随着芯片进入汽车,云计算和工业物联网的市场,IC的可靠性也成为开发人员关注的点,事实也证明,随着时间推移,芯片想要达到目标的功能也会变得越来越难实现。
在过去那些专为手机和电脑设计的芯片可以在高性能下正常使用2年到四年,两年到四年后,芯片功能开始下降。
但是随着芯片投入到新的市场和过去不太成熟的电子产品市场,这将不再是个简单的问题。
每个终端市场都具有独特的需求,对于IC的使用方法和条件也不相同。而芯片的使用方法和条件对老化安全等问题,产生更大影响。影响芯片的质量因素相比之前更多。
芯片由始至终都在运行,IC内部的模块也在一直加热,这就导致了老化加速,或许这会带来各种未知的问题。
所以芯片设计公司都会在芯片出厂前进行芯片加速老化测试(HAST)从而筛选测试更好的良片投放市场。
凯智通芯片HAST老化测试座的特点
1、采用开模Socket+探针的结构,精度高,测试稳定,同时大大降低设计、加工成本,降低了使用费用;
2、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对IC进行有锡球无锡球不同测试;
3、外带散热片解决高功率元器件散热问题;
4、安装方便,无需焊接,有Open-top/翻盖结构,适合手动/自动操作;
5、交期快,最快1天交货,提高使用效率;
规格:
1、材料:PES/LCP/PPS
2、适用IC尺寸:≤ 36x36mm
3、适用间距: ≥ 0.35mm
4、结构:Open-top/翻盖
5、接触方式:探针
6、工作温度:-55°C~+200°C
审核编辑 黄宇
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