ATECLOUD芯片测试系统如何对芯片静态功耗进行测试？

静态功耗也叫静态电流，是指芯片在静止状态下的电流或者是指芯片在不受外界因素影响下自身所消耗的电流。静态功耗是衡量芯片功耗与效率地重要指标。

传统手动测试静态功耗只需在芯片的输入端串上一台万用表，然后对芯片各个端口添加合适的电压即可测量出芯片的静态电流，整个流程十分简单，但是芯片的制作工艺极为复杂多样，同时芯片规格也千变万化，因此手动测试在面对多批次、多规格的芯片测试时难免顾此失彼。很难保证测试的高效性和数据的准确性。所以芯片测试系统的使用就可以很明显的避免这个问题。芯片的制作工艺极为复杂多样，同时芯片规格也千变万化，因此手动测试在面对多批次、多规格的芯片测试时难免顾此失彼。

而纳米软件的ATECLOIUD芯片测试系统，测试静态功耗只需先手动连接线路，然后在测试系统中根据测试步骤搭建对应的工步，然后运行软件可以完成整个测试，搭建过程只需2分钟，而测试过程只需几秒即可得出测试出结果，非常适用于大批量芯片测试，一次接线后就无需再次手动变更参数、更换线路，系统可自动完成参数配置、数据测量、数据读取以及数据储存，同时可以将数据结果一键导出数据报告，极大的提升测试效率，避免出现数据错漏，提高测试准确性。

ATECLOUD芯片测试系统

虽然静态功耗手动测试也十分迅速，但是相对芯片自动测试系统来说，系统的优势也相当明显，除了测试效率性、数据准确性，芯片测试系统还有大数据分析功能，系统中的数据洞察模块，可以对采集到的数据进行整体分析和整理，可以将所有数据以折线图或柱状图等形势集中展示，为企业的发展和决策方向提供数据支持。
审核编辑 黄宇