是德科技推出新一代高性能的PXI模块化测试平台

SMU 源测量单元的概念始创于上个世纪50年代，随着半导体工业的元器件以及各式新颖材料的开发。直到今天SMU (源测量单元)依旧是半导体分立元器件以及各类新颖材料I-V测量的常见工具。例如大家熟知的二极管、三极管、精密电阻等分立器件，以及超导材料、纳米材料、各类半导体材料、铁电材料、压电材料不一一赘述。

时至今日，以宽禁带半导体、量子计算、VCSEL、硅光技术、脑机接口、忆阻器为代表的新技术，持续推动元器件性能的提升，但同时也给测试和测量带来了新的挑战。用户不再仅仅考虑I-V 测试， C-V 测试，脉冲测试类的传统测试项目，而是向着高压、高流、高频、高通道密度的方向继续快速发展，传统仪表从满足技术要求或是预算的上限上看都开始显得越发的吃力。

基于上述考虑，是德科技为用户设计推出了新一代高性能的PXI模块化测试平台，这个平台具有极高的灵活性，PXI的卡槽也为后续的扩展和性能升级留出了物理空间。在提升SMU密度，降低单个输出通道的成本方面具备无与伦比的优势。

不仅如此，PXI模块化平台不仅仅只有SMU模块，还提供用户常用的DMM数字化模块、示波器模块、射频仪器模块等等常见的PXI板卡式的测试仪器，为用户构建不同类型的测试系统提供了极大的便利。

以VCSEL为例：VCSEL从诞生起，是作为新一代光存储和光通信应用的核心器件，应用在光并行处理、光识别、光互联系统、光存储等领域。

随着工艺、材料技术改进和VCSEL技术的成熟，VCSEL元器件在功耗、制造成本、集成、散热等领域的优势开始显现，以其作为核心元件的光学感测技术进入了行业应用，同时已在激光打印机、光学鼠标、汽车激光雷达(LiDAR)、辅助驾驶、气体传感器、活体检测、虹膜识别、AR/VR、机器人视觉、医疗美容等领域得以初探，并逐渐应用于工业加热、环境监测、医疗设备等商业级应用以及3D感知、ToF镜头等消费级应用。

我们今天将使用B2900源表与新一代PXI SMU 源表模块做一个简单的对比操作分析，还不会使用源表的小伙伴抓紧学起来…

原文标题：【6月15日】带你了解了解多通道高密度的PXI SMU解决方案

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审核编辑：汤梓红