PCIe Gen 4/5协议故障注入

随着PCIe Gen 4和Gen 5的项目开发越来越多，很多公司希望在PCIe链路层注入故障来模拟针对主板/背板一侧，或者外设一侧（如插卡，NVMe SSD等）的各种异常，业内主流的CPU厂商例如Intel和AMD， 以及PCIe Switch厂商Broadcom， Microchip目前都在使用英国Quarch的PCIe Gen 5 x16的测试卡实现针对Gen 5的测试。

Quarch公司提供针对PCIe Gen 4和Gen 5各种接口的测试插卡和模块，包括U.2， U.3， M.2， AIC （x8和x16），EDSFF L1.S （x4） / L1.L （x8），以及各类PCIe Cable的测试模块等，满足用户测试的各种需求。当然，除了针对NVMe SSD的各种模块之外，传统的针对24G/12G/6G SAS和6G SATA也提供相应的测试模块。

下面的功能概览适用于上述所有各种PCIe接口，工程师可以根据需要通过GUI或者Phyton API脚本对于主板/背板端，或者外设（插卡，NVMe SSD）端进行测试。

模拟在任意针脚上注入信号毛刺，进行物理层/协议层故障注入

可以设置信号毛刺的多少，注入一次毛刺，还是持续加毛刺，间隔时间多长等

信号毛刺的高低，疏密，持续的时间长短

通过调整信号毛刺参数实现针对PCIe协议的故障注入，如bit error，CRC error等。

模拟盘的热插拔

模拟盘热插拔过程中导致的pin bounce时断时通等接触不好的情况

模拟某些针脚断掉

模拟某些针脚长通

模拟某个Lane中的某些差分信号有毛刺，或者某个Lane不通

模拟非常快速的插拔（通/断）测试

电压拉偏和功耗测试是测试SSD的基本测试项，包括PCIe/NVMe SSD和传统的SAS/SATA HDD/SSD。其中，电压拉偏测试主要是保证SSD在接入不同厂商设计的主板/背板时候如果其输出电源和标准有偏离，那么SSD是否还可以正常稳定的工作，该测试电压拉偏的设置最低允许工程师以1us作为粒度调整电压。功耗测试是找出SSD在不同的业务负载等情况下的电压/电流/功耗的情况，Quarch可编程电源支持最大250K采样率，可以实现非常精细的电压/电流/功耗计量，在最小采样率7Hz设置的时候其内部记录buffer可以实现24小时以上的持续记录，记录的数据可以通过GUI界面分析，其Test Monkey图形化软件允许用户放大/缩小插卡分析局部细节，同时也自动自动计算出电压/电流/功耗的最大/最小/平均值，另外软件也允许用户将记录的数据导出成.csv作离线进一步分析。

责任编辑：haq