LED测试不当，会发生电应力损伤：你知道这是什么原因吗？
文章来源：得捷电子DigiKey
问：LED测试时出现电应力损伤的类型和原因
有时LED可能在测试过程中损坏，而工程师却没有注意到这种情况。在测试时须特别注意不要让LED过载。
浅谈驱动芯片的绝缘安规标准
测试工程师还应注意测试过程中的电应力损伤（即电气过载）。这主要有以下三种情况：
1. 电气过载（EOS）：
EOS威胁主要归咎于处理不当和/或测试夹具设计问题；
附近雷击和设备切换造成的浪涌，会在电力和数据线路上产生严重的瞬变能量。
2. 静电放电（ESD）：
接触ESD敏感（ESDS）物品的带电物体（包括人）；
一个带电的ESDS器件以不同的电位接触地面或另一导电物体；
ESDS器件在暴露于静电场时接地。
LED厂商推荐了关于预防和管理ESD/EOS威胁的指南。IEC 61340-5和ANSI/ESD S20.20标准提供了在系统中组装LED组件时防止EOS和ESD损坏的相关指南。
3. 方向极化：
大多数LED可在正向偏压下发光，且通常不会在反向偏压下工作。LED由一个P-N结组成，如果高压浪涌以相反的方向通过器件，该P-N结可能会因电流过大而被破坏。
LED厂商通常建议在安装LED之前先使用齐纳二极管来进行系统测试。
审核编辑 黄宇
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