DS31256的内部测试寄存器
本应用笔记列出了DS31256 HDLC控制器的内部测试寄存器，并解释了用户应避免使用这些寄存器的原因。
概述
DS31256 HDLC控制器有一些寄存器仅供内部测试使用（见表1）。用户应避免使用它们。
| 地址 （h） | 值 （h） |
| 0050（测试寄存器） | 0000 |
| 04F0 至 04FF | 0000 |
| 07FD 至 07FF | 0000 |
| 08FD 至 08FF | 0000 |
| 09F8 至 09FF | 0000 |
DS31256中的所有测试寄存器均为16位，在硬件或软件复位时设置为0。数据手册中仅显示地址为0050的测试寄存器的说明。所有其他测试寄存器均为隐藏寄存器，仅用于内部测试（数据手册中未显示）。
| 偏移量/地址 | 缩写 | 注册名称 | 数据表部分 |
| 0050 | 测试 | 测试寄存器 | 5.4 |
工厂测试（FT）模式使用测试寄存器位0将DS31256置于测试模式。对于正常的设备操作，每当写入此寄存器时，此位应设置为 0。设置此位会将 RAM 置于低功耗待机模式。
位 1 至 15 仅供内部（达拉斯半导体）测试使用，不供用户测试模式控制使用。这些位的值应始终为 0。如果这些位中的任何一个设置为 1，则设备无法正常工作。
结论
本应用笔记列出了DS31256的内部测试寄存器，并解释了用户应避免使用这些寄存器的原因。
审核编辑：郭婷
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