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电源管理芯片自动化测试:测试流程与测试项目

纳米软件(系统集成) 来源:纳米软件(系统集成) 作者:纳米软件(系统集 2024-05-06 14:20 次阅读
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电源管理芯片作为电子产品的重要组成部分,其性能测试必不可少。通过各项指标测试,评估电源管理芯片是否符合设计规范,及其稳定性和可靠性。

可通过检测以下指标参数来评估电源芯片的性能:

输入/出电压范围、输出纹波、电压调整率、负载调整率、反馈端电压;

欠压关断及欠压恢复滞后、输入偏置电流、输出电流、输出电流限制;

启动过冲及启动延时、负载跃变电压、负载跃变恢复、效率(每路);

效率曲线、工作开关频率测试、SW占空比测试、输入输出信号相位差测试

用ATECLOUD测试平台实现电源管理芯片性能的自动化测试,需要以下测试设备:

直流电源

电子负载

示波器

万用表

ATEBOX(用于程控仪器与流程调动)

测试机柜(按需定制)

测试线缆:电源线、通讯线、测试线等

1. 在测试之前,需要将被测电源芯片、测试仪器、ATEBOX与测试PC正确连接。

2. 登录ATECLOUD测试平台,进入“方案运行”,选择已经创建好的测试方案,点击“运行”开始测试。系统通过ATEBOX程控仪器,并且会按照已经创建好的方案流程开始测试。

3. 测试过程中,系统会采集测试仪器所测的数据,并将数据、波形图实时展示在系统的测试面板中。测试结束后,系统会以Pass、Fail指标反馈测试结果,自动判别产品是否合格。

4. 测试结束后,在记录报告中查看测试详情,选择需要导出的数据和报告模板,导出测试报告。

5. 分析电源芯片的测试数据,可在数据洞察界面,用多类型图表展示数据,帮助分析、评估其性能。

ATECLOUD测试平台测试电源管理芯片性能,可以满足基本项目测试,快速分析产品性能,帮助电源芯片的优化提升。该系统支持测试数据以word、excel格式导出,可自定义报告模板。其内含的数据洞察功能可以以多种类型的图表直观展示测试数据,便于观察数据变化,为电源芯片的性能分析提供数据支持。

审核编辑 黄宇

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