LMG3425R050 GaN FET 具有集成驱动器和保护功能,针对开关模式电源转换器,使设计人员能够将功率密度和效率提高到新的水平。
该LMG3425R050集成了硅驱动器,可实现高达 150V/ns 的开关速度。与分立硅栅极驱动器相比,TI 的集成精密栅极偏置可实现更高的开关 SOA。这种集成与 TI 的低电感封装相结合,可在硬开关电源拓扑中提供干净的开关和最小的振铃。可调节的栅极驱动强度允许控制 20V/ns 至 150V/ns 的转换速率,可用于主动控制 EMI 并优化开关性能。
*附件:LMG3425R050 600 V 50 mΩ GaN FET,具有集成驱动器、保护和温度报告功能数据表.pdf
高级电源管理功能包括数字温度报告、故障检测和理想二极管模式。GaN FET 的温度通过可变占空比 PWM 输出报告,从而简化了器件负载管理。报告的故障包括过流、短路、过热、VDD UVLO 和高阻抗 RDRV 引脚。理想二极管模式通过启用死区时间控制来降低第三象限损耗。
特性
- 符合 JEDEC JEP180 硬开关拓扑的要求
- 600V 硅基氮化镓 FET,带集成栅极驱动器
- 集成高精度栅极偏置电压
- 200V/ns FET 抑制
- 3.6MHz 开关频率
- 20V/ns 至 150V/ns 转换速率,用于优化开关性能和 EMI 抑制
- 采用 7.5V 至 18V 电源供电
- 强大的保护
- 逐周期过流和锁存短路保护,具有 < 100ns 响应
- 在硬开关时可承受 720V 浪涌
- 针对内部过热和 UVLO 监控进行自我保护
- 高级电源管理
- 数字温度 PWM 输出
- 理想二极管模式可降低第三象限损耗
参数
方框图

1. 产品概述
2. 主要特性
- 高集成度:集成硅驱动器,支持高达150V/ns的开关速度
- 高效率:硬开关拓扑下,相比离散硅栅极驱动器,具有更高的开关SOA
- 保护功能:过流保护、短路保护、过温保护、欠压锁定(UVLO)监测、高阻抗RDRV引脚保护
- 温度管理:数字温度PWM输出,理想二极管模式减少第三象限损耗
- 封装:VQFN 54引脚封装,尺寸12.00mm × 12.00mm
3. 电气特性
- 最大漏源电压:600V
- 漏源导通电阻(典型值):43.5mΩ(V
IN= 5V, TJ= 25°C) - 最大漏极电流:44A(RMS),96A(脉冲)
- 栅极驱动电压范围:7.5V至18V
- 最大开关频率:3.6MHz
4. 保护功能
- 过流保护:阈值电流40A至60A,响应时间<100ns
- 短路保护:阈值电流60A至90A,响应时间<100ns
- 过温保护:GaN FET过温阈值175°C,驱动器过温阈值185°C
- 欠压锁定(UVLO):VDD正向阈值电压6.5V至7.5V,负向阈值电压6.1V至6.5V
5. 温度报告
6. 理想二极管模式
- 操作模式:在关断状态下自动最小化第三象限损耗,类似最优死区控制
- 应用场景:零电压开关(ZVS)事件,如同步整流器和LLC转换器
7. 封装与尺寸
- 封装类型:VQFN 54引脚
- 尺寸:12.00mm × 12.00mm
- 热阻:结到壳(底部)平均热阻0.88°C/W
8. 推荐工作条件
- 供电电压:VDD 7.5V至18V
- 输入电压:IN 0V至18V
- 漏极RMS电流:32A
- 正源电流:LDO5V 25mA
9. 应用指南
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