季丰电子功率器件动态老化测试能力介绍

DGS & DRB

DGS & DRB是功率器件可靠性测试中的关键内容。DGS评估器件检测碳化硅功率MOSFET 的栅极开关不稳定性，DRB评估器件芯片内部结构因高dv/dt 导致的快速充电老化现象。因此，季丰电子引入业内先进设备为广大客户提供检测服务，为产品质量把关，创造共赢。

AQG324内QL-9 & QL-10 的测试参数需求

（图1）   （图2）   （图3）  

（图4）

季丰测试设备能力

动态可靠性测试系统，系统可设置频率、占空比、电压、温度等器件可靠性影响因子，在设定的影响因子作用下，实时监测每个被测器件的可靠性特征参数。

工位曲线及监控参数

 

DGS

DRB

设备照片

（注：文中图1/2/3/4均来源于《ECPE Guideline AQG 324》，如有侵权，请联系删除。）

季丰电子

季丰电子成立于2008年，是一家聚焦半导体领域，深耕集成电路检测相关的软硬件研发及技术服务的赋能型平台科技公司。公司业务分为四大板块，分别为基础实验室、软硬件开发、测试封装和仪器设备，可为芯片设计、晶圆制造、封装测试、材料装备等半导体产业链和新能源领域公司提供一站式的检测分析解决方案。

季丰电子通过国家级专精特新“小巨人”、国家高新技术企业、上海市“科技小巨人”、上海市企业技术中心、研发机构、公共服务平台等企业资质认定，通过了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等认证。公司员工超1000人，总部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地设有子公司。