加热测试散热片性能测试所应用的直流电源
散热片是一种给电器中的易发热电子元件散热的装置，一般散热片在使用中要在电子元件与散热片接触面涂上一层导热硅脂，使元器件发出的热量更有效地传导到散热片上，再经散热片散发到周围空气中去。散热片未经调试投入使用容易产生安全隐患，因此出厂前必须经过产品测试环节。
测试要求
测试条件：常温常压
1、将仪器连接好，并将散热片贴上散热膏后安装在恒温平台上，打开测试直流电源（输电源主要由上位机控制，上位机设置功率数值，加热时间以及数据实时采集，此时电源主要用于恒功率加热的作用。
2、调节至需要电压值，例如客户要求测试的散热片产品功率15W，则在上位机软件设定功率15W，设定输出电压30V，限流1A；新增产品功率35W ，则在上位机软件设定功率35W，设定输出电压30V，限流1.2A。
3、由于散热片内阻太大，功率要达到35W，经计算，电压最低在47V，功率能达到35W。能够应用在不同类型的散热片上，一机多用；且提供多种通讯接口，方便客户远程控制。
4、客户测试时需要电源上机架使用，因此对机身尺寸有要求
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。
举报投诉
-
散热器
+关注
关注
2文章
1143浏览量
39792 -
直流电源
+关注
关注
9文章
1466浏览量
56139
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
如何实现可编程直流电源的脉冲输出模式
随着电子技术的不断发展，可编程直流电源已广泛应用于科研、工业测试和自动化生产等领域。其中，脉冲输出模式因其能够模拟瞬态负载、进行动态响应测试等特殊功能，成为许多高精度应用场景中的关键需求。那么，如何实现可编程
如何校准可编程直流电源的精度
可编程直流电源作为电子测试与研发中的核心设备，其输出电压与电流的精度直接影响实验结果的可靠性。为确保电源长期稳定、精准工作，定期进行校准至关重要。校准不仅可修正因元器件老化、温漂等因素引起的误差，还能有效提升系统的整体测量精度。
可编程直流电源如何连接电脑
可编程直流电源作为现代电子测试与自动化系统中的核心设备，具备高精度、高稳定性的特点，广泛应用于实验室研发、产品老化测试及自动化产线中。其强大功能的实现，离不开与电脑的高效连接与远程控制。通过电脑连接
安捷伦E3640A直流电源：可靠稳定的基础供电解决方案
在电子电路研发、生产线测试及实验室日常供电中，稳定、可靠的直流电源是确保设备正常工作与测试准确性的基础。 安捷伦（Agilent，现为是德科技Keysight）E3640A系列单路输出直流电源
电机测试用直流电源有什么要求
电机测试用直流电源与普通的实验室电源或充电电源有很大不同，因为它需要模拟真实的工作条件并满足电机这种特殊负载（感性、反电动势、大电流变化）的需求。
温升测试交直流电源
温升测试交直流电源是面向电气触点、母线排、继电器、断路器、线缆等器件的温升验证设备，核心特性是长期恒流 / 恒压稳定输出、低纹波、高精度采样、多模式适配，可满足 GB/T 14048、IEC 60947、UL 1977 等标准的交直流
交流电源输出直流，响应速度比直流电源更快？
本文导读在高压直流供电测试中，很多用户存在疑问：同为开关型电源，为什么交直流电源输出直流时的动态响应时间，反而比纯
函数发生器和直流电源结合如何显著提升测试效率
函数发生器和直流电源是电子测试领域中不可或缺的两大工具。但您是否曾想过，将这两者结合使用能带来怎样的出色效果？今天，我们将深入探讨这一强大组合如何显著提升测试效率，并为工程师带来前所未有的测试
吉事励双向直流电源：高精度测试与节能回馈的完美融合
）有限公司凭借从日本、台湾引进的精英技术团队与多年行业积淀，推出的高精度双向直流电源系列，成功打破了这一局面。 一、核心优势：四大技术突破，重新定义测试标准 吉事励双向直流电源并非简单功能叠加，而是从拓扑结构到控制算
超导磁体测试的关键技术：费思低压大电流可编程直流电源在超导材料性能测试中的应用
费思FTG超大功率可编程直流电源单机电流最大可达到20000A，功率最大为600kw，能够满足超导磁体测试对电流的需求
艾德克斯IT6018C/IT6000C系列直流电源在高压直流继电器测试中的应用
艾德克斯IT6000C系列直流电源电压可达2250V，最大电流可达2040A，功率最大可扩展至1.152MW，特别适合新能源领域直流测试需求。
双向直流电源与直流电源的区别？
一、本质区别：能量流向与工作模式 单向直流电源 ： 能量流向 ：仅支持单向能量传输（从电网到设备），输出电能供负载使用。 工作模式 ：单一电源模式，支持恒压（CV）或恒流（CC）输出。 能效缺陷
三通道可编程双向直流电源测试方案
每位测试工程师都可能面临这样的常见挑战：生产需求超出了测试系统的能力，或需要同时测试更多参数。以往，这通常意味着需要构建更多测试系统并配备更多测试
评论