TEM小室法应用在集成电路制造的电磁兼容测试

集成电路（IC）的电磁兼容性，是衡量IC器件在预定电磁环境下工作时是否会对其他器件的工作产生骚扰，同时自身性能是否会受到其他器件所骚扰的一个重要指标。

对于集成电路来说，这个指标的提出是电子产品电磁环境高可靠设计的需求，同时也是芯片集成度日益增高时电磁环境可靠性问题越来越突出以致直接关系到芯片性能的结果。

集成电路的电磁兼容性测试在国内属于一个相对较新的领域，在IEC61967提到了用TEM小室法对集成电路的电磁发射情况进行测试。

在IEC62132则提到了用TEM小室法用于测量电磁辐射抗扰度的测试。

TEM小室法是非常适用于集成电路制造商评估芯片管芯的设计以及封装对电磁辐射发射的影响。

HTM-80HA将工作频率范围允许对集成电路进行8GHz的发射和抗扰度测试。IC安装在一个测试夹具上，该夹具用螺栓固定到位。

用户只要制作好专门的测试板，一旦安装，可根据IEC 61967-2和-8、SAE 1752-3和IEC 62132-8在8GHz下进行测量，并且实现可重复性的测试，极大的节省了测试成本。

我司最新推出的TEM小室可以用来测量来自被测件EUT或集成电路PCB的辐射敏感度和传导抗扰度的试验，其频率可以达到8GHz。其驻波比可以到达1.25，传输衰减比小于0.3dB。

深圳市华瑞高电子技术有限公司，是一家专业致力于为客户提供优质且性价比高的电磁兼容抗扰度校准装置，屏蔽效能测试系统和电磁兼容测试的研发生产性企业。