季丰电子全自动晶圆级可靠性测试服务帮助客户提高实验验证测试效率

季丰电子最新引进晶圆接受度WAT（Wafer Accept Test）测试系统，该系统由是德科技Keysight 4082F测试机和Accretech AP3000e全自动12寸晶圆探针台所组成。

从此，季丰电子将有能力为客户提供以下两方面的测试服务：

参数测试系统总体解决方案

Keysight 4080 系列提供了丰富的测量功能，可充分满足基本参数测试的要求，轻松执行诸如 Vth、Ids、Idoff、Cox 等直流DC和电容CV测量。

4080 系列可支持SMU（源表模块）进行直流测量，另外数字电压表（DVM）和 高性能脉冲发生器SPGU 表等多种仪表选件可进一步增强测量功能。

全自动晶圆级可靠性测试服务

该机台测试能力足够覆盖多项JEP001和AEC-Q100规范标准中的晶圆验证检测项目，如HCI，NBTI，TDDB等针对半导体器件的可靠度验证测试和性能寿命评估项目。

同时，由于高低温（-50~200°C）晶圆全自动探针台的自动対针换片功能的使用，使得多片晶圆和多测试结构的测试效率较之半自动探针台均有显著提升。

另外，经Keysight正式授权，季丰电子依托自身制造能力和资源，可代为客户提供满足4070/4080系列兼容需求的探针卡的定制，由此可以帮助客户提高实验验证测试效率，缩短工艺和器件开发的时间，从而加速其产品投入市场的进程周期。

审核编辑：彭菁