汽车电子大电流注入(BCI)测试案例

SO 11452 是一套国际标准和指南，用于测试汽车电子元器件ESA对来自车外界的窄带辐射电磁骚扰的抗扰度。 该标准涵盖乘用车和商用车，适用于汽油车、柴油车和电动车。

广州 汽车电子大电流注入(BCI)测试

ISO 11452 由以下部分组成

ISO 11452-1 | General principles & terminology

ISO 11452-2 | Absorber-lined shielded enclosure

ISO 11452-3 | Transverse electromagnetic (TEM) cell

ISO 11452-4 | Harness excitation methods

ISO 11452-5 | Stripline

ISO 11452-7 | Direct radio frequency (RF) power injection

ISO 11452-8 | Immunity to magnetic fields

ISO 11452-9 | Portable transmitters

ISO 11452-10 | Immunity to conducted disturbances in the extended audio frequency range

ISO 11452-11 | Reverberation chamber

目前最新的BCI测试，所谓的大电流注入测试，标准是ISO 11452-4:2020，也就是这个标准的第5版。这个标准里面，其实有两种方法，

一种是BCI法，BCI测试100kHz-400MHz

一种是TWC法，TWC测试400MHz-3GHz

汽车电子大电流注入(BCI)测试概述

BCI（Bulk current injection）属于

emc测试

，是机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法。大电流注入测试（Bulk current injection，简称 BCI）考虑的是汽车电子设备在连续窄带射频电磁场干扰下的抗干扰能力，主要以电流探头作为耦合设备，通过信号产生装置将干扰信号耦合到EUT连接的线缆上（包括电源线，控制线等）。

待测产品EUT通过线束与辅助设备连接，线束长度1700mm（替代法），1000mm（闭环法），电流探头在线束的不同位置注入射频干扰信号（如替代法：15cm/45cm/75cm，闭环法90cm监控探头5cm），观察EUT的性能是否有降低，给出测试结果。

BCI测试系统要求在屏蔽室内完成，信号源输出RF信号给功放，功放将信号放大后直接输出给电流注入探头，通过专业的测试软件，可控制系统自动完成替代法与闭环法的测试，测试频率范围100kHZ-400MHz，可实现 200mA或300mA 闭环法的测试能力，软件自动保存测试结果，打印输出测试报告。

目前ISO11452-4标准已经扩展测试频率到3GHZ，400M-3GHz频段是采用TWC测试法

TWC = Tubular wave Coupler

在11452-4中测试方法

替代法：150±10mm、450±10mm和750±10mm；

闭环法：900±10mm，监视探头与EUT的距离是50±10mm，替代法中监测探头可有可无；

TWC法：100±10mm,50Ω的负载离管状波耦合器至少200mm。

符合标准

满足ISO11452-4，FMC1278（Ford standard）, GMW3097（GM standard）, SMTC 3 800 006(上汽)，Q/JLY J7110779B-2014（GEELY）, GS 95002（BMW）等标准要求。

测试细节

在测定过程中，可以任意调动频率点或自由选择频率点进行测试(可以任意拖动光标至指定的频率点)系统能够实时监控前向功率和反向功率以实现保证系统及人身安全 当系统监测到输出的前向功率超过系统校准时的某一人设定值时，系统自动提示或渐停可以限制信号源输出，保护BCI探头注入设备不受过大输入信号:

可以自动比较不同时间段BCI探头校准因子的变化以达到观察系统稳定性的目的;

软件兼容以下标准:ISO11452-4,1S011452-8,IEC61000-4-6等，测试过程全自动，同时也支持人工控制的单频点测试软件兼容ISO11452-4 中的电流注入法(100k-400MHZ)和TWC测试法(400M-3GHz):支持AM/FM/PM调制方式的自动检波测量。

3种测量模式:

步进频率扫描:

指定频率点扫描 (不限制数量)

步进频率+指定频率点扫描 (对应不同标准) ;

BCI测试结果性能判据

Class A: EUT功能或性能一直保持正常，无任何异常现象。

Class B: 所有功能或性能在干扰状态下，一个或者多个功能或者性能偏移指定的容差，但所有功能或性能在干扰移除以后能恢复到规定的容差限值以内。并且存储数据不能有任何异常现象。

Class C: 一个或者多个功能或性能暂丧失，但在施加干扰之后EUT能自动恢复到正常模式。

Class D: 一个或者多个功能或性能暂丧失，但在施加干扰之后通过人为的干预能自动恢复到正常模式。

Class E: 一个或者多个功能或性能暂丧失，并且不能自动恢复到正常模式。

审核编辑黄宇