新品发布 rBT3250-50G突发误码分析仪，支持突发和连续模式信号输出及误码测试

50G突发误码分析仪

rBT3250是专门针对下一代25G/50G无源光网络(PON)应用的光线路终端(OLT)测试新型突发误码分析仪，用于评估突发模式下的25G及50G OLT接收机性能。

rBT3250提供2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道，支持连续模式或突发模式误码分析，具有两路突发时分码型序列产生和误码分析能力，码型时序灵活可调。并针对器件测试需求，给相应测试通道提供同步的激光器使能、复位信号等低速控制通道。产品内置时钟恢复，可以自动测距，轻松应对长纤测试。

50GPON模块测试

(a)

(b)

如图a所示，搭建50G PON突发测试环境，主要由两个ONU模块和一个OLT模块组成。突发误码测试仪两个突发通道PPG时分交替发送具备突发帧结构的数据（preamble & Data）及激光器使能信号（enable），使两个ONU模块交替发送突发数据，分别经过衰减器，模拟不同长度光纤上的功率衰减，经过分光路器合成一路光，接入OLT模块。突发误码测试仪ED向OLT发送reset信号并接收突发数据，进行两路突发误码比较。

如图b所示，在双突发测试过程中，突发误码测试仪通过配置两个突发通道的突发帧长度（preamble & Data），以及衰减器的衰减量，可以充分检测OLT模块在接收不同光功率，不同突发数据长度时的性能。

产品优势

01，支持突发和连续模式信号输出及误码测试：

支持2路突发时序可配置的码型发生器通道和2路突发误码测试通道

02，突发模式支持速率：

24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps

03，支持2路同步的ONU激光器使能控制通道误码测试通道：

控制电平是LVTTL 3.3V不需外接电平转换。

04，支持2路双复位控制通道：

复位位置可调，复位宽度可调

主要应用

01，50G PON OLT模块研发及生产测试

02，突发线性TIA芯片测试：

需要验证突发信号情况下TIA(跨阻放大器)的器件的工作状态

03，对码型时序有特殊要求的一些场合

04，多通道信号输出,多路信号码型同步、时延同步

05，SDI码型或者成帧信号产生及误码探测

技术指标

码型发生指标	输出	差分,交流耦合，100Ω±10%
	输出幅度	差分，100-600mVp-p
	输出通道	突发通道（50GbpsNRZ）
		连续通道（50GbpsNRZ/PAM4)
	支持码型	支持：PRBS7，15，23，31，SSPR，自定义码型及CID码型
	上升时间 （20%~80%）	<12ps
	抖动（RMS）	<0.9ps
	码型序列	支持前导码、保护时间及负荷时序信号的产生及编辑
	CID码型	长度64-128bits可调
	时钟输出	1/2、1/4、1/8、1/16分频时钟输出
	连接器类型	2.4mm female,50Ω
	RSSI触发输出	支持RSSI触发信号脉冲宽度、重复周期、位置可调
误码探测器指标	输入类型	差分,交流耦合，100Ω±10%
	幅度	100~800mVpp
	灵敏度	＞100mV
	时钟模式	内置时钟恢复
	连接器	2.4mm female,50Ω

关于联讯

联讯仪器是国内高端测试仪器和设备供应商。主要专注于高速通信、光芯片、电芯片和第三代半导体功率芯片等测试仪表和设备的研发制造。公司可以提供包括宽带采样示波器、高速误码仪、网络流量测试仪、高精度快速波长计、精密数字源表、低泄漏矩阵开关等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE、半导体激光器CoC老化、裸Die芯片测试、硅光晶圆测试、SiC晶圆老化、SiC裸Die功率芯片KGD测试分选、WAT晶圆允收测试系统、WLR/PLR可靠性测试系统等高端测试设备。