芯片清洗机(如硅片清洗设备)是半导体制造中的关键设备,主要用于去除硅片表面的颗粒、有机物、金属污染物和氧化层等,以确保芯片制造的良率和性能。以下是其在不同工艺环节的应用:
1. 光刻前清洗
目的:去除硅片表面的颗粒、有机物和氧化层,确保光刻胶均匀涂覆。
清洗对象:
颗粒污染:通过物理或化学方法(如SC1槽的碱性清洗)剥离硅片表面的微小颗粒。
有机物残留:清除光刻胶残渣或前道工艺留下的有机污染物(如SC2槽的酸性清洗)。
自然氧化层:用氢氟酸(HF)去除硅片表面的原生氧化层(SiO₂),保证光刻胶与硅片的粘附性。
2. 光刻后清洗
目的:去除光刻显影后的残留光刻胶和显影液。
清洗方法:
湿法去胶:使用有机溶剂(如丙酮、NMP)或硫酸/双氧水混合液溶解光刻胶。
等离子体去胶:通过氧气等离子体将光刻胶氧化分解为挥发性气体(干法清洗)。
3. 蚀刻后清洗
目的:去除蚀刻过程中产生的副产物(如聚合物、金属残留)和蚀刻液残留。
清洗对象:
蚀刻颗粒:干法蚀刻(如反应离子刻蚀)可能生成聚合物或金属氟化物,需通过清洗去除。
化学残留:湿法蚀刻后需清除蚀刻液(如氢氟酸、磷酸)的残留,避免腐蚀后续层。
4. 薄膜沉积前清洗
目的:确保沉积表面(如CVD、PVD)的洁净度,避免杂质影响薄膜均匀性。
清洗重点:
金属污染:使用SC2槽(盐酸/双氧水)去除硅片表面的金属离子(如Fe、Cr)。
氧化层修复:通过HF清洗去除自然氧化层,保证薄膜与硅基底的附着力。
5. 封装前清洗
目的:去除切割、划片等工艺中引入的污染物(如切削液、灰尘),防止封装后器件失效。
清洗方法:
超声波清洗:结合化学溶剂(如去离子水、IPA)去除颗粒和有机物。
等离子体清洗:用于去除封装界面的有机物或氧化层,提升粘接可靠性。
6. 其他关键环节
化学机械研磨(CMP)后清洗:去除研磨液残留和划伤碎片。
离子注入后清洗:清除注入过程中产生的氧化物和杂质。
外延生长前清洗:确保外延层与衬底的晶格匹配性。
芯片清洗机是半导体制造的核心设备,贯穿光刻、蚀刻、沉积、封装等全流程,通过去除颗粒、有机物、金属及氧化层等污染物,提升表面洁净度与工艺均匀性,同时修复表面损伤,为EUV光刻、先进封装等高精度制程提供基础保障。不同工艺环节需结合湿法/干法清洗技术及特定化学配方,针对污染类型和工艺需求实现高效清洁。
审核编辑 黄宇
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