件: Bert PG&ED/PA/EQ

针对PG和BER自动调优而设计的Link Training算法

发射机Skew Tuning &毫秒级瞬态误码捕捉

PCS层RS-FEC纠错分析

03产品线历程

时间 产品
2017年 PBT8425/MBT5210 联讯推出第一代100G误码仪进军光通讯测试
2018年 rBT1250 联讯推出10G突发误码仪
打破PON测试领域国外垄断,产品国内唯一,国际领先
2019-2021年 PBT8856/PBT8812 400G/800G误码仪相继推出,紧跟行业发展,力争技术突破
2022年 rBT2250
25G PON测试突发误码仪
25G PON测试突发误码仪发布,支持灵活配置码型时序;支持控制信号匹配,突发测试技术再上新高
2022年 MTP4104
ATE光电混合测试系统
第1代一体式误码仪发布;集成温循、模块控制、误码测试功能,为客户提供一体式模块测试解决方案
2023-2024年 MTP8104/rBT3250 800G一体式误码仪发布;50G PON测试突发误码仪发布
针对行业实际需求,持续对产品优化精进
2025年 PBT3058 国内首台1.6T测试应用误码仪发布;可外拓型测试模块,光/电口混合测试,多功能集成

04功能与应用

wKgZO2hGUZWAOPa3AAHzgjlQi-8720.png

光口选件

内置水冷MCB Kit,支持模块直插测试 (OSFP/QSFP-DD)

可应用于测试站的参考光源

CMIS/VDM集成接口

便于研发调测,可用于模块协议测试及信息烧写

电口选件

提供航空插口,支持外拖BERT探头

可以大大减少系统链路损耗,空间部署灵活

信号调理选件

PA-外拖放大器选件

EQ-外拖EQ选件

高速信号必备调理单元

106.25GBd PAM4自环误码测试零误码

精准体现待测件真实测试指标

过直方图直接体现接收机信号质量

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wKgZPGhGUZSASrRbAAAtRfjCfzs519.png

兼容适配不同光模块测试

实际测试1.6T LRO光模块

70℃高温下,不同光强测试结果如下:

wKgZPGhGUZSAS_TBAABVKhQcLU8623.png

支持毫秒级瞬态误码采样分析,可将统

计精度提高至10ms级别

更好地捕捉和分析瞬态误码特征

wKgZPGhGUZWAb7haAAIiLRUS1dY657.png

支持PCS层RS-FEC误码纠错分析

wKgZO2hGUZSAU_hrAADymRthHpI472.png

wKgZPGhGUZSAd-R7AADqP06Fkeo703.png

支持通过DCA校准或S21文件去嵌的方式

自动配置输出端口FFE taps

从而均衡补偿由PCB trace、线缆,连接器带来的系统链路损耗

wKgZPGhGUZWAXoBbAALxPdOyQwM819.png

通过DCA校准,配置FFE taps

wKgZPGhGUZWAY9LHAAE42QPCIVk113.png

wKgZO2hGUZSAK1IkAAAeJWHc8bM064.png

输入S21文件,自动配置FFE taps

发射端口差分信号相位Skew可调

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wKgZO2hGUZWAUUFZAADNsqC0gKc284.png

05结语

联讯仪器近日正式发布完整的1.6T算力接口测试解决方案,该方案涵盖DCA1065采样示波器、CR3302时钟恢复单元及PBT3058误码分析仪三大核心设备,为下一代AI光互连(如1.6T光模块、CPO共封装光学及高速SerDes接口)提供高精度、全链路的测试支持,助力行业突破高速数据传输瓶颈。

审核编辑 黄宇

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