0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

芯干线GaN/SiC功率器件如何优化开关损耗

芯干线科技 来源:芯干线科技 2025-05-07 13:55 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

在功率器件的世界里,开关损耗是一个绕不开的关键话题。

对于追求高效能的现代电子设备而言,理解并优化开关损耗至关重要。

PART.01功率器件的 “开关损耗” 究竟是什么?

功率器件在电路中承担着控制电流通断的重任。开关损耗,简单来说,就是功率管在开通和关断过程中产生的功率损耗,它包括开通损耗和关断损耗。

当功率管开通时,其电压不会瞬间降至零,电流也不会立刻上升到负载电流,二者存在一个交叠区,此时便产生了开通损耗。同理,关断时,功率管的电流不会马上变为零,电压却已开始上升,这一过程同样会导致损耗,即关断损耗。

另外,在开关电源中,对大型mos管进行开关操作时,对寄生电容的充放电也会引发开关损耗。开关损耗与开关频率成正比,频率越高,损耗越大。

在硬开关电路中,每次开关动作的导通和关断过程中,电压与电流的交叠会产生开关损耗。开关损耗的计算公式为:单次开关损耗×开关频率。当开关频率提高时,单位时间内的开关次数增加,由于硬开关的每次动作的损耗(由电压、电流的交叠时间决定)基本固定,总开关损耗会与频率成正比增加‌。而且,一般情况下,截止损耗要比导通损耗大得多。

PART.02 GaN/SiC 如何优化开关损耗?

GaN作为第三代半导体材料,具有卓越的性能。其电子迁移率极高,这使得功率器件能够在更短的时间内完成开关动作。开关时间大幅缩短,意味着电流与电压交叠的时间减少,从而直接降低了开关损耗。并且,GaN晶体管没有体二极管,避免了体二极管反向恢复过程中产生的额外损耗。

在实际应用中,例如在高频开关电源里,使用GaN功率器件,开关频率可以轻松提升至几百kHz甚至更高,同时保持较低的开关损耗,极大地提高了电源的转换效率。

SiC同样是优化开关损耗的一把好手。它的击穿电场强度高,能够承受更高的电压,降低了器件导通电阻。在开关过程中,较低的导通电阻意味着更小的电流损耗。而且,SiC MOSFET的体二极管反向恢复时间极短,减少了关断时的损耗。

当应用于高压大功率场景,如电动汽车的充电桩、工业逆变器等,SiC功率器件凭借其低开关损耗的特性,能显著提升系统效率,减少能源浪费。

PART.03芯干线:将 GaN/SiC 优势发挥到极致

芯干线专注于功率器件领域,深刻洞察GaN和SiC的潜力,并将其充分运用到产品中。我们的GaN和SiC功率器件产品,经过精心设计与严格测试,在优化开关损耗方面表现出色。

以芯干线的氮化镓充电器为例,利用GaN材料低开关损耗的特性,实现了高功率输出与快速充电,同时保持小巧的体积和较低的发热。在工业应用中,芯干线的碳化硅功率模块,助力提升电力转换系统的效率,降低运营成本。

‌芯干线GaN/SiC功率器件产品通过采用高频、高压、高温下的高性能材料,提升产品性能,降低系统损耗,从而显著提高了功率转换效率‌。所以,选择芯干线的GaN/SiC功率器件产品,就是选择高效、低耗的解决方案,为您的电子设备和系统注入强大动力,开启节能高效的新征程。

关于芯干线

芯干线科技是一家由功率半导体资深海归博士、电源行业市场精英和一群有创业梦想的年轻专业人士所创建宽禁带功率器件原厂。2022年被评为规模以上企业,2023年国家级科技型中小企业、国家级高新技术企业,通过了ISO9001生产质量管理体系认证。在2024年通过了IATF16949汽车级零部件生产质量管理体系认证。

公司自成立以来,深耕于功率半导体Si MOS & IGBT、GaN HEMT、SiC MOS & SBD、IGBT 和 SiC Module等功率器件及模块的研发和销售。产品被广泛应用于消费、光伏、储能、汽车、Ai服务器、工业自动化等能源电力转换与应用领域。

公司总部位于南京,分公司遍布深圳、苏州、江苏等国内多地,并延伸至北美与台湾地区,业务版图不断拓展中。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 功率器件
    +关注

    关注

    43

    文章

    2053

    浏览量

    94576
  • SiC
    SiC
    +关注

    关注

    32

    文章

    3502

    浏览量

    68070
  • GaN
    GaN
    +关注

    关注

    21

    文章

    2326

    浏览量

    79211
  • 开关损耗
    +关注

    关注

    1

    文章

    72

    浏览量

    13848

原文标题:芯课堂 | 开关损耗与GaN/SiC的优化魔法

文章出处:【微信号:Xinkansen,微信公众号:芯干线科技】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    LMG3410R070RWHR 高性能 GaN 功率器件

    特征●高性能GaN技术:具有超低输入和输出电容,零反向恢复特性,可将开关损耗降低约80%,同时低开关节点振铃可降低EMI。●可调节驱动强度:通过RDRV引脚连接电阻
    的头像 发表于 11-29 11:25 63次阅读
    LMG3410R070RWHR   高性能 <b class='flag-5'>GaN</b> <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>

    应用指导 | CGAN003: GaN switching behavior analysis

    云镓半导体应用指导CGAN003:GaNswitchingbehavioranalysis众所周知,GaN功率器件具有传统功率器件无可比拟的
    的头像 发表于 11-11 13:45 107次阅读
    应用指导 | CGAN003: <b class='flag-5'>GaN</b> switching behavior analysis

    应用指导 | CGAN005: GaN FET SPICE model simulation

    开关损耗,从而提供更优的整体效率,这使得GaN器件在高频、高效率的应用中展现出明显优势。我们的应用指导将帮助客户更好地使用云镓的GaN器件
    的头像 发表于 11-11 13:44 120次阅读
    应用指导 | CGAN005: <b class='flag-5'>GaN</b> FET SPICE model  simulation

    Leadway GaN系列模块的功率密度

    开关速度可达硅基的10倍。这一特性使得GaN模块在高频应用中损耗更低,允许通过提升开关频率(如10MHz以上)缩小电感、变压器等被动元件尺寸,从而直接提升
    发表于 10-22 09:09

    如何平衡IGBT模块的开关损耗和导通损耗

    ,增加开关损耗;反之,优化开关速度可能牺牲导通特性。以下是针对实际应用的平衡优化策略,结合最新技术进展和实践案例。
    的头像 发表于 08-19 14:41 2087次阅读

    电源功率器件篇:线路寄生电感对开关器件的影响

    极驱动电路,通过自适应控制门极电流,降低寄生电感引起的振荡。 有源门极驱动电路可以根据开关器件的工作状态实时调整门极驱动信号的强度和波形,优化开关过程,减少电压尖峰和开关损耗。 线路寄
    发表于 07-02 11:22

    SiC MOSFET计算损耗的方法

    本文将介绍如何根据开关波形计算使用了SiC MOSFET的开关电路中的SiC MOSFET的损耗。这是一种在线性近似的有效范围内对
    的头像 发表于 06-12 11:22 1943次阅读
    <b class='flag-5'>SiC</b> MOSFET计算<b class='flag-5'>损耗</b>的方法

    交流充电桩负载能效提升技术

    功率器件与拓扑优化 宽禁带半导体器件应用 传统硅基IGBT/MOSFET因开关损耗高,限制了系统效率。采用碳化硅(
    发表于 05-21 14:38

    GaNSiC功率器件深度解析

    本文针对当前及下一代电力电子领域中市售的碳化硅(SiC)与氮化镓(GaN)晶体管进行了全面综述与展望。首先讨论了GaNSiC器件的材料特性
    的头像 发表于 05-15 15:28 1497次阅读
    <b class='flag-5'>GaN</b>与<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>深度解析

    功率器件开关功耗测试详细步骤 HD3示波器轻松搞定MOSFET开关损耗测试

    功率器件(MOSFET/IGBT) 是开关电源最核心的器件同时也是最容易损坏的器件之一。在开关
    发表于 05-14 09:03 1090次阅读
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>开关</b>功耗测试详细步骤 HD3示波器轻松搞定MOSFET<b class='flag-5'>开关损耗</b>测试

    SiC MOSFET 开关模块RC缓冲吸收电路的参数优化设计

    0  引言SiC-MOSFET 开关模块(简称“SiC 模块”)由于其高开关速度、高耐压、低损耗的特点特别适合于高频、大
    发表于 04-23 11:25

    逆变电路中功率器件损耗分析

    在研究逆变电路的损耗时,所使用的功率器件选型也非常重要。不仅要实现预期的电路工作和特性,同时还需要进行优化以将损耗降至更低。本文将
    的头像 发表于 03-27 14:20 1623次阅读
    逆变电路中<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>的<b class='flag-5'>损耗</b>分析

    基于LTSpice的GaN开关损耗的仿真

    基于LTSpice的GaN开关损耗的仿真
    的头像 发表于 03-13 15:44 2060次阅读
    基于LTSpice的<b class='flag-5'>GaN</b><b class='flag-5'>开关损耗</b>的仿真

    MOSFET开关损耗和主导参数

    本文详细分析计算开关损耗,并论述实际状态下功率MOSFET的开通过程和自然零电压关断的过程,从而使电子工程师知道哪个参数起主导作用并更加深入理解MOSFET。 MOSFET开关损耗 1 开通
    发表于 02-26 14:41

    干线科技出席高功率密度GaN数字电源技术交流会

    干线与世纪电源网强强联手、倾心打造的“高功率密度 GaN 数字电源技术交流会”,于近日盛大启幕!
    的头像 发表于 12-24 15:24 1196次阅读