同惠TH2851阻抗分析仪性能特点

性能特点

■ 测试频率：10Hz-130MHz

■ 高精度：采用自动平衡电桥技术，四端对测试配置

■ 高稳定性和一致性

■ 高速度：最快达2.5ms的测试速度

■ 高分辨：10.1英寸电容式触摸屏，分辨率1280*800

■ 点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种测试方式

■ 1601点多参数列表扫描功能

■ 四参数测量

■ 自动电平控制（ALC）功能

■ 4通道图形扫描功能，每通道可显示4条曲线，通道和曲线有

14种分屏显示方式

■ 强大的分选：LCR模式10档分选

■ 图形扫描模式每条曲线单独分选

■ 高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、

E4980A、E4980AL、HP4284A

简介

TH2851系列阻抗分析仪彻底颠覆了传统国产仪器复杂繁琐的操作界面，基于Windows10操作系统，实现了全电脑化操作界面，让测试更智能、更简便。

TH2851系列阻抗分析仪也彻底超越了国外同类仪器120MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。

快达2.5ms的测试速度、及高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。

A.高精度

自动平衡电桥技术的应用，得以在10Hz-130MHz频率、1mΩ-100M的阻抗范围内都能达到理想的测量精度，其中最高精度达0.08%，远远高于射频反射测量法的阻抗分析仪、网络分析仪的精度。

B.高稳定性和高一致性

下图是在速度5、测试频率1MHz，测量100Ω电阻的曲线，由下图可见其轨迹噪声≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C.高速度

D.10.1寸大屏，四种测量参数，让细节一览无遗

10.1寸触摸屏、1280*800分辨率，Windows10系统、中英文操作界面，支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口，带来的是无以伦比的操作便捷性。

大屏幕带来更多的好处是，可以把所有测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕，而且看起来绝不拥挤和杂乱，同时可以显示四种测量参数，四种测量参数任意可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数

E.增强的列表扫描功能

可以最多设置1601点的列表扫描，每个点可以单独设置测试频率、测试电压、直流偏置等测试条件。

F.强大的分析图形界面

最多通道可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有十四种分屏显示方法

G.分段扫描功能

最多可以4通道同时显示，每个通道可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有十四种分屏显示方法。分段扫描是在一个扫描周期内，设置不同的频率分段进行扫描，扫描时可设置不同的电平及偏置，扫描结果直接图形显示，用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。

如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率，通过分段扫描共呢个可在特定频率范围内扫描测量，无需扫描不相关频率。

H.强大的光标分析能力

TH2851系列精密阻抗分析仪具有强大的光标分析能力，可以通过光标实现如下功能：

1. 读取测量结果的数值（作为绝对数值或者相对于参考点的相对值）

2. 查找曲线上的特定点（光标查找）

3. 分析曲线测量结果，计算统计数据

4. 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放

TH2851 可以在每条曲线上显示 10 个光标，包括了参考光标。

每个光标有一个激励值（坐标系 X 轴对应的数值）和响应值（坐标系 Y 轴对应的数值）。

光标查找功能允许搜索下列条件测量点：最大值、最小值

峰谷值： 峰值（极大值）、谷值（极小值）、光标左侧最近的峰谷值、光标右侧最近的峰谷值、多重峰谷值

目标值： 距离光标最近的目标值、光标左侧最近的目标值、光标右侧最近的目标值、多重目标值

G.强大的图形分析功能

1） 曲线分选功能

可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断，常用于谐振曲线刷选如压电元件等谐振频率筛选。

2）等效电路分析测试

现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件，等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。

可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲线进行对比，还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。

等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用

3） 晶体振荡器分析

对压电陶瓷等晶体进行测量以及性能分析，测量计算后获取晶体的谐振频率、反谐振频率、品质因数等重要参数。

4） 曲线轨迹对比

曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量，所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用：

a) 针对多种不同被测件

对比不同测量条件下的曲线轨迹

设置不同的频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值

b) 针对同一个被测件

对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性

设置不同频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值。

F.标配附件

F.选配附件

应用

■ 无源元件：

电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

■ 半导体元件：

LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

■ 其它元件：

印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估

■ 介质材料：

塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

■ 磁性材料：

铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

■ 半导体材料：

半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

■ 液晶单元：

介电常数、弹性常数等C-V特性

审核编辑 黄昊宇