SpaceX飞船Starship原型SN1在压力测试出现壳体破裂
本周五，SpaceX的Starship（星船）原型SN1在压力测试中失败，壳体破裂并重重砸向地面，现场有着轰轰隆隆的爆裂声。
据此，此次液氮压力测试在美国德克萨斯州Boca Chica进行。
Starship是埃隆马斯克SpaceX公司2016年提出的垂直发射与着陆飞船系统，其用于载人绕月飞行观光。这套由航天器和助推器组成的118米高“怪物”，借助重型火箭，单次可运送100人到达月球。
Starship的首位客户是日本富商Yusaku Maezawa（前泽友作），预计2023年进行此次月球之旅。
去年9月，全尺寸Starship原型MK1在低温测试中爆炸。不过，马斯克已经表示，SN原型验证器至少要经过20次改版才能达成 Starship V1.0。
图为资料图
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。
举报投诉
-
SpaceX
+关注
关注
1文章
522浏览量
31604
发布评论请先 登录
相关推荐
热点推荐
SN54BCT8240A和SN74BCT8240A扫描测试设备详解
SN54BCT8240A和SN74BCT8240A扫描测试设备详解 在电子设备的设计和测试过程中，高效准确的
SN54ABT8652与SN74ABT8652扫描测试设备：功能特性与应用解析
SN54ABT8652与SN74ABT8652扫描测试设备：功能特性与应用解析 在电子设计领域，测试设备的性能和功能对于确保电路的可靠性和稳
深入剖析SN54ABT8652与SN74ABT8652扫描测试设备
深入剖析SN54ABT8652与SN74ABT8652扫描测试设备 在电子设计领域，测试设备的性能和功能对于确保电路的稳定性和可靠性至关重要
深入解析SN54ABT8646和SN74ABT8646扫描测试设备
深入解析SN54ABT8646和SN74ABT8646扫描测试设备 在电子设计领域，测试设备对于确保电路的可靠性和性能至关重要。今天我们要深
SN54ABT8543与SN74ABT8543扫描测试设备：设计与应用深度解析
SN54ABT8543与SN74ABT8543扫描测试设备：设计与应用深度解析 在电子设计领域，测试设备的性能与功能对于确保电路的稳定性和可
深入解析SN54ABT8543与SN74ABT8543扫描测试设备
深入解析SN54ABT8543与SN74ABT8543扫描测试设备 在电子设计领域，测试设备的性能和功能对于确保电路的可靠性和稳定性至关重要
深入解析SN54ABT18640与SN74ABT18640扫描测试设备
深入解析SN54ABT18640与SN74ABT18640扫描测试设备 在电子设计领域，测试设备对于确保电路的可靠性和性能至关重要。今天，我
MCIMX6Y2CVM05AB LvDDR3在压力测试中，当DDR3速度达到432MHz时出现报错，为什么？
我们使用的是MCIMX6Y2CVM05AB LvDDR3 （MT41K256M16TW-107）。在压力测试中，当DDR3速度达到432MHz时，出现以下错误：
DDR 频率：432
发表于 04-17 08:01
深入解析SN54ABT8646和SN74ABT8646扫描测试设备
深入解析SN54ABT8646和SN74ABT8646扫描测试设备 在电子设计领域，测试设备的性能和功能对于确保电路的可靠性和稳定性至关重要
德州仪器 SN54ACT8990 与 SN74ACT8990 测试总线控制器深度解析
德州仪器 SN54ACT8990 与 SN74ACT8990 测试总线控制器深度解析 在电子设备的测试与验证环节，
SN54BCT8245A和SN74BCT8245A扫描测试器件：助力复杂电路测试的利器
SN54BCT8245A和SN74BCT8245A扫描测试器件：助力复杂电路测试的利器 在电子设计领域，对于复杂电路板组件的
深入解析 SN54ABT8543 与 SN74ABT8543 扫描测试设备
深入解析 SN54ABT8543 与 SN74ABT8543 扫描测试设备 在电子设计领域，测试设备对于确保电路的可靠性和性能至关重要。今天
激光焊接技术在焊接微波组件壳体工艺中的应用
激光焊接技术在微波组件壳体制造中扮演着关键角色，其高精度与非接触的加工特性显著提升了产品的气密性与可靠性。随着电子设备向微型化与高性能化发展，微波组件壳体的封装要求日益严格，激光焊接技术因其局部加热
系统压力测试出现问题的原因和解决方法
系统压力测试发现的问题通常都比较复杂，作者最近解决了一个有意思的系统稳定性问题，也想请各位读者一起思考下，想想问题的原因是什么。
系统压力测试出现的问题要如何解决
答案揭晓之前，请容作者聊个闲篇，讲讲一个叫做科学方法的东西，看下怎么运用科学方法解决问题。 当我们发现I2S DMA不工作时，并且发现了I2S帧错误，会有一个假说，I2S帧错误导致DMA异常。假说是对一个问题作出的试探性解答，对一组观察结果提出的解释。作为工程师，我们不会假设超自然的力量作为DMA不工作的原因，但很多时，我们把一个很像结论的假说用脑补的方式作为问题的结论，而不进行实验验证。 回归正题，上次讲到我们尝试通过I2S0 F
评论