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瀚海微SD NAND之SD 协议(35)ESD要求

吕辉 来源:jf_40298777 作者:jf_40298777 2024-09-30 09:51 次阅读
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放电模式:

(1)人体模式(HBM)+- 4kv。100pF/1.5Kohm 参考 JESD22-A114-D (IEC60749-26)

(2)机器模式 (MM) +-200V, 200pF/Oohm 参考JESD22-A115-A (IEC60749-27)

测试项目

触点放电:

(a) HBM测试+/-4KV,参考JESD22-A114-D 100pF/1.5kohm

(b) MM测试+/-200V参考JESD22-A115-A 200pF/0 ohm

(c) +/-2KV, +/-4KV参考IEC61000-4-2型号150pF / 330欧姆,在不接地配置下对单个触点焊片进行触点放电测试。每个接触纸极性每个电压应力水平施加五次放电。

(2)对非接触式焊盘区域的空气放电:

非接触式焊盘空气放电+/-4KV, +/-8KV, +/-15KV参考IEC61000-4-2型号150pF 330欧姆,用于非接地配置的非接触式焊盘。接触片应覆盖适当的绝缘材料,以避免放电到接触片。

(3) CE认证的空气放电测试:

SDA建议SD卡按照EN55024获得CE认证。

CE认证要求+/-8KV空气放电参考IEC61000-4-2当卡插入并在主机上通电时。

用于测试的主机应包括与主机所提供的任何电源或数据电缆的连接。

(4)耦合平面:+/-8KV参考IEC61000-4-2

测试结果要求:

(1)SD卡应按规定工作;

(2)在进行ESD测试前,SD卡应保留卡内存储的数据。


审核编辑 黄宇

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